【技术实现步骤摘要】
本申请涉及岩石无损检测，尤其涉及一种岩石冻结高度检测方法。
技术介绍
1、岩石作为一种常见的多孔介质体，主要是由矿物颗粒、孔隙和胶结物质组成的集合体，其物理力学性质极易受环境因素影响。而低温作为一种重要的环境因素，当岩石孔隙内的水冻结成冰，会产生冻胀力，导致原生孔孔径增大，或萌生出新的孔隙、裂隙等，这对于岩石的力学性质有显著影响，因此研究低温下岩石冻损机理对寒区岩石工程的安全施工和运行至关重要。
2、相关的岩石冻胀变形的检测方法为设置好温度后将岩石试样直接放入恒温箱进行冻融循环，实验结束后取出进行对应的检测，此种方法不能对岩石内部结构变化实时检测，且检测出来的冻结高度准确度不高。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种岩石冻结高度检测方法，用以解决当前岩石冻胀变形检测时检测出来的冻结高度的准确度不高的技术问题。
2、为解决上述技术问题，本申请实施例提供以下技术方案：
3、本申请提供一种岩石冻结高度检测方法，包括：
4、将岩石试样放入真空饱水装置中进行饱水处理，得到饱水试样；
5、将所述饱水试样放入核磁共振测试设备，进行核磁共振测试，得到所述饱水试样的第一分层图谱；
6、将所述饱水试样放入冷冻室中进行冷冻处理，得到冷冻处理后所述饱水试样的第二分层图谱；
7、将所述第一分层图谱和所述第二分层图谱进行对比，确定所述岩石试样的冻结高度。
8、作为本专利技术的进一步改进，上述岩石冻结高度检测方法，
9、将所述岩石试样放入真空饱水装置中，使所述岩石试样置于真空状态第一时长；
10、在第一压力值下进行饱水处理，并持续第二时长。
11、作为本专利技术的进一步改进，上述岩石冻结高度检测方法，其中，所述将所述饱水试样放入核磁共振测试设备，进行核磁共振测试，包括：
12、将所述饱水试样放入核磁共振测试设备的测试线圈中，调整测试参数，并选择通过se-spi序列进行核磁共振分层测试。
13、作为本专利技术的进一步改进，上述岩石冻结高度检测方法，其中，所述测试参数包括岩石试样的分层层数与视野区长度。
14、作为本专利技术的进一步改进，上述岩石冻结高度检测方法，其中，在所述将所述第一分层图谱和所述第二分层图谱进行对比，确定所述岩石试样的冻结高度的步骤之前，包括：
15、通过第一公式确定所述岩石试样的分层层数，所述第一公式为：
16、
17、其中，h为岩石试样高度，nti和fov为核磁共振测试系统的测试参数，分别代表岩石试样的分层层数和视野区长度。
18、作为本专利技术的进一步改进，上述岩石冻结高度检测方法，其中，在所述将所述第一分层图谱和所述第二分层图谱进行对比，确定所述岩石试样的冻结高度的步骤之前，还包括：
19、确定所述饱水试样的冻结层数；
20、所述确定所述饱水试样的冻结层数包括：
21、根据所述第一层图谱分别确定每层饱水试样的所述第一分层图谱的第一峰面积，根据所述第二分层图谱分别确定每层饱水试样的所述第二分层图谱的第二峰面积；
22、若同一层饱水试样的所述第二峰面积小于所述第一峰面积的α倍，则确定该层饱水试样已冻结。
23、作为本专利技术的进一步改进，上述岩石冻结高度检测方法，其中，在所述确定所述饱水的冻结层数的步骤之后，包括：
24、通过第二公式确定冻结层每层的高度，所述第二公式为：
25、
26、其中，hi为冻结层的高度，h为岩石试样高度，m为岩石试样的分层层数。
27、作为本专利技术的进一步改进，上述岩石冻结高度检测方法，其中，所述将所述第一分层图谱和所述第二分层图谱进行对比，确定所述岩石试样的冻结高度，包括：
28、根据所述冻结层数和所述冻结层每层的高度确定所述岩石试样的冻结高度。
29、作为本专利技术的进一步改进，上述岩石冻结高度检测方法，其中，通过第三公式确定所述冻结高度，所述第三公式为：
30、
31、其中，hfreeze为冻结高度，n为冻结层数。
32、作为本专利技术的进一步改进，上述岩石冻结高度检测方法，其中，所述岩石试样为圆柱形
33、有益效果：本申请提供一种岩石冻结高度检测方法，该方法将饱水岩石试样放入冷冻室冻结不同的时间，得到不同的冻结高度，设置核磁测试参数，获得饱水试样的第一分层图谱与第二分层图谱，对比饱水试样的分层图谱(第一分层图谱)和冻结试样的分层图谱(第二分层图谱)，从而确定岩石试样的冻结高度。整个检测过程操作方便简捷，便于实现，且数据处理量小，对于样品基本没有损坏，可以观测到试样的整个冻结过程，检测出的冻结高度准确度较高。
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1.一种岩石冻结高度检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的岩石冻结高度检测方法，其特征在于，所述将岩石试样放入真空饱水装置中进行饱水处理，包括：
3.根据权利要求1所述的岩石冻结高度检测方法，其特征在于，所述将所述饱水试样放入核磁共振测试设备，进行核磁共振测试，包括：
4.根据权利要求3所述的岩石冻结高度检测方法，其特征在于，所述测试参数包括岩石试样的分层层数与视野区长度。
5.根据权利要求1所述的岩石冻结高度检测方法，其特征在于，在所述将所述第一分层图谱和所述第二分层图谱进行对比，确定所述岩石试样的冻结高度的步骤之前，包括：
6.根据权利要求1所述的岩石冻结高度检测方法，其特征在于，在所述将所述第一分层图谱和所述第二分层图谱进行对比，确定所述岩石试样的冻结高度的步骤之前，还包括：
7.根据权利要求6所述的岩石冻结高度检测方法，其特征在于，在所述确定所述饱水的冻结层数的步骤之后，包括：
8.根据权利要求7所述的岩石冻结高度检测方法，其特征在于，所述将所述第一分层图谱和所述第二分层图
9.根据权利要求8所述的岩石冻结高度检测方法，其特征在于，通过第三公式确定所述冻结高度，所述第三公式为：
10.根据权利要求1所述的岩石冻结高度检测方法，其特征在于，所述岩石试样为圆柱形。
...【技术特征摘要】
1.一种岩石冻结高度检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的岩石冻结高度检测方法，其特征在于，所述将岩石试样放入真空饱水装置中进行饱水处理，包括：
3.根据权利要求1所述的岩石冻结高度检测方法，其特征在于，所述将所述饱水试样放入核磁共振测试设备，进行核磁共振测试，包括：
4.根据权利要求3所述的岩石冻结高度检测方法，其特征在于，所述测试参数包括岩石试样的分层层数与视野区长度。
5.根据权利要求1所述的岩石冻结高度检测方法，其特征在于，在所述将所述第一分层图谱和所述第二分层图谱进行对比，确定所述岩石试样的冻结高度的步骤之前，包括：
6.根据权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员：翁磊，张皓量，吴志军，储昭飞，徐翔宇，刘泉声，
申请(专利权)人：武汉大学，
类型：发明
国别省市：
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