【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及算力检测，具体而言，涉及一种芯片的算力性能指标的测试方法、装置和存储介质。
技术介绍
1、目前，中央处理器(central processing unit，简称为cpu)的算力评估是指对cpu的计算能力进行评估和测量。在计算机科学和工程领域中，算力评估通常用于衡量cpu的性能，以确定其在处理复杂计算任务时的效率和速度。随着计算机技术的不断发展，cpu的算力评估也变得越来越重要。对于科学计算、数据分析、人工智能等领域的应用来说，cpu的性能直接影响计算任务的速度和效率。因此，对cpu的算力进行评估可以帮助用户选择合适的硬件设备，提高计算任务的执行效率。
2、在相关技术中，当下cpu的算力评估主要针对每秒执行了多少百万条指令，这个指标主要用于测量整数计算能力，而在cpu的指令环境下，不能排除浮点数据的计算，那么单一的整数计算能力对描述cpu算力指标并不全面。存在芯片算力测试的局限性大的技术问题。
3、针对上述存在芯片算力测试的局限性大的技术问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供了一种芯片的算力性能指标的测试方法、装置和存储介质，以至少解决芯片算力测试的局限性大的技术问题。
2、根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种芯片的算力性能指标的测试方法。该方法可以包括：对待测试芯片进行分割处理，得到多个单核区域块；分别确定多个单核区域块对应的单核整数算力性能指标和单核浮点算力性能指标，得到多个单核整数算力性
3、可选地，确定多个单核区域块对应的单核整数算力性能指标，得到多个单核整数算力性能指标，包括：获取整数测试数据；基于整数测试数据，确定多个单核整数算力性能指标。
4、可选地，基于整数测试数据，得到多个单核整数算力性能指标，包括：将整数测试数据输入至待测试芯片中进行分析，得到待测试芯片对应的多个单核区域块的整数利用率；基于多个单核区域块的整数利用率，确定多个单核区域块对应的多个单核整数算力性能指标。
5、可选地，基于多个整数利用率，确定多个单核区域块对应的多个单核整数算力性能指标，包括：响应于整数利用率大于整数利用率阈值，将整数利用率对应的单核区域块的整数算力性能指标，确定为单核整数算力性能指标。
6、可选地，确定多个单核区域块对应的单核浮点算力性能指标，得到多个单核浮点算力性能指标，包括：获取浮点数测试数据；基于浮点数测试数据，确定多个单核浮点算力性能指标。
7、可选地，基于浮点数测试数据，得到多个单核浮点算力性能指标，包括：将浮点数测试数据输入至待测试芯片中进行分析，得到待测试芯片对应的多个单核区域块的浮点数利用率；基于浮点数利用率，确定多个单核区域块对应的多个单核浮点算力性能指标。
8、可选地，基于浮点数利用率，确定多个单核区域块对应的多个单核浮点算力性能指标，包括：响应于浮点数利用率大于浮点利用率阈值，将浮点数利用率对应的单核区域块的浮点算力性能指标，确定为单核浮点算力性能指标。
9、可选地，基于多个单核整数算力和多个单核浮点算力，确定待测试芯片的总算力性能指标，包括：对多个单核整数算力性能指标与多个单核浮点算力性能指标分别进行累加处理，得到待测试芯片的总算力性能指标。
10、根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种芯片的算力性能指标的测试装置。该装置可以包括：获取单元，用于对待测试芯片进行分割处理，得到多个单核区域块；第一确定单元，用于分别确定多个单核区域块对应的单核整数算力性能指标和单核浮点算力性能指标，得到多个单核整数算力性能指标和多个单核浮点算力性能指标，其中，单核整数算力性能指标用于指示单核区域块对应的整数计算性能，单核浮点算力性能指标用于指示单核区域块对应的浮点数计算性能；第二确定单元，用于基于多个单核整数算力和多个单核浮点算力，确定待测试芯片的总算力性能指标，其中，总算力性能指标用于指示待测试芯片单位时间处理的数据指令数，总算力性能指标至少包括待测试芯片的整数算力性能和浮点算力性能。
11、根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在程序被处理器运行时控制存储介质所在设备执行本专利技术实施例中的芯片的算力性能指标的测试方法。
12、根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种处理器。该处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行本专利技术实施例中的芯片的算力性能指标的测试方法。
13、根据本专利技术实施例的另一方面，还提供一种车辆。该车辆用于执行本专利技术实施例的芯片的算力性能指标的测试方法。
14、在本专利技术实施例中，对待测试芯片进行分割处理，得到多个单核区域块；分别确定多个单核区域块对应的单核整数算力性能指标和单核浮点算力性能指标，得到多个单核整数算力性能指标和多个单核浮点算力性能指标；基于多个单核整数算力和多个单核浮点算力，确定待测试芯片的总算力性能指标。也就是说，在本专利技术实施例中，通过确定待测试芯片的多个单核区域块的整数算力性能指标和浮点算力性能指标，得到待测试芯片的总算力性能指标，由于本专利技术得到的待测试芯片的总算力性能指标包括了整数算力性能指标和浮点算力性能指标，达到了多角度确定待测试芯片算力的目的，从而解决了芯片算力测试的局限性大的技术问题，实现了全面测试芯片算力的技术效果。
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1.一种芯片的算力性能指标的测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定多个所述单核区域块对应的单核整数算力性能指标，得到多个所述单核整数算力性能指标，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于所述整数测试数据，确定多个所述单核整数算力性能指标，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，基于多个所述整数利用率，确定多个所述单核区域块对应的多个所述单核整数算力性能指标，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定多个所述单核区域块对应的单核浮点算力性能指标，得到多个所述单核浮点算力性能指标，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，基于所述浮点数测试数据，得到多个所述单核浮点算力性能指标，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，基于所述浮点数利用率，确定多个所述单核区域块对应的多个单核浮点算力性能指标，包括：
8.根据权利要求1至7中任意一项所述的方法，其特征在于，基于多个所述单核整数算力和多个所述单核浮点算力，确定所述
9.一种芯片的算力性能指标的测试装置，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序被处理器运行时控制所述存储介质所在设备执行权利要求1至8中任意一项所述的方法。
11.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至8中任意一项所述的方法。
12.一种车辆，其特征在于，所述车辆用于执行权利要求1至8中任意一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片的算力性能指标的测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定多个所述单核区域块对应的单核整数算力性能指标，得到多个所述单核整数算力性能指标，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于所述整数测试数据，确定多个所述单核整数算力性能指标，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，基于多个所述整数利用率，确定多个所述单核区域块对应的多个所述单核整数算力性能指标，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定多个所述单核区域块对应的单核浮点算力性能指标，得到多个所述单核浮点算力性能指标，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，基于所述浮点数测试数据，得到多个所述单核浮点算力性能指标，包括：
7.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘国亮，王强，赵目龙，张凯，朱航绪，高嘉颖，于腾，赵晓雪，
申请(专利权)人：中国第一汽车股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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