【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种可提高电子元件出厂品质及生产效能的外观检知装置。
技术介绍
1、在现今，电子元件历经多道加工制程，例如植锡球制程，以于电子元件的底面植入复数个为锡球的接点；例如测试制程，以对电子元件执行电性测试作业；例如打印制程，以于电子元件的顶面印制型号、厂商资讯等；因此，电子元件于出厂前需执行测试作业、锡球检知作业及外观检知作业等，以淘汰出不良品。
2、电子元件作业机以移料器吸附电子元件的顶面，令电子元件的锡球朝向下方，并将电子元件移入测试座，使电子元件的锡球电性接触测试座的探针而执行测试作业，于测试完毕，移料器将电子元件移载至一取像器的上方，由于电子元件的锡球朝向下方，使得电子元件行经取像器时，取像器可直接由下向上对电子元件底面的锡球执行锡球检知作业，以检知锡球是否脱落。
3、然而，移料器吸附于电子元件的顶面，亦即移料器及其上方的驱动机构遮蔽电子元件的顶面的资讯，导致无法检知电子元件的顶面的打印资讯是否正确或受损，以致无法确保电子元件的出厂品质。
4、若将电子元件旋转翻面，而以移料器吸附电子元件的底面，虽可供取像器取像电子元件的顶面而执行外观检知作业，但于出料作业，电子元件的锡球必需朝向下方摆置，导致电子元件取像完毕后，又必需繁琐将锡球朝上的电子元件再次旋转翻面，使电子元件的锡球朝向下方，再以移料器吸附电子元件的顶面方可出料，造成增加作业时间及出料不便的问题。
技术实现思路
1、本专利技术的目的一是在于提供一种外观检知装置，包含承料机构、
2、本专利技术的目的二是在于提供一种外观检知装置，其承料机构于承料叉具上配置至少一承盘，承盘以供承置电子元件，转载叉具可取出且转载一具电子元件的承盘，进而提高转载电子元件行程中的平稳性。
3、本专利技术的目的三，提供一种外观检知装置，其承料机构设有承料驱动器，以供驱动承料叉具作z方向位移，于转载叉具位移至承料叉具的上方或下方，承料叉具作z方向位移而便利将待检知电子元件置放于转载叉具，或者于转载叉具取出已检知电子元件，进而提高作业便利性。
4、本专利技术的目的四，提供一种外观检知装置，其取像机构的架置单元设有取像驱动器，以供驱动该取像器作z方向位移而调整取像高度位置，进而提高外观检知作业的品质。
5、本专利技术的目的五是在于提供一种作业机，包含机台、供料装置、收料装置、测试装置、输送装置、本专利技术外观检知装置及中央控制装置，供料装置配置于机台，并设有至少一供料器，以供容置至少一待测电子元件；收料装置配置于机台，并设有至少一收料器，以供容置至少一已测电子元件；测试装置配置于机台，并设有至少一测试器，以供测试电子元件；输送装置配置于机台，并设有至少一输送器，以供输送电子元件；本专利技术外观检知装置配置于机台，并设有承料机构、取像机构及转载机构，以供对电子元件执行外观检知作业；中央控制装置以控制及整合各装置作动而执行自动化作业。
6、本专利技术提供一种外观检知装置，包含：
7、承料机构：设置承装单元及至少一承料叉具，该承装单元以供装配该承料叉具，该承料叉具能够承置至少一电子元件；
8、取像机构：设置架置单元及至少一取像器，该架置单元以供装配该取像器，该取像器能够取像电子元件的顶面；
9、转载机构：设置转载驱动单元及至少一转载叉具，该转载叉具以供承置电子元件，该转载驱动单元以供驱动该转载叉具能够于该承料叉具与该取像器之间转载电子元件，并供该取像器对电子元件的顶面执行外观检知作业。
10、其中，该承料叉具及该转载叉具其中之一相对其中另一作第三方向位移。
11、其中，该承料机构的该承装单元设有至少一承料驱动器，以供驱动该承料叉具作该第三方向位移。
12、其中，该承料机构设有复数个该承料驱动器及复数个该承料叉具，复数个该承料叉具以供承置复数个电子元件，复数个该承料驱动器能够驱动复数个该承料叉具作该第三方向位移。
13、其中，该承料机构的该承料叉具承置至少一可分离式的承盘，该承盘以供承置至少一电子元件。
14、其中，其该承料机构设有第一定位结构，该第一定位结构于该承料叉具与该承盘间设有相互配合的第一定位件及第二定位件，以供定位该承盘。
15、其中，该转载机构设有第二定位结构，该第二定位结构于该转载叉具与该承盘间设有相互配合的第二定位件及第三定位件，以供定位该承盘。
16、其中，该取像机构的该架置单元设置至少一取像驱动器，以供驱动该取像器作至少第三方向位移而调整取像高度位置。
17、其中，该转载驱动单元设有复数个驱动器，以供驱动该转载叉具作复数个方向线性位移，或者作至少一方向线性位移及水平旋转位移。
18、本专利技术提供一种作业机，包含：
19、机台；
20、供料装置：配置于该机台，并设有至少一供料器，以供容置至少一待测电子元件；
21、收料装置：配置于该机台，并设有至少一收料器，以供容置至少一已测电子元件；
22、测试装置：配置于该机台，并设有至少一测试器，以供测试电子元件；
23、输送装置：配置于该机台，并设有至少一输送器，以供输送电子元件；
24、至少一所述的外观检知装置：配置于该机台，以供检知电子元件的外观；
25、中央控制装置：以控制及整合各装置作动而执行自动化作业。
26、本专利技术能够提高电子元件出厂品质及生产效能。
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1.一种外观检知装置，其特征在于，包含：
2.如权利要求1所述的外观检知装置，其特征在于：该承料叉具及该转载叉具其中之一相对其中另一作第三方向位移。
3.如权利要求2所述的外观检知装置，其特征在于：该承料机构的该承装单元设有至少一承料驱动器，以供驱动该承料叉具作该第三方向位移。
4.如权利要求3所述的外观检知装置，其特征在于：该承料机构设有复数个该承料驱动器及复数个该承料叉具，复数个该承料叉具以供承置复数个电子元件，复数个该承料驱动器能够驱动复数个该承料叉具作该第三方向位移。
5.如权利要求1所述的外观检知装置，其特征在于：该承料机构的该承料叉具承置至少一可分离式的承盘，该承盘以供承置至少一电子元件。
6.如权利要求5所述的外观检知装置，其特征在于：该承料机构设有第一定位结构，该第一定位结构在该承料叉具与该承盘间设有相互配合的第一定位件及第二定位件，以供定位该承盘。
7.如权利要求5所述的外观检知装置，其特征在于：该转载机构设有第二定位结构，该第二定位结构于该转载叉具与该承盘间设有相互配合的第二定位件及第三定
8.如权利要求1所述的外观检知装置，其特征在于：该取像机构的该架置单元设置至少一取像驱动器，以供驱动该取像器作至少第三方向位移而调整取像高度位置。
9.如权利要求1所述的外观检知装置，其特征在于：该转载驱动单元设有复数个驱动器，以供驱动该转载叉具作复数个方向线性位移，或者作至少一方向线性位移及水平旋转位移。
10.一种作业机，其特征在于，包含：
...【技术特征摘要】
1.一种外观检知装置，其特征在于，包含：
2.如权利要求1所述的外观检知装置，其特征在于：该承料叉具及该转载叉具其中之一相对其中另一作第三方向位移。
3.如权利要求2所述的外观检知装置，其特征在于：该承料机构的该承装单元设有至少一承料驱动器，以供驱动该承料叉具作该第三方向位移。
4.如权利要求3所述的外观检知装置，其特征在于：该承料机构设有复数个该承料驱动器及复数个该承料叉具，复数个该承料叉具以供承置复数个电子元件，复数个该承料驱动器能够驱动复数个该承料叉具作该第三方向位移。
5.如权利要求1所述的外观检知装置，其特征在于：该承料机构的该承料叉具承置至少一可分离式的承盘，该承盘以供承置至少一电子元件。
6.如权利要求5所述的外观检知...
【专利技术属性】
技术研发人员：余俊宏，
申请(专利权)人：鸿劲精密股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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