【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测试装置以及测试方法，且尤其是涉及一种对应多种应用平台的测试装置以及测试方法。
技术介绍
1、在制程微缩持续进展的世代，通过已知技术以通过大型的专业测试机台对芯片进行测试，无法排除芯片应用在各种应用平台中所可能产生的相关问题。
2、举例来说明，通过已知的大型的专业测试机台完成测试的芯片，应用在第一应用平台可正常工作，但应用在第二应用平台却可能发生问题。因此，产品测试人员需要将芯片实际设置在不同的应用平台上，才能得知芯片可否正常工作。
3、而随着市面上的产品种类越来越多，产品测试人员需要收集市面上的应用平台也越来越多。同时，考虑到应用平台的生命周期较短及耐用性短的各种可能性，需要做备品的准备，造成应用平台占用的空间变大，甚至无法做有效的管理，导致设备设置的成本增加，降低测试工作效率。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种用于多种应用平台的测试装置以及测试方法，可对应多种应用平台来针对受测装置执行测试动作。
2、本专利技术的测试装置包括控制器以及数据存储器。控制器通过输入接口与多个应用平台进行连接。控制器通过输入接口以接收应用平台分别发送的多个操作命令顺序。数据存储器存储各应用平台所对应的多个电路信息以及各应用平台所对应的各操作命令顺序。其中，控制器在测试期间，通过输出接口与至少一受测装置进行连接，控制器根据对应各应用平台的各电路信息以及各应用平台所对应的各操作命令顺序对至少一受测装置执行测试动作。
3、本专利技术的测试
4、基于上述，本专利技术的测试装置系通过记录多个应用平台的操作命令顺序以及电路信息，并根据各应用平台所对应的操作命令顺序以及各应用平台所对应的电路信息来仿真对应的各个应用平台以对一个或多个受测装置执行测试动作。如此一来，测试装置可有效的针对受测装置在各种应用平台中的操作状态进行测试，提升测试效率，并大幅降低测试成本。
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1.一种测试装置，包括：
2.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述控制器接收各所述应用平台的电路网表，并解析各所述应用平台的电路网表来产生各所述应用平台的各所述电路信息。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其中各所述应用平台的各所述电路信息包括各所述应用平台的电路走线信息、组件配置位置信息以及各所述应用平台中的多层电路板间的介电系数。
4.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述控制器根据对应各所述应用平台的各所述电路信息以及各所述应用平台所对应的各所述操作命令顺序以产生测试信号组以针对所述至少一受测装置进行测试动作。
5.根据权利要求1所述的测试装置，还包括：
6.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述至少一受测装置为存储器。
7.根据权利要求1所述的测试装置，还包括：
8.一种测试方法，包括：
9.根据权利要求8所述的测试方法，还包括：
10.根据权利要求8所述的测试方法，其中各所述应用平台的各所述电路信息包括各所述应用平台的电路走线信息、组件配置位置信息以及各所述应用
11.根据权利要求8所述的测试方法，其中根据各所述应用平台所对应的各所述电路信息以及各所述应用平台所对应的各所述操作命令顺序对所述至少一受测装置执行所述测试动作的步骤包括：
12.根据权利要求8所述的测试方法，还包括：
...【技术特征摘要】
1.一种测试装置，包括：
2.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述控制器接收各所述应用平台的电路网表，并解析各所述应用平台的电路网表来产生各所述应用平台的各所述电路信息。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其中各所述应用平台的各所述电路信息包括各所述应用平台的电路走线信息、组件配置位置信息以及各所述应用平台中的多层电路板间的介电系数。
4.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述控制器根据对应各所述应用平台的各所述电路信息以及各所述应用平台所对应的各所述操作命令顺序以产生测试信号组以针对所述至少一受测装置进行测试动作。
5.根据权利要求1所述的测试装置，还包括：
6.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：张冠程，
申请(专利权)人：华邦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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