卫星整星表面热控材料原位测试探头调整平台制造技术

本发明专利技术涉及一种用于卫星整星表面热控材料原位测试探头的调整平台，调整平台通过调整螺母（７）、调整螺杆（８）和滑块（６）的高度调整机构，可以实现开关调整平板（５）距测试探头距离的精确控制。利用该调整平台可以高精度、高效率地完成对高精度开关和测试探头位置的调整，从而大大缩短卫星整星表面热控材料光学性能原位测量的准备周期，为按时高效、高质量的完成每次测量任务提供了有力的支持。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种高精度机械位置控制设备，具体说来，涉及一种用于卫星整星表面热控材料原位测试探头的快速调整平台。
技术介绍
为掌握卫星在生产过程中以及出厂前表面热控材料性能的变化情况，从而更好的 确定和判断卫星的性能状况，目前我国生产的部分卫星已经开始使用表面原位测量技术对 热控性能进行监督和控制。这一测试主要靠卫星整星表面原位测试工装来完成，其中的测 试探头部分由便携式测试仪配合高精度开关组成。在测量中，测量的准确性主要靠测试仪 小孔和被测表面的平行度以及距离来保证。为了保证上述两个因素，目前是通过控制测试 探头四周的四个高精度开关的位置来做到的。传统的做法是，将测试探头安装在测试工装 上，对照测试表面模拟板先确定测试探头与被测表面的距离和平行程度，然后再反复调整 四个高精度开关，直至所有的高精度开关都在同一适当的平面上。由于直接在模拟表面附 近调整开关位置，不易控制精度，且使四个开关触脚处于同一平面十分不易做到，所以往往 导致四个高精度开关调整效率和效果都不够理想。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种调整平台，可以高精度、高效率地完成测试探头位置以 及其四个高精度开关的调整，从而大大縮短卫星整星表面热控材料光学性能原位测量的准 备周期，为按时高效、高质量的完成每次测量任务提供了有力的支持。 本专利技术的可由以下技术方案完成 —种用于卫星整星表面热控材料原位测试探头的调整平台，调整平台的基板呈长 方形，其每个角上均设置有一个用于调整高度的调整螺母，基板的一对相对侧的调整螺母 之间的基板面上设置沟槽，在每个沟槽内设置有两个滑块，分别位于沟槽的两端，并通过调 整螺杆与邻近的调整螺母连接，四个滑块支撑开关调整平板，在没有设置沟槽的基板的另 一对相对侧上，设置有探头支架，探头支架的两端从基板的所述另一对相对侧上垂直向上 突出一定高度，然后水平折向基板中部连成整体，呈门形扣在基板上，将开关调整平板容纳 在探头支架和基板形成的空间中，探头支架不接触到开关调整平板，测试探头放置于探头 支架的水平部分上。 其中，测试探头由光学测试仪、高精度测试开关支架和高精度开关共同组成，光学 测试仪下方水平地安装有与测试仪外部形状匹配的环形的高精度测试开关支架，开关支架 的下表面垂直的设置有多个高精度开关，开关均布于开关支架上。 其中，探头支架的水平部分不接触开关支架和多个高精度开关。 其中，高精度开关为四个。 其中，滑块为缺角的立方体形状，缺失的体积也是立方体。 本专利技术的有益效果在于3 a.探头从测试工装上取下，单独调整，避免了在线调整时难度大和易触碰被测表 面的危险； b.高精度开关的触脚接触开关调整平板，可以精确确定高精度开关的安装位置； c.开关调整平台的四角斜坡开槽保证与滑块斜面平稳贴合，并能限制平板横向移 动，高度调整使用滑块与螺纹螺母机构，较小的滑块斜面斜率和螺纹螺母调整都保证了调 整平板高度的可精确控制性。附图说明 图l为调整平台示意图。 其中，1为光学测试仪，2为高精度测试开关支架，3为高精度开关，4为探头支架，5 为开关调整平板，6为滑块，7为调整螺母。具体实施例方式以下结合附图对本专利技术作详细说明。 光学测试仪1下方水平地安装有与测试仪1外部形状匹配的环形的高精度测试开 关支架2，开关支架2的下表面垂直地设置有多个高精度开关3，开关3均布于开关支架2 上。光学测试仪1、高精度测试开关支架2和高精度开关3共同组成测试探头。通常取四个 开关3进行测试。 调整平台的基板呈长方形，其每个角上均设置有一个用于调整高度的调整螺母7， 基板的一对相对侧的调整螺母7之间的基板面上设置沟槽，在每个沟槽内设置有两个滑块 6，分别位于沟槽的两端，并通过调整螺杆8与邻近的调整螺母7连接。四个滑块6支撑开 关调整平板5。滑块6为缺角的立方体形状，缺失的体积也是立方体，这种形状能限制开关 调整平板5的横向移动。旋转四个角上的调整螺母7，可以使对应的四个滑块6在沟槽内滑 动，从而使开关调整平板5随之上下移动。在没有设置沟槽的基板的另一对相对侧上，设置 有探头支架4，探头支架4的两端从基板的所述另一对相对侧上垂直向上突出一定高度，然 后水平折向基板中部连成整体，呈门形扣在基板上，将开关调整平板5容纳在探头支架4和 基板形成的空间中，但是不接触到开关调整平板5。 将测试探头放置于探头支架4之上，使测试仪的探测小孔朝下，此时开关3与开关支架2处于放松状态。然后旋转四个角上的调整螺母7，在上下移动过程中，检测测试仪的小孔与开关调整平板5之间的相对位置，直至开关调整平板5达到合适位置便停止调整。接着，再使各个高精度开关3的触脚均处于刚好贴合开关调整平板5的位置，随即固定开关3，从而完成测试探头的调整。最后取下测试探头，安装于卫星测试工装之上。 尽管上文对本专利技术的具体实施方式给予了详细描述和说明，但是应该指明的是，我们可以依据本专利技术的构想对上述实施方式进行各种等效改变和修改，其所产生的功能作用仍未超出说明书及附图所涵盖的精神时，均应在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于卫星整星表面热控材料原位测试探头的调整平台，其特征在于，调整平台的基板呈长方形，其每个角上均设置有一个用于调整高度的调整螺母（７），基板的一相对侧的调整螺母（７）之间的基板面上设置沟槽用于定位两个滑块（６），分别位于沟槽的两端，并通过调整螺杆（８）与邻近的调整螺母（７）连接，四个滑块（６）支撑开关调整平板（５），在没有设置沟槽的基板的另一对相对侧上，设置有探头支架（４），探头支架（４）的两端从基板的所述另一对相对侧上垂直向上突出一定高度，然后水平折向基板中部连成整体，呈冂形扣在基板上，将开关调整平板（５）容纳在探头支架（４）和基板形成的空间中，探头支架（４）不接触到开关调整平板（５），测试探头放置于探头支架（４）的水平部分上。

【技术特征摘要】
一种用于卫星整星表面热控材料原位测试探头的调整平台，其特征在于，调整平台的基板呈长方形，其每个角上均设置有一个用于调整高度的调整螺母(7)，基板的一相对侧的调整螺母(7)之间的基板面上设置沟槽用于定位两个滑块(6)，分别位于沟槽的两端，并通过调整螺杆(8)与邻近的调整螺母(7)连接，四个滑块(6)支撑开关调整平板(5)，在没有设置沟槽的基板的另一对相对侧上，设置有探头支架(4)，探头支架(4)的两端从基板的所述另一对相对侧上垂直向上突出一定高度，然后水平折向基板中部连成整体，呈冂形扣在基板上，将开关调整平板(5)容纳在探头支架(4)和基板形成的空间中，探头支架(4)不接触到开关调整平板(5)，测试探头放置于探头支架(4)的水平部分...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑慧奇，丁义刚，刘宇明，姜利祥，冯伟泉，沈自才，赵雪，
申请(专利权)人：北京卫星环境工程研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]