【技术实现步骤摘要】
本公开涉及半导体设备，并且适用于，例如，检测诸如水分含量的物理量中的改变的半导体设备和物理量测量设备。
技术介绍
1、以下列出所公开的技术
2、【专利文件1】日本未审查的专利申请公布第2016-109657号
3、专利文件1公开了一种设备，该设备通过朝向对象发送无线电波、接收来自对象的反射波、并且分析接收信号来测量对象的状态或物理特性，即，到对象的距离、到对象的相对速度、形状、内部结构等。
技术实现思路
1、取决于发送无线电波的设备和接收反射波的设备的配置，如果到测量对象的距离波动，那么可能做不出精确的测量。
2、根据本说明书和附图的描述，其他问题和新颖的特征将变得显而易见的。
3、以下是在本申请中所公开的通常专利技术的梗概的简要描述。即，一种半导体设备包括发送设备和接收设备，该发送设备将通过用调制信号调制载波而生成的发送信号从天线辐射到测量对象，该接收设备通过从天线接收经由测量对象的发送信号来生成解调信号，并且对解调信号执行处理。发送设备被配置为在第一相位开始调制。接收设备提前存储第一相位和与相位改变量相对应的物理量，基于解调信号的波形，估计调制开始的定时，其中所述接收信号从非调制时段切换为调制时段，计算第二相位，该第二相位是在调制开始的定时处的相位，基于所存储的第一相位，计算对于第二相位的变化，并且基于与所存储的相位改变量相对应的物理量，确定与变化相对应的物理量。
4、根据以上提及的半导体设备，可以在不依赖测量距离的情
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1.一种半导体设备，所述半导体设备包括：
2.根据权利要求1所述的半导体设备，
3.根据权利要求2所述的半导体设备，
4.根据权利要求1所述的半导体设备，
5.根据权利要求1所述的半导体设备，
6.一种物理量测量设备，所述物理量测量设备包括：
7.一种半导体设备，所述半导体设备包括：
8.一种半导体设备，包括：
9.一种半导体设备，包括：
10.一种半导体设备，包括：
11.一种半导体设备，包括：
12.一种半导体设备，包括：
13.一种半导体设备，包括：
【技术特征摘要】
1.一种半导体设备，所述半导体设备包括：
2.根据权利要求1所述的半导体设备，
3.根据权利要求2所述的半导体设备，
4.根据权利要求1所述的半导体设备，
5.根据权利要求1所述的半导体设备，
6.一种物理量测量设备，所述物理量测量设备包括：...
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