System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 电子设备的测试系统及方法技术方案_技高网

电子设备的测试系统及方法技术方案

技术编号:42742420 阅读:8 留言:0更新日期:2024-09-18 13:36
本申请实施例公开了一种电子设备的测试系统及方法,所述系统包括机械装置、电子设备和测试箱,其中:机械装置,用于响应于接收到的第一指令,将电子设备放置在测试箱中;电子设备,用于在测试箱中发射功率信号给耦合设备;耦合设备,用于对接收的功率信号进行耦合处理,得到耦合信号,并将耦合信号发送给频谱仪;频谱仪,用于根据耦合信号和预设的频谱参数,对电子设备进行测试,得到测试结果;机械装置,还用于获取目标放置位置,并将电子设备放置在目标放置位置,目标放置位置是根据对电子设备的测试结果确定的。能够缩短测试时间,提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请实施例涉及测试技术,涉及但不限于一种电子设备的测试系统及方法


技术介绍

1、随着人们的生活水平不断提升,人们对电子设备的质量要求也越来越高,为了满足人们对电子设备的质量要求,一般会在电子设备出厂之前,对电子设备的相关性能进行测试。通过对电子设备的严格测试,可提高电子设备的出厂质量,提升用户体验。

2、在对电子设备的性能进行测试时,相关技术中一般采用人工手动测试的方式,手动将电子设备放入测试仪器中,再手动关闭测试仪器,以便测试仪器对电子设备进行测试,并在对一台电子设备的测试完成后,还需将测试完成的电子设备拿出,再进行下一台电子设备的测试。这种测试方法,测试效率较低,测试时间较长。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请实施例提供的电子设备的测试系统及方法,能够缩短测试时间,提高测试效率。本申请实施例提供的电子设备的测试系统及方法是这样实现的:

2、本申请实施例提供的电子设备的测试系统,所述系统包括机械装置、电子设备和测试箱,所述测试箱中包括耦合设备和频谱仪,其中:

3、所述机械装置,用于响应于接收到的第一指令,将所述电子设备放置在所述测试箱中;

4、所述电子设备,用于在所述测试箱中发射功率信号给所述耦合设备;

5、所述耦合设备,用于对接收的所述功率信号进行耦合处理,得到耦合信号,并将所述耦合信号发送给所述频谱仪;

6、所述频谱仪,用于根据所述耦合信号和预设的频谱参数,对所述电子设备进行测试,得到测试结果;p>

7、所述机械装置,还用于获取目标放置位置,并将所述电子设备放置在所述目标放置位置,所述目标放置位置是根据对所述电子设备的测试结果确定的,所述测试结果包括测试通过和测试不通过,所述测试结果不同,所述目标放置位置不同。

8、在一些实施例中,所述机械装置,用于接收测试结果,所述测试结果是所述测试箱对所述电子设备进行测试后得到的;

9、根据预设的测试结果与传送位置的对应关系,确定所述目标放置位置。

10、在一些实施例中,所述系统还包括传送带,所述测试结果为测试通过,所述目标放置位置为所述传送带,其中:

11、所述机械装置,用于在获取的所述目标放置位置为传送带的情况下,将所述电子设备放置在所述传送带。

12、在一些实施例中,所述系统还包括放置箱,所述测试结果为测试不通过,所述目标放置位置为所述放置箱,其中:

13、所述机械装置,用于在获取的所述目标放置位置为放置箱的情况下,将所述电子设备放置在所述放置箱。

14、在一些实施例中,所述机械装置,具体用于在所述目标放置位置为放置箱的情况下,重新将所述电子设备放置在测试箱,并获取更新后的目标放置位置;

15、在获取的所述更新后的目标放置位置的个数大于阈值,且每一所述更新后的目标放置位置均为所述放置箱的情况下,将所述电子设备放置在所述放置箱。

16、在一些实施例中,所述系统还包括控制设备,其中:

17、所述机械装置,还用于控制所述电子设备与所述控制设备建立通信连接;

18、所述电子设备,用于响应于接收的所述控制设备下发的第二指令,在所述测试箱中发射功率信号给所述耦合设备。

19、在一些实施例中,所述系统还包括存储单元;

20、所述存储单元,用于存储对所述电子设备的测试报告,所述测试报告中包括所述测试结果和所述电子设备的功率信号。

21、在一些实施例中,所述测试为辐射杂散rse测试。

22、本申请实施例提供的电子设备的测试方法,所述方法应用于测试系统,所述系统包括机械装置、电子设备和测试箱,所述测试箱中包括耦合设备和频谱仪,所述方法包括:

23、通过所述机械装置,响应于接收到的第一指令,将所述电子设备放置在所述测试箱中;

24、通过所述电子设备,在所述测试箱中发射功率信号给所述耦合设备;

25、通过所述耦合设备,对接收的所述功率信号进行耦合处理,得到耦合信号,并将所述耦合信号发送给所述频谱仪;

26、通过所述频谱仪,根据所述耦合信号和预设的频谱参数,对所述电子设备进行测试,得到测试结果;

27、通过所述机械装置,获取目标放置位置,并将所述电子设备放置在对应的目标放置位置,所述目标放置位置是根据对所述电子设备的测试结果确定的,所述测试结果包括测试通过和测试不通过,所述测试结果不同,所述目标放置位置不同。

28、本申请实施例所提供的电子设备的测试系统及方法,通过测试系统中的机械装置,响应于接收到的第一指令,将电子设备放置在测试箱中;然后,通过电子设备在测试箱中发射功率信号给耦合设备,再经由耦合设备对功率信号进行耦合处理,得到耦合信号;随后,耦合设备还会将耦合信号发送给频谱仪,频谱仪即可根据耦合信号和预设的频谱参数,对电子设备进行测试,得到测试结果;这样,机械装置在得到测试结果后,可获取目标放置位置,并将电子设备放在目标放置位置。

29、在本申请实施例中,在对电子设备进行测试时,是通过机械装置和测试箱中放置的耦合设备和频谱仪共同来完成的,测试时不需要人工参与,而是全程由机器操控完成,从而能够降低人力成本,提高测试效率,解决
技术介绍
中所提出的技术问题。

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【技术保护点】

1.一种电子设备的测试系统,其特征在于,所述系统包括机械装置、电子设备和测试箱,所述测试箱中包括耦合设备和频谱仪,其中:

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述机械装置,用于接收测试结果,所述测试结果是所述测试箱对所述电子设备进行测试后得到的;

3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述系统还包括传送带,所述测试结果为测试通过,所述目标放置位置为所述传送带,其中:

4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述系统还包括放置箱,所述测试结果为测试不通过,所述目标放置位置为所述放置箱,其中:

5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述机械装置,具体用于在所述目标放置位置为放置箱的情况下,重新将所述电子设备放置在测试箱,并获取更新后的目标放置位置;

6.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述系统还包括控制设备,其中:

7.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述系统还包括存储单元;

8.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述测试为辐射杂散RSE测试。

9.一种电子设备的测试方法,其特征在于,所述方法应用于测试系统,所述系统包括机械装置、电子设备和测试箱,所述测试箱中包括耦合设备和频谱仪,所述方法包括:

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述获取目标放置位置,包括:

...

【技术特征摘要】

1.一种电子设备的测试系统,其特征在于,所述系统包括机械装置、电子设备和测试箱,所述测试箱中包括耦合设备和频谱仪,其中:

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述机械装置,用于接收测试结果,所述测试结果是所述测试箱对所述电子设备进行测试后得到的;

3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述系统还包括传送带,所述测试结果为测试通过,所述目标放置位置为所述传送带,其中:

4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述系统还包括放置箱,所述测试结果为测试不通过,所述目标放置位置为所述放置箱,其中:

5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述机械装置...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭立柱
申请(专利权)人:西安闻泰信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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