【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及通过式探测，特别是涉及一种通过式探测装置及其检测校准方法和装置。
技术介绍
1、通过式探测装置是一种检测人员有无携带目标物品的探测装置，又称通过式探测器。这种通过式探测装置主要应用在机场、车站、大型会议等人流较大的公共场所，用来检查人身体上隐藏的目标物品。
2、通过式探测装置主要是左右各一套发射线圈，为了提高探测精度，可以交替采用不同的模式来探测。例如：当左右发射线圈的磁场方向同向时，认为是叠加场；当左右发射线圈的磁场方向相反时，认为是相斥场。对于叠加场，在x轴磁通面积最大，在y、z轴磁通面积最小，其中，x轴与两侧门板中心之间的连线平行，y轴与通过式探测装置通道的出入方向平行，z轴与重力方向平行。此时，假设探测物位手机，探测物以上述对应x轴的姿态(如目标物与门板平行)通过时，检测效果最好。对于相斥场，在y、z轴磁通面积大，此时探测物以上述对应y轴、z轴的姿态通过时，检测效果最好。在实际应用过程中，上述叠加场和相斥场作为两种不同的模式会交替进行，探测物会以不同的姿态通过通过式探测装置，此时各模式均会探测到不同的检测数据，在后续进行检测结果分析时，由于需要处理不同模式下的检测数据，导致检测效率低。因此如何提高检测效率成为本领域需要解决的问题。
技术实现思路
1、本专利技术实施例的目的是提供一种通过式探测装置及其检测校准方法和装置，在使用过程中可以将所有检测数据统一到一个标准下，达到归一化的效果，便于在后续检测目标物时只需要设置一个阈值即可，利于提高检测效率，并
2、为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供了以下技术方案：
3、本专利技术一方面提供了一种通过式探测装置的检测校准方法，包括：
4、在探测物通过通过式探测装置时，获取所述通过式探测装置在不同模式下各个接收线圈的检测信号；
5、获取在不同模式下的模式系数，其中，所述模式系数用于体现不同模式所述检测信号的比例关系；
6、对于每一个模式得到的所述检测信号，采用所述模式对应的模式系数对所述检测信号进行校准。
7、在一种示例性的实施方式中，所述获取在不同模式下的模式系数，包括：
8、获取所述通过式探测装置通道内每个检测区位在不同模式下的模式系数；其中，不同的所述检测区位的高度不同；
9、则，所述对于每一个模式得到的所述检测信号，采用所述模式对应的模式系数对所述检测信号进行校准，包括：
10、对于每一个所述检测区位对应的接收线圈在每一个模式下得到的所述检测信号，利用所述检测区位及所述模式对应的模式系数对所述检测信号进行校准。
11、在一种示例性的实施方式中，所述模式系数的确定方法，包括：
12、在所述通过式探测装置上的发射线圈工作于不同模式下时，分别采集金属标定物通过所述通过式探测装置时接收线圈的检测数据；
13、将其中一个模式作为基准模式；
14、对于每一模式，均基于所述模式的检测数据与所述基准模式的检测数据得到模式系数。
15、在一种示例性的实施方式中，所述在所述通过式探测装置上的发射线圈工作于不同模式下时，分别采集金属标定物通过所述通过式探测装置时接收线圈的检测数据，包括：
16、在所述通过式探测装置上的发射线圈工作于不同模式下时，分别采集金属标定物通过所述通过式探测装置时每一个接收线圈的检测数据；
17、则，所述对于每一模式，均基于所述模式的检测数据与所述基准模式的检测数据得到模式系数，包括：
18、对于每个所述模式，均基于所述模式下所有接收线圈的检测数据与所述基准模式下所有接收线圈的检测数据得到模式系数。
19、在一种示例性的实施方式中，所述在所述通过式探测装置上的发射线圈工作于不同模式下时，分别采集金属标定物通过所述通过式探测装置时接收线圈的检测数据，包括：
20、对于每个检测区位，在所述通过式探测装置上的发射线圈工作于不同模式下时，分别采集金属标定物通过所述检测区位时接收线圈的检测数据；其中，不同的所述检测区位的高度不同；
21、则，所述对于每一模式，均基于所述模式的检测数据与所述基准模式的检测数据得到模式系数，包括：
22、对于每个模式下的每个检测区位，根据所述模式下所述金属标定物通过所述检测区位时接收线圈的检测数据，与所述基准模式下所述金属标定物通过所述检测区位时接收线圈的检测数据，计算出所述检测区位与所述模式对应的模式系数。
23、在一种示例性的实施方式中，所述对于每个检测区位，在所述通过式探测装置上的发射线圈工作于不同模式下时，分别采集金属标定物通过所述检测区位时接收线圈的检测数据，包括：
24、针对每个检测区位，在所述通过式探测装置上的发射线圈工作于不同模式下时，分别采集金属标定物通过所述检测区位时每一个接收线圈的检测数据；
25、则，所述根据所述模式下所述金属标定物通过所述检测区位时接收线圈的检测数据，与所述基准模式下所述金属标定物通过所述检测区位时接收线圈的检测数据，计算出所述检测区位下与所述模式对应的模式系数，包括：
26、将在所述模式下，所述金属标定物通过所述检测区位时所有接收线圈的检测数据的幅度求和，得到在所述模式下与所述检测区位对应的第一幅度之和；
27、将在所述基准模式下，所述金属标定物通过所述检测区位时所有接收线圈的检测数据的幅度求和，得到在所述基准模式下与所述检测区位对应的基准幅度之和；
28、采用所述基准幅度之和除以所述第一幅度之和，得到所述检测区位下与所述模式对应的模式系数。
29、在一种示例性的实施方式中，所述金属标定物从所述检测区位的中间位置通过；其中，所述中间位置与一侧门板上相对的接收线圈的距离，与所述中间位置与另一侧门板上相对的接收线圈的距离相同。
30、在一种示例性的实施方式中，所述金属标定物的材料为没有磁性的金属。
31、本专利技术另一方面提供了一种通过式探测装置的检测校准装置，包括：
32、第一获取模块，用于在探测物通过通过式探测装置时，获取所述通过式探测装置在不同模式下各个接收线圈的检测信号；
33、第二获取模块，用于获取在不同模式下的模式系数；所述模式系数用于体现不同模式所述检测信号的比例关系；
34、校准模块，用于对于每一个模式得到的所述检测信号，采用所述模式对应的模式系数对所述检测信号进行校准。
35、本专利技术另一方面提供了一种通过式探测装置，包括存储器、处理器以及设置于所述通过式探测装置每侧门板上的多个发射线圈、多个接收线圈，其中：
36、所述存储器，用于存储计算机程序；
37、所述处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述所述通过式探测装置的检测校准方法的步骤。
38、在本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种通过式探测装置的检测校准方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的通过式探测装置的检测校准方法，其特征在于，所述获取在不同模式下的模式系数，包括：
3.根据权利要求1所述的通过式探测装置的检测校准方法，其特征在于，所述模式系数的确定方法，包括：
4.根据权利要求3所述的通过式探测装置的检测校准方法，其特征在于，所述在所述通过式探测装置上的发射线圈工作于不同模式下时，分别采集金属标定物通过所述通过式探测装置时接收线圈的检测数据，包括：
5.根据权利要求3所述的通过式探测装置的检测校准方法，其特征在于，所述在所述通过式探测装置上的发射线圈工作于不同模式下时，分别采集金属标定物通过所述通过式探测装置时接收线圈的检测数据，包括：
6.根据权利要求5所述的通过式探测装置的检测校准方法，其特征在于，所述对于每个检测区位，在所述通过式探测装置上的发射线圈工作于不同模式下时，分别采集金属标定物通过所述检测区位时接收线圈的检测数据，包括：
7.根据权利要求5所述的通过式探测装置的检测校准方法，其特征在于，所述金
8.根据权利要求5所述的通过式探测装置的检测校准方法，其特征在于，所述金属标定物的材料为没有磁性的金属。
9.一种通过式探测装置的检测校准装置，其特征在于，包括：
10.一种通过式探测装置，其特征在于，包括存储器、处理器以及设置于所述通过式探测装置每侧门板上的多个发射线圈、多个接收线圈，其中：
11.根据权利要求10所述的通过式探测装置，其特征在于，所述通过式探测装置的每侧门板上均设有第一发射线圈和第二发射线圈；其中，两侧门板上的所述第一发射线圈的电流方向相反时为模式一，两侧门板上的所述第一发射线圈的电流方向相同时为模式二，两侧门板上的所述第二发射线圈电流方向相反时为模式三。
12.根据权利要求11所述的通过式探测装置，其特征在于，所述通过式探测装置上位于不同门板上同一高度的两个接收线圈之间的区域为同一个检测区位。
...【技术特征摘要】
1.一种通过式探测装置的检测校准方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的通过式探测装置的检测校准方法，其特征在于，所述获取在不同模式下的模式系数，包括：
3.根据权利要求1所述的通过式探测装置的检测校准方法，其特征在于，所述模式系数的确定方法，包括：
4.根据权利要求3所述的通过式探测装置的检测校准方法，其特征在于，所述在所述通过式探测装置上的发射线圈工作于不同模式下时，分别采集金属标定物通过所述通过式探测装置时接收线圈的检测数据，包括：
5.根据权利要求3所述的通过式探测装置的检测校准方法，其特征在于，所述在所述通过式探测装置上的发射线圈工作于不同模式下时，分别采集金属标定物通过所述通过式探测装置时接收线圈的检测数据，包括：
6.根据权利要求5所述的通过式探测装置的检测校准方法，其特征在于，所述对于每个检测区位，在所述通过式探测装置上的发射线圈工作于不同模式下时，分别采集金属标定物通过所述检测区位时接收线圈的检测数据，包括：
7.根据权利要求5所述的通过式探测装置的...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭铭鹏，郑子树，
申请(专利权)人：深圳市安卫普科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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