【技术实现步骤摘要】
本技术应用于测试设备的,特别涉及一种零温度系数恒流源测阻抗结构。
技术介绍
1、在消费类电子主板测试设备中，在测试设备开始对产品测试之前，利用dcr的方法测量阻抗来检测产品短路，从而达到测试设备对产品测试之前进行保护。然而现有的测量装置的测试成本较高；恒流源电路用到了多个ic且ic成本高，同时采用双电源运放，是由12v单一电源的开关电源供电，-12v需要另外的dc-dc转换；电路复杂，占用测试电路板的布局空间；稳定性较差，由运算放大器构成的恒流源电路容易受基准电压、温度和电阻等影响。因此有必要提供一种成本低、电路简单、能够优化电路板的布局空间、阻抗测量稳定性高、可广泛应用于检测消费类电子产品短路或者测量消费类电子产品的直流阻抗的零温度系数恒流源测阻抗结构。
技术实现思路
1、本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种成本低、电路简单、能够优化电路板的布局空间、阻抗测量稳定性高、可广泛应用于检测消费类电子产品短路或者测量消费类电子产品的直流阻抗的零温度系数恒流源测阻抗结构。
2、本技术所采用的技术方案是：本技术包括恒流源和多路电子开关，所述恒流源包括可调电流源、第一电阻、第二电阻、第三电阻以及二极管，所述第一电阻与所述第二电阻并联，所述第一电阻的一端与所述第二电阻的一端均与所述可调电流源的r引脚连接，所述第一电阻的另一端、所述可调电流源的v-引脚均所述二极管的正极连接，所述二极管的负极、所述第一电阻的另一端与所述多路电子开关的d引脚连接，所述二极管的负极经所
3、由上述方案可见，现有技术的测量装置的测试成本高；恒流源电路用到了多个ic且ic成本高，在旧阻抗测量方案中测试设备是由12v单一电源的开关电源供电，-12v需要另外的dc-dc转换；电路复杂，占用测试电路板的布局空间；稳定性较差，由运算放大器构成的恒流源电路容易受基准电压、温度和电阻等影响。所述零温度系数恒流源测阻抗结构能够提高测试的稳定性和准确性；应用范围广泛，可应用各类消费类电子产品的信号short到地测试；有效的减少了测试成本；简化电路，优化电路板的布局空间；提高测试稳定性。
4、一个优选方案是，所述零温度系数恒流源测阻抗结构还包括双刀双掷开关，所述双刀双掷开关的第四引脚、第五引脚与产品连接。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种零温度系数恒流源测阻抗结构，其特征在于：它包括恒流源和多路电子开关（U1103），所述恒流源包括可调电流源（U1100）、第一电阻（R1）、第二电阻（R2）、第三电阻（R1100）以及二极管（D1102），所述第一电阻（R1）与所述第二电阻（R2）并联，所述第一电阻（R1）的一端与所述第二电阻（R2）的一端均与所述可调电流源（U1100）的R引脚连接，所述第一电阻（R1）的另一端、所述可调电流源（U1100）的V-引脚均所述二极管（D1102）的正极连接，所述二极管（D1102）的负极、所述第一电阻（R1）的另一端与所述多路电子开关（U1103）的D引脚连接，所述二极管（D1102）的负极经所述第三电阻（R1100）接地，所述多路电子开关（U1103）的S引脚与产品连接。
2.根据权利要求1所述的一种零温度系数恒流源测阻抗结构，其特征在于：所述零温度系数恒流源测阻抗结构还包括双刀双掷开关（K1100），所述双刀双掷开关（K1100）的第四引脚、第五引脚与产品连接。
【技术特征摘要】
1.一种零温度系数恒流源测阻抗结构，其特征在于：它包括恒流源和多路电子开关（u1103），所述恒流源包括可调电流源（u1100）、第一电阻（r1）、第二电阻（r2）、第三电阻（r1100）以及二极管（d1102），所述第一电阻（r1）与所述第二电阻（r2）并联，所述第一电阻（r1）的一端与所述第二电阻（r2）的一端均与所述可调电流源（u1100）的r引脚连接，所述第一电阻（r1）的另一端、所述可调电流源（u1100）的v-引脚均所述二极管（d1...
【专利技术属性】
技术研发人员：梁汉桂，莫广阳，高爱弟，汪金达，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。