【技术实现步骤摘要】
本申请涉及dpu板卡测试，并且更为具体地，涉及一种用于dpu板卡的测试系统、方法、电子设备和可读存储介质。
技术介绍
1、随着技术革新与进步，诸如dpu等加速器板卡的功能愈发强大，应用更加广泛，在将加速器板卡生产出来后，需要使每个加速器板卡上电并进行性能测试，以保证加速器板卡的出厂质量。其中，dpu(data processing unit)是一种数据处理单元，是数据中心场景中重要的算力芯片，因此研发测试dpu板卡是非常重要的。
2、现有的针对dpu板卡的测试系统，自动化程度低，在测试过程中不仅容易出现漏测的问题，而且测试结果以及未通过原因更多是以手动方式记录。
3、因此不仅容易出现人力成本高，漏测或者不良品流出的问题，而且无法实时监控测试过程，难以及时发现未通过原因并及时解决，导致测试成本增加。
技术实现思路
1、本申请提供了一种用于dpu板卡的测试系统、方法、电子设备和可读存储介质。
2、第一方面，本申请提供一种用于dpu板卡的测试系统，包括：
3、测试子系统，包括多个测试站，所述多个测试站分别被配置成具有对应的测试工序；
4、输送子系统，用于在不同的测试站之间输送所述dpu板卡；
5、控制子系统，与所述输送子系统、所述多个测试站均通信连接，用于控制当前测试工序的测试站对所述dpu板卡进行测试，得到测试结果；
6、若dpu板卡的测试结果为通过，则所述控制子系统还用于控制所述输送子系统将所述dpu
7、可选的，所述控制子系统还用于：管理所述dpu板卡的测试状态；若所述dpu板卡处于测试允许状态，则控制所述dpu板卡所在的测试站执行测试操作；若判断所述dpu板卡处于测试锁止状态，则禁止所述dpu板所在的测试站执行测试操作。
8、可选的，所述控制子系统具体用于：在所述dpu板卡的测试状态处于测试允许状态时，判断所述dpu板卡是否已完成在前必过工序的测试，若是，则发送测试开始指令给所述dpu板卡所在的测试站；若否，则发送测试禁止指令给所述dpu板卡所在的测试站；在所述dpu板卡的测试状态为测试锁止状态时，发送测试禁止指令给所述dpu板卡所在的测试站。
9、可选的，所述测试允许状态包括初测状态和重测状态；所述控制子系统具体用于：在所述dpu板卡的测试结果为未通过时，将所述dpu板卡的测试状态从所述测试允许状态变更为所述测试锁止状态；若dpu板卡是由初测状态变更为测试锁止状态的，则在所述dpu板卡被维修后，将所述dpu板卡的测试状态从所述测试锁止状态变更为所述重测状态；若dpu板卡是由重测状态变更为测试锁止状态的，则保持所述dpu板卡的测试锁止状态。
10、可选的，所述控制子系统具体用于：在所述dpu板卡的测试结果为未通过时，将所述dpu板卡的板卡标识与所述测试锁止状态的状态标识关联为所述dpu板卡的第一表项，写入到第一管理数据表，其中，所述第一管理数据表用于管理所述dpu板卡的测试锁止状态。
11、可选的，所述控制子系统具体用于：在所述dpu板卡被维修后，获取解锁事件描述信息，根据所述解锁事件描述信息将所述dpu板卡的第一表项从所述第一管理数据表中删除；并且将该所述第一表项中的板卡标识与重测状态的状态标识关联为所述dpu板卡的第二表项，写入到第二管理数据表中，所述第二管理数据表用于管理所述dpu板卡的重测状态。
12、第二方面，本申请提供一种用于dpu板卡的测试方法，包括：
13、控制当前测试工序的测试站对所述dpu板卡进行测试，得到测试结果；
14、若初测状态的dpu板卡测试结果为未通过，则将所述dpu板卡标记为测试锁止状态，并且禁止测试处于测试锁止状态的dpu板卡；在处于测试锁止状态的dpu板卡被维修后，对所述dpu板卡执行重新测试；
15、若所述测试结果为通过，则控制所述dpu板卡从所述当前测试工序进入下一测试工序。
16、可选的，所述将所述dpu板卡标记为测试锁止状态，包括：在所述dpu板卡的测试结果为未通过时，将所述dpu板卡的板卡标识与所述测试锁止状态的状态标识关联为所述dpu板卡的第一表项，写入到第一管理数据表，其中，所述第一管理数据表用于管理所述dpu板卡的测试锁止状态。
17、第三方面，本申请提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有用于dpu板卡的测试方法的程序，所述用于dpu板卡的测试方法的程序被处理器执行时，能够实现上述的用于dpu板卡的测试方法的步骤。
18、第四方面，本申请提供一种电子设备，包括处理器和存储器；所述存储器存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被所述处理器执行以实现上述的用于dpu板卡的测试方法的步骤。
19、通过上述的测试系统，若初测状态的dpu板卡在当前测试工序的测试结果为未通过，说明该dpu板卡可能存在性能不合格问题，因此可以通过标记测试锁止状态来禁止继续测试，从而大大降低了性能不合格的dpu板卡流入下一测试工序的概率，减少无效测试，降低测试成本且可以提高良率。而维修后的dpu板卡还可以重新测试，从而可以减少废弃dpu板卡的数量，降低生产成本。
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1.一种用于DPU板卡的测试系统，其特征在于，包括：
2.根据所述权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述控制子系统还用于：
3.根据所述权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述控制子系统具体用于：
4.根据所述权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述测试允许状态包括初测状态和重测状态；所述控制子系统具体用于：
5.根据所述权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述控制子系统具体用于：
6.根据所述权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述控制子系统具体用于：
7.一种用于DPU板卡的测试方法，其特征在于，包括：
8.根据所述权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述将所述DPU板卡标记为测试锁止状态，包括：
9.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有用于DPU板卡的测试方法的程序，所述用于DPU板卡的测试方法的程序被处理器执行时，实现如权利要求7-8中任一项所述的用于DPU板卡的测试方法的步骤。
10.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器；所
...【技术特征摘要】
1.一种用于dpu板卡的测试系统，其特征在于，包括：
2.根据所述权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述控制子系统还用于：
3.根据所述权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述控制子系统具体用于：
4.根据所述权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述测试允许状态包括初测状态和重测状态；所述控制子系统具体用于：
5.根据所述权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述控制子系统具体用于：
6.根据所述权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述控制子系统具体用于：
7.一种用于dp...
【专利技术属性】
技术研发人员：周健，张社广，鄢贵海，
申请(专利权)人：中科驭数北京科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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