【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及led芯片测试，具体是一种led芯片光学性能测试方法及系统。
技术介绍
1、led芯片是led灯的核心组件，具有将电能转化为光能的功能，其应用范围非常广泛，从最初的仪器仪表指示光源，到交通信号灯、大面积显示屏，再到现在的室内照明等领域，在led芯片的生产过程中，led芯片的光学性能成为了评价其质量的重要指标；
2、目前难以实现对led芯片光学性能的自动且准确评估，且在测试前不能合理判断led芯片的放置状况，以及在光学性能测试过程中无法精准反馈光照适宜性和光照稳定性，难以有效降低对光学性能测试结果精准性带来的不利影响，智能化和自动化水平低；
3、针对上述的技术缺陷，现提出一种解决方案。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种led芯片光学性能测试方法及系统，解决了现有技术难以实现对led芯片光学性能的自动且准确评估，且在测试前不能合理判断led芯片的放置状况，以及在光学性能测试过程中无法精准反馈光照适宜性和光照稳定性，智能化和自动化水平低的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
3、一种led芯片光学性能测试系统，包括芯片定位判断模块、光源控制模块、光学测试分析模块、光照适宜性评估模块和可视化模块；
4、在进行led芯片测试前，将待测试的led芯片固定在测试台上，芯片定位判断模块将led芯片的放置状况进行分析，通过分析生成定位判断合格信号或定位判断异常信号，将定位判断合格信号或定位判断
5、在生成定位判断合格信号时，光源控制模块使光源启动运行，为led芯片提供稳定、均匀的光照条件；
6、光学测试分析模块用于采集led芯片发出的光信号并进行处理分析，获取到led芯片的光学性能参数以生成光学性能测试结果，且将光学性能测试结果发送至可视化模块进行显示；
7、光源适宜性评估模块用于在led芯片的光学测试过程中实时监测并判断光照适宜性表现，通过分析生成光照高适宜信号或光照低适宜信号，且将光照高适宜信号或光照低适宜信号发送至可视化模块，可视化模块对光照高适宜信号或光照低适宜信号进行显示并在接收到光照低适宜信号时发出相应预警。
8、进一步的，芯片定位判断模块的具体分析过程如下：
9、通过监控摄像头采集到测试台的表面图像，将放置在测试台上的led芯片的覆盖区域标记为芯片实测区域，将芯片实测区域与所设定的标准覆盖区域进行重合检测以得到覆盖重合度，将覆盖重合度与预设覆盖重合度阈值进行数值比较，若覆盖重合度未超过预设覆盖重合度阈值，则生成定位判断异常信号。
10、进一步的，若覆盖重合度超过预设覆盖重合度阈值，则采集到测试台上的固定结构对led芯片上若干个位置所施加的压力并将其标记为接触压力，将接触压力与预设接触压力范围进行数值比较，将led芯片上接触压力未处于预设接触压力范围的位置数量占比值标记为压检异位数测值；
11、以及采集到led芯片的倾斜度并将其标记为芯片倾检值，并将覆盖重合度相较于预设覆盖重合度阈值的超出值标记为覆盖重超值；通过将覆盖重超值、芯片倾检值和压检异位数测值进行数值计算得到芯片定位综判值，将芯片定位综判值与预设芯片定位综判阈值进行数值比较，若芯片定位综判值超过预设芯片定位综判阈值，则生成定位判断异常信号；若芯片定位综判值未超过预设芯片定位综判阈值，则生成定位判断合格信号。
12、进一步的，光学测试分析模块的具体运行过程如下：
13、光信号采集：当光源根据光源控制模块的指令启动后，将稳定、均匀的光照会照射在放置在测试台上的led芯片上；通过高分辨率光电传感器接收led芯片在光源照射下发出的光信号；其中，这些光信号包含led芯片的亮度、色温、光谱分布的关键信息；
14、光信号处理：高分辨率光电传感器将接收到的光信号转换为电信号，通过信号放大器将转换后的电信号进行放大，以及通过信号滤波器消除电信号中的杂散噪声；
15、数据分析与处理：捕获经过放大和滤波后的电信号，并将其转换为数字信号，基于捕获的数字信号提取出led芯片的光学性能参数；其中，所提取的参数包括光通量、光强度、色温和色坐标；
16、数据校准与验证：进行数据的校准和验证以确保测试结果的准确性和可靠性，包括与标准光源的对比、多次测试取平均值和异常值剔除步骤。
17、进一步的，光照适宜性评估模块的具体运行过程包括：
18、采集到在led芯片所处测试环境中若干个检测点的光照强度，将所有检测点的光照强度进行方差计算以得到光照均匀性偏离值，将光照均匀性偏离值与预设光照均匀性偏离阈值进行数值比较，若光照均匀性偏离值超过预设光照均匀性偏离阈值，则生成光照低适宜信号。
19、进一步的，若光照均匀性偏离值未超过预设光照均匀性偏离阈值，则将光源所发出光照的光照色温相较于所设定标准色温的偏差值标记为色温检偏值，并将所有检测点的光照强度的均值相较于所设定标准光照强度的偏差值标记为光强检偏值；
20、以及采集到光源的光照方向，将光照方向相较于所设定方向的偏离程度标记为光向检偏值，通过将色温检偏值、光强检偏值和光向检偏值进行数值计算得到光适检测值，将光适检测值与预设光适检测阈值进行数值比较，若光适检测值超过预设光适检测阈值，则生成光照低适宜信号；若光适检测值未超过预设光适检测阈值，则生成光照高适宜信号。
21、进一步的，光照适宜性评估模块与光照稳定性决策模块通信连接，若单位时间内未生成光照低适宜信号，则通过光照稳定性决策模块对单位时间内的光照稳定性状况进行判断，获取到单位时间内的所有光适检测值，将所有光适检测值进行方差计算以得到光照稳定性偏离值，将光照稳定性偏离值与预设光照稳定性偏离阈值进行数值比较，若光照稳定性偏离值超过预设光照稳定性偏离阈值，则生成光照低稳定信号；
22、若光照稳定性偏离值未超过预设光照稳定性偏离阈值，则通过光照代点入系分析以得到光稳决策值，将光稳决策值与预设光稳决策阈值进行数值比较，若光稳决策值超过预设光稳决策阈值，则生成光照低稳定信号；若光稳决策值未超过预设光稳决策阈值，则生成光照高稳定信号。
23、进一步的，光照代点入系分析的具体分析如下：
24、以时间为x轴、光适检测值为y轴建立位于第一象限的直角坐标系，基于所有光适检测值以在直角坐标系中生成若干个坐标点并将其标记为光检点；
25、通过线段将相邻两组光检点连接并将相应线段标记为光变线段，将光变线段与水平直线之间所形成的锐角标记为光变检测值，将光变检测值与预设光变检测阈值进行数值比较，若光变检测值超过预设光变检测阈值，则将对应光变线段标记为异变线段；
26、获取到直角坐标系中异变线段的数量并将其标记为光照异变分析值，并将数值最大的光变检测值标记为光本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种LED芯片光学性能测试系统，其特征在于，包括芯片定位判断模块、光源控制模块、光学测试分析模块、光照适宜性评估模块和可视化模块；
2.根据权利要求1所述的一种LED芯片光学性能测试系统，其特征在于，芯片定位判断模块的具体分析过程如下：
3.根据权利要求2所述的一种LED芯片光学性能测试系统，其特征在于，若覆盖重合度超过预设覆盖重合度阈值，则采集到测试台上的固定结构对LED芯片上若干个位置所施加的压力并将其标记为接触压力，将LED芯片上接触压力未处于预设接触压力范围的位置数量占比值标记为压检异位数测值；
4.根据权利要求1所述的一种LED芯片光学性能测试系统，其特征在于，光学测试分析模块的具体运行过程如下：
5.根据权利要求1所述的一种LED芯片光学性能测试系统，其特征在于，光照适宜性评估模块的具体运行过程包括：
6.根据权利要求5所述的一种LED芯片光学性能测试系统，其特征在于，若光照均匀性偏离值未超过预设光照均匀性偏离阈值，则将光源所发出光照的光照色温相较于所设定标准色温的偏差值标记为色温检偏值，并将所有检测点的
7.根据权利要求1所述的一种LED芯片光学性能测试系统，其特征在于，光照适宜性评估模块与光照稳定性决策模块通信连接，若单位时间内未生成光照低适宜信号，则通过光照稳定性决策模块对单位时间内的光照稳定性状况进行判断，获取到单位时间内的所有光适检测值，将所有光适检测值进行方差计算以得到光照稳定性偏离值，若光照稳定性偏离值超过预设光照稳定性偏离阈值，则生成光照低稳定信号；
8.根据权利要求7所述的一种LED芯片光学性能测试系统，其特征在于，光照代点入系分析的具体分析如下：
9.根据权利要求1所述的一种LED芯片光学性能测试系统，其特征在于，还包括光学测试管控评估模块，光学测试管控评估模块用于设定检测周期，采集到检测周期内进行LED芯片光学性能测试的总时长并将其标记为光学测试总时值，且获取到检测周期内测试过程中光照低适宜信号的生成次数和光照低稳定信号的生成次数并将其分别标记为光照低适宜检频值和光照低稳定检频值；
10.一种LED芯片光学性能测试方法，其特征在于，该方法采用如权利要求1-9任意一项所述的LED芯片光学性能测试系统。
...【技术特征摘要】
1.一种led芯片光学性能测试系统，其特征在于，包括芯片定位判断模块、光源控制模块、光学测试分析模块、光照适宜性评估模块和可视化模块；
2.根据权利要求1所述的一种led芯片光学性能测试系统，其特征在于，芯片定位判断模块的具体分析过程如下：
3.根据权利要求2所述的一种led芯片光学性能测试系统，其特征在于，若覆盖重合度超过预设覆盖重合度阈值，则采集到测试台上的固定结构对led芯片上若干个位置所施加的压力并将其标记为接触压力，将led芯片上接触压力未处于预设接触压力范围的位置数量占比值标记为压检异位数测值；
4.根据权利要求1所述的一种led芯片光学性能测试系统，其特征在于，光学测试分析模块的具体运行过程如下：
5.根据权利要求1所述的一种led芯片光学性能测试系统，其特征在于，光照适宜性评估模块的具体运行过程包括：
6.根据权利要求5所述的一种led芯片光学性能测试系统，其特征在于，若光照均匀性偏离值未超过预设光照均匀性偏离阈值，则将光源所发出光照的光照色温相较于所设定标准色温的偏差值标记为色温检偏值，并将所有检测点的光照强度的均值相较于所设定...
【专利技术属性】
技术研发人员：程先金，徐金军，李园刚，张聪，杨重影，
申请(专利权)人：深圳市晶佳视电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。