【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片检测，具体为一种芯片检测设备及检测方法。
技术介绍
1、芯片又称集成电路芯片，是电子器件的一种，它是由大规模集成电路技术制造而成的电路片，上面集成了非常多的电子元件，如晶体管、电容器、电阻器、二极管等，用于完成特定的功能。
2、目前，芯片作为现代电子设备的核心部件，广泛应用于计算机、手机、电视、汽车、家电等各个领域，因此为保证芯片关联设备稳定且顺利运行，对于芯片生产质量的把控程度也在进一步提升，且为降低检测人员的劳动强度和操作难度，相关领域的研究人员公开了针对芯片的检测装置，如申请号为202223598303.7的授权专利，其提出“本技术提供的一种芯片检测器，具备以下有益效果：利用座体上开设的安装槽和插接孔，可直接将芯片通过插接孔安装于安装槽内，而检测针固定连接于座体上，连接针通过柔性电缆与检测针相连接，可将连接针插接于不同的插接孔内与芯片的不同针脚相接触，以使可从检测针上测得芯片不同针脚的好坏情况，利用连接针可插接于不同插接孔内便于快速更换连接针与针脚接触的孔位，便于连接针的快速拆卸和更换，提高对芯片的检测效率”。
3、从公开的
技术实现思路
来看，上述的现有技术能实现对芯片针脚的基本检测，但是进一步分析检测过程的话，我们不难看出，检测过程中需手动往复调节，检测结果需额外的现有设备辅助才能得知，繁琐且麻烦，不利于提升检测效率。
技术实现思路
1、(一)解决的技术问题
2、本专利技术提供了一种芯片检测设备及检测方法，解决了上述
技术介绍
中
3、(二)技术方案
4、本专利技术提供如下技术方案：一种芯片检测设备，包括检测机架、待检芯片，所述待检芯片的两侧均设置有若干个等距的针脚，所述检测机架的顶部设置有第一半开放套座、丝杠传动机构、检测仪，所述丝杠传动机构的输出结构与第一半开放套座的底部传动连接，且丝杠传动机构的前端结构传动连接有第一抱闸伺服电机，所述第一半开放套座的后端套装有弹性夹持部件，且弹性夹持部件的顶部结构与第一半开放套座的顶面组合形成前端让位的半开放夹持空间，所述待检芯片放置在半开放夹持空间中进行定位安装，所述待检芯片两侧上的针脚均与第一半开放套座的顶部活动套接，且针脚的一端延伸至第一半开放套座的外侧；
5、所述检测机架的顶部安装有套装在第一半开放套座外侧的检测支撑架，所述检测支撑架顶部的两侧均套装有检测方向朝下的检测探针组件，两个所述检测探针组件通过导线与检测仪电性连接，所述检测支撑架顶部的两侧内均活动套接有双斜面压块，两个所述双斜面压块的一端均传动连接有电动推杆，且双斜面压块能够在对应的电动推杆直线传动下向对应的检测探针组件顶部施压，使检测探针组件能够与对应的针脚接触贴合连接；
6、所述待检芯片两侧的针脚底部均设置有锥形箱，所述锥形箱内放置染料和活动套接有半圆柱顶块，所述半圆柱顶块的一端延伸出锥形箱顶部并传动连接有第二抱闸伺服电机。
7、精选的，所述检测机架顶部设置有导向架，所述导向架包括导向杆体以及导向杆体两端固定连接的倒u形架，两个所述倒u形架的底部均固定连接在检测机架的顶部，所述导向杆体的中部卡接在第一半开放套座底部的内侧，所述检测仪采用万能表装置。
8、精选的，所述丝杠传动机构包括丝杠、螺母、联动套板、伞齿轮箱，所述螺母的内侧螺纹连接在丝杠的表面上，所述丝杠的两端均套装有轴承，所述轴承采用轴承座安装在检测机架的顶部，所述丝杠一端的端头与伞齿轮箱的输出端传动连接，且伞齿轮箱的壳体表面与检测机架的顶部之间安装有支撑座。
9、精选的，所述螺母的一端与联动套板的底部固定连接，且螺母与联动套板形成的组合件作为丝杠传动机构的输出结构与第一半开放套座底部的传动连接，所述第一抱闸伺服电机的输出端贯穿检测机架顶部结构并与伞齿轮箱的输入端传动连接，且第一抱闸伺服电机的壳体表面与检测机架顶部内壁之间安装有固定座。
10、精选的，所述检测探针组件由探针本体、检测复位弹簧组成，所述探针本体的顶部为t型结构并卡接在检测支撑架顶部结构内，所述检测复位弹簧的两端分别固定连接在检测支撑架顶部结构表面上和探针本体顶部表面上。
11、精选的，所述弹性夹持部件包括联动杆、夹持压板、磁吸限位板以及夹持弹簧，所述联动杆的中部卡接在第一半开放套座后端的内侧，所述夹持压板位于第一半开放套座的顶部，所述磁吸限位板位于第一半开放套座的底部，且夹持压板的一端与磁吸限位板的一端分别与联动杆的两端固定连接，所述夹持弹簧的两端分别固定连接在夹持压板的底部和第一半开放套座后端的顶部。
12、精选的，所述磁吸部件由电磁吸盘以及电磁吸盘表面上固定连接的支架组成，所述支架的顶部固定连接在第一半开放套座的底面上，所述电磁吸盘的磁吸面能够与磁吸限位板的表面磁吸连接。
13、精选的，所述检测支撑架的顶部两侧均套装有检测方向朝上的检测探针组件，且检测方向朝上的两个检测探针组件也通过导线与检测仪电性连接，所述检测机架顶部的后端连接有辅助支架，所述辅助支架的顶部套装有与第一半开放套座同结构的第二半开放套座，所述第二半开放套座内也套装有弹性夹持部件并与弹性夹持部件组合形成组前端让位的半开放对照空间，所述半开放对照空间内套装有标准芯片，所述标准芯片的两侧均设置有若干个等距的对照引脚，所述对照引脚的一端能够与对应且检测方向朝上的检测探针组件顶部接触贴合连接。
14、精选的，所述锥形箱的底部连接有过渡阀管，且锥形箱的表面与检测机架的顶部之间固定安装有辅助支板，所述过渡阀管的底部连接有与自身空间相通的橡胶球，所述锥形箱顶部的内壁上连接有与半圆柱顶块表面接触且处于倾斜状态的刮板，所述刮板的底部开设有与锥形箱内部空间相通的让位槽，所述探针本体检测端头为平板状结构。
15、一种芯片检测设备的检测方法，包括以下操作步骤：
16、s1、将待检测的待检芯片放置在半开放夹持空间内部，而在套装过程中，弹性夹持部件内部的夹持压板、联动杆、磁吸限位板将同步移动让位，且夹持弹簧受压变形，待待检芯片安装稳定后，启动磁吸部件内部的电磁吸盘，使电磁吸盘对磁吸限位板进行磁吸限位，对待检芯片进行夹持定位；
17、s2、启动第一抱闸伺服电机，第一抱闸伺服电机通过伞齿轮箱带动丝杠同步旋转，继而利用丝杠与螺母的啮合传动，使螺母通过联动套板带动第一半开放套座以及第一半开放套座内限位套装的待检芯片进行自动位移调节，直至待检芯片两侧上的一组针脚与检测方向朝下的两个检测探针组件底部对齐；
18、s3、启动两个电动推杆，使两个电动推杆的输出端带动各自对应的双斜面压块进行自动直线移动，继而利用两个双斜面压块底部的斜面结构分别顶压两个检测探针组件内部的探针本体，直至探针本体的底部与对应的针脚一端接触贴合，与此同时，检测复位弹簧同步受压变形；
19、s4、启动检测仪，继而利用两个检测探针组件对待检芯片两侧上的两个针脚的通电情况进行自动检测，当通电正常时，说明检测的两个针脚处于正常状态，本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种芯片检测设备，包括检测机架(1)、待检芯片(2)，所述待检芯片(2)的两侧均设置有若干个等距的针脚(3)，所述检测机架(1)的顶部设置有第一半开放套座(4)、丝杠传动机构(5)、检测仪(19)，所述丝杠传动机构(5)的输出结构与第一半开放套座(4)的底部传动连接，且丝杠传动机构(5)的前端结构传动连接有第一抱闸伺服电机(6)，所述第一半开放套座(4)的后端套装有弹性夹持部件(7)，且弹性夹持部件(7)的顶部结构与第一半开放套座(4)的顶面组合形成前端让位的半开放夹持空间，所述待检芯片(2)放置在半开放夹持空间中进行定位安装，所述待检芯片(2)两侧上的针脚(3)均与第一半开放套座(4)的顶部活动套接，且针脚(3)的一端延伸至第一半开放套座(4)的外侧；
2.根据权利要求1所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述检测机架(1)顶部设置有导向架(20)，所述导向架(20)包括导向杆体(202)以及导向杆体(202)两端固定连接的倒U形架(201)，两个所述倒U形架(201)的底部均固定连接在检测机架(1)的顶部，所述导向杆体(202)的中部卡接在第一半开放套座(4)
3.根据权利要求1所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述丝杠传动机构(5)包括丝杠(51)、螺母(52)、联动套板(53)、伞齿轮箱(54)，所述螺母(52)的内侧螺纹连接在丝杠(51)的表面上，所述丝杠(51)的两端均套装有轴承，所述轴承采用轴承座安装在检测机架(1)的顶部，所述丝杠(51)一端的端头与伞齿轮箱(54)的输出端传动连接，且伞齿轮箱(54)的壳体表面与检测机架(1)的顶部之间安装有支撑座。
4.根据权利要求3所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述螺母(52)的一端与联动套板(53)的底部固定连接，且螺母(52)与联动套板(53)形成的组合件作为丝杠传动机构(5)的输出结构与第一半开放套座(4)底部的传动连接，所述第一抱闸伺服电机(6)的输出端贯穿检测机架(1)顶部结构并与伞齿轮箱(54)的输入端传动连接，且第一抱闸伺服电机(6)的壳体表面与检测机架(1)顶部内壁之间安装有固定座。
5.根据权利要求1所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述检测探针组件(10)由探针本体(101)、检测复位弹簧(102)组成，所述探针本体(101)的顶部为T型结构并卡接在检测支撑架(9)顶部结构内，所述检测复位弹簧(102)的两端分别固定连接在检测支撑架(9)顶部结构表面上和探针本体(101)顶部表面上。
6.根据权利要求1所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述弹性夹持部件(7)包括联动杆(71)、夹持压板(72)、磁吸限位板(73)以及夹持弹簧(74)，所述联动杆(71)的中部卡接在第一半开放套座(4)后端的内侧，所述夹持压板(72)位于第一半开放套座(4)的顶部，所述磁吸限位板(73)位于第一半开放套座(4)的底部，且夹持压板(72)的一端与磁吸限位板(73)的一端分别与联动杆(71)的两端固定连接，所述夹持弹簧(74)的两端分别固定连接在夹持压板(72)的底部和第一半开放套座(4)后端的顶部。
7.根据权利要求6所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述磁吸部件(8)由电磁吸盘以及电磁吸盘表面上固定连接的支架组成，所述支架的顶部固定连接在第一半开放套座(4)的底面上，所述电磁吸盘的磁吸面能够与磁吸限位板(73)的表面磁吸连接。
8.根据权利要求1所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述检测支撑架(9)的顶部两侧均套装有检测方向朝上的检测探针组件(10)，且检测方向朝上的两个检测探针组件(10)也通过导线与检测仪(19)电性连接，所述检测机架(1)顶部的后端连接有辅助支架(16)，所述辅助支架(16)的顶部套装有与第一半开放套座(4)同结构的第二半开放套座(17)，所述第二半开放套座(17)内也套装有弹性夹持部件(7)并与弹性夹持部件(7)组合形成组前端让位的半开放对照空间，所述半开放对照空间内套装有标准芯片(18)，所述标准芯片(18)的两侧均设置有若干个等距的对照引脚，所述对照引脚的一端能够与对应且检测方向朝上的检测探针组件(10)顶部接触贴合连接。
9.根据权利要求5所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述锥形箱(11)的底部连接有过渡阀管，且锥形箱(11)的表面与检测机架(1)的顶部之间固定安装有辅助支板，所述过渡阀管的底部连接有与自身空间相通的橡胶球，所述锥形箱(11)顶部的内壁上连接有与半圆柱顶块(12)表面接触且处于倾斜状态的刮板，所述刮板的底部开设有与锥形箱(11)内部空间相通的让位槽，所述探针本...
【技术特征摘要】
1.一种芯片检测设备，包括检测机架(1)、待检芯片(2)，所述待检芯片(2)的两侧均设置有若干个等距的针脚(3)，所述检测机架(1)的顶部设置有第一半开放套座(4)、丝杠传动机构(5)、检测仪(19)，所述丝杠传动机构(5)的输出结构与第一半开放套座(4)的底部传动连接，且丝杠传动机构(5)的前端结构传动连接有第一抱闸伺服电机(6)，所述第一半开放套座(4)的后端套装有弹性夹持部件(7)，且弹性夹持部件(7)的顶部结构与第一半开放套座(4)的顶面组合形成前端让位的半开放夹持空间，所述待检芯片(2)放置在半开放夹持空间中进行定位安装，所述待检芯片(2)两侧上的针脚(3)均与第一半开放套座(4)的顶部活动套接，且针脚(3)的一端延伸至第一半开放套座(4)的外侧；
2.根据权利要求1所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述检测机架(1)顶部设置有导向架(20)，所述导向架(20)包括导向杆体(202)以及导向杆体(202)两端固定连接的倒u形架(201)，两个所述倒u形架(201)的底部均固定连接在检测机架(1)的顶部，所述导向杆体(202)的中部卡接在第一半开放套座(4)底部的内侧，所述检测仪(19)采用万能表装置。
3.根据权利要求1所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述丝杠传动机构(5)包括丝杠(51)、螺母(52)、联动套板(53)、伞齿轮箱(54)，所述螺母(52)的内侧螺纹连接在丝杠(51)的表面上，所述丝杠(51)的两端均套装有轴承，所述轴承采用轴承座安装在检测机架(1)的顶部，所述丝杠(51)一端的端头与伞齿轮箱(54)的输出端传动连接，且伞齿轮箱(54)的壳体表面与检测机架(1)的顶部之间安装有支撑座。
4.根据权利要求3所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述螺母(52)的一端与联动套板(53)的底部固定连接，且螺母(52)与联动套板(53)形成的组合件作为丝杠传动机构(5)的输出结构与第一半开放套座(4)底部的传动连接，所述第一抱闸伺服电机(6)的输出端贯穿检测机架(1)顶部结构并与伞齿轮箱(54)的输入端传动连接，且第一抱闸伺服电机(6)的壳体表面与检测机架(1)顶部内壁之间安装有固定座。
5.根据权利要求1所述的一种芯片检测设备，其特征在于：所述检测探针组件(10)由探针本体(101)、检测复位弹簧(102)组成，所述探针本体(101)的顶部为t型结构并卡接在检测...
【专利技术属性】
技术研发人员：环翾，顾秋华，
申请(专利权)人：上海仪电智能电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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