【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光电解调板卡测试系统及方法，特别涉及一种集成化的光电解调板卡测试系统及方法。
技术介绍
1、在工业应用中，经常需要进行各类信号的传输，采用电信号进行传输时会受限于远距离压降和电磁干扰等影响，而使用光信号传输时，可大大提高可靠通信距离，而高速光电解调板卡便可用于光通信系统，将接收到的光信号转化为电信号并进行解调，再将解调到的数据通过网口通信发送到上位机进行监测。
2、目前通用的光电解调板卡如图1所示，硬件结构包括核心板1、fpga芯片2、da芯片3、ad芯片4、电源接口5、程序烧录接口6、网口7、作为da测试点8的sma连接器、作为ad测试点9的pin型光电探测器以及led灯模块10。
3、高速光电解调板卡制作流程包括电路设计、原理图绘制、pcb布局与走线规划、贴片及焊接工艺等，制作周期长，制作难度高。测试内容涉及到ad、da、数据解调、程序烧录、网口通信等多个模块，需要测试的内容多且杂，而目前针对高速光电解调板卡并没有比较系统性的测试方案，大多费时费力效率低，且容易出现测试失误、检测疏漏等问题，从而导致测试结果不准确、不全面。
技术实现思路
1、因此，鉴于现有技术的不足，本专利技术所要解决的技术问题是提供一种优化测试的光电解调板卡测试系统及方法。
2、本专利技术的一方面在于提供一种光电解调板卡测试系统，用于对包括多个测试点的待测板卡进行测试，其包括：硬件仪器，用于与待测板卡交互以获取待测板卡的测试数据，其包括电源、电压测试仪、示
3、在依照本专利技术的光电解调板卡测试系统中，所述测试程序模块包括如下测试模块：烧录测试模块，其调用烧录器将测试程序烧录至待测板卡，并判断程序烧录是否成功，网口通信测试模块，其基于网口连接与待测板卡进行通信，并基于该通信判断网口通信是否正常；和板卡自检测模块，用于从待测板卡获取其运行测试程序所获得的自检测数据，并基于获得的得自检测数据判断板卡是否合格。
4、在依照本专利技术的光电解调板卡测试系统中，所述网口通信测试模块向板卡测试程序设置好的ip和端口号发送网口测试命令，如测试程序成功接收该网口测试命令，则向网口通信测试模块发送反馈信息，如网口通信测试模块成功接收到正确的反馈信息，则判断与板卡的网口通信正常。
5、在依照本专利技术的光电解调板卡测试系统中，网口通信测试模块和/或板卡自检测模块对待测板卡进行测试时，待测板卡上的led灯以特定的方式显示以表示待测板卡的测试状态。
6、在依照本专利技术的光电解调板卡测试系统中，所述卡板基础检查模块包括使用向量化机器学习算法构建的一缺陷检测初始模型，并利用训练样本集和测试样本集对缺陷检测初始模型进行训练以获得缺陷检测模型，基于缺陷检测模型，卡板基础检查模块根据待测板卡的图像数据确定板卡是否有缺陷。
7、在依照本专利技术的光电解调板卡测试系统中，所述卡板基础检查模块包括模型训练模块，其利用训练样本集对缺陷检测初始模型进行训练，所述训练样本集为已标注好的板卡图像数据集，和模型评估与算法调整模块，其利用测试样本集对模型训练模块训练后的缺陷检测模型进行模型性能的评估，并调整缺陷检测模型的参数。
8、在依照本专利技术的光电解调板卡测试系统中，所述卡板基础检查模块包括图像预处理模块，用于对图像数据进行如下处理中一项或多项：去噪、增强、灰度化、二值化预处理，并输出图像预处理数据，和特征提取模块，用于从所述图像预处理数据中提取用于测试的如下特征中的一项或多项，所述特征为：颜色、纹理、形状、边缘，并将其转化为向量形式。
9、在依照本专利技术的光电解调板卡测试系统中，所述电压检测模块获取待测板卡的总电源电压值、ad电源电压值、da电源电压值中的一个或多个，并将获取的电压值与预定电压对比，以确定待测板卡是否合格。
10、在依照本专利技术的光电解调板卡测试系统中，所述示波器连接所述待测板卡的da测试点并根据指令提供所述测试数据中的所述da数据，所述信号发生器连接所述待测板卡的ad测试点并根据指令提供所述测试数据的所述ad数据。
11、在依照本专利技术的光电解调板卡测试系统中，所述控制装置为上位机，或设置在上位机中。
12、在依照本专利技术的光电解调板卡测试系统中，控制装置基于用户选择的测试模块以及设定的测试顺序对待测板卡进行检测。
13、本专利技术的另一方面在于提供一种光电解调板卡测试方法，用于对包括多个测试点的待测板卡进行测试，该测试方法基于硬件仪器进行，所述硬件仪器与待测板卡交互以获取待测板卡的测试数据，所述硬件仪器包括电源、电压测试仪、示波器、信号发生器和摄像设备，该测试方式包括基于控制程序以特定的顺序进行的如下测试步骤：卡板基础检查步骤，其调用摄像设备以获取待测板卡的图像，并根据获得的图像判断待测板卡是否合格；电压检测步骤，其调用电压测试仪对待测板卡的电压进行检测，并根据检测的电压值判断待测板卡是否合格；测试程序检测步骤，其用于将测试程序烧录至待测板卡，并基于测试程序测试待测板卡的网口以及实现板卡的自检，和数据采集测试步骤，其调用示波器和/或信号发生器，所述示波器与待测板卡的da测试点连接，所述信号发生器与待测板卡的ad测试点连接，以获得板卡的da和/或ad数据，并根据da和/或ad数据判断待测板卡是否合格。
14、在依照本专利技术的光电解调板卡测试方法中，所述测试程序检测步骤包括：烧录测试步骤，其调用烧录器将测试程序烧录至待测板卡，并判断程序烧录是否成功，网口通信测试步骤，其基于网口连接与待测板卡进行通信，并基于该通信判断网口通信是否正常；和板卡自检测步骤，用于从待测板卡获取其运行测试程序所获得的自检测数据，并基于获得的得自检测数据判断板卡是否合格。
15、在依照本专利技术的光电解调板卡测试方法中，所述卡板基础检查步骤包括使用向量化机器学习算法构建的一缺陷检测初始模型，并利用训练样本集和测试样本集对缺陷检测初始模型进行训练以获得缺陷检测模型，基于缺陷检测模型，根据待测板卡的图像数据确定板卡是否有缺陷。
16、在依照本专利技术的光电解调板卡测试方法中，所述卡板基础检查步骤包括图像预处理步骤，用于对图像数据进行如下处理中一项或多项：去噪、增强、灰度化、二值化预处理，并输出图像预处理数据，和特本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种光电解调板卡测试系统，用于对包括多个测试点的待测板卡进行测试，其特征在于包括：
2.如权利要求1所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：
3.如权利要求2所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：
4.如权利要求3所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：
5.如权利要求1所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：所述卡板基础检查模块包括使用向量化机器学习算法构建的一缺陷检测初始模型，并利用训练样本集和测试样本集对缺陷检测初始模型进行训练以获得缺陷检测模型，
6.如权利要求5所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：
7.如权利要求6所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：所述卡板基础检查模块包括图像预处理模块，用于对图像数据进行如下处理中一项或多项：去噪、增强、灰度化、二值化预处理，并输出图像预处理数据，和
8.如权利要求1所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：所述电压检测模块获取待测板卡的总电源电压值、AD电源电压值、DA电源电压值中的一个或多个，并将获取的电压值与预定电压对比，以确定待测板
9.如权利要求1所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：所述示波器连接所述待测板卡的DA测试点并根据指令提供所述测试数据中的所述DA数据，所述信号发生器连接所述待测板卡的AD测试点并根据指令提供所述测试数据的所述AD数据。
10.如权利要求1-9任一项所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：
11.如权利要求10所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：
12.一种光电解调板卡测试方法，用于对包括多个测试点的待测板卡进行测试，该测试方法基于硬件仪器进行，所述硬件仪器与待测板卡交互以获取待测板卡的测试数据，所述硬件仪器包括电源、电压测试仪、示波器、信号发生器和摄像设备，
13.如权利要求12所述的光电解调板卡测试方法，其特征在于：
14.如权利要求13所述的光电解调板卡测试方法，其特征在于：所述卡板基础检查步骤包括使用向量化机器学习算法构建的一缺陷检测初始模型，并利用训练样本集和测试样本集对缺陷检测初始模型进行训练以获得缺陷检测模型，
15.如权利要求14所述的光电解调板卡测试方法，其特征在于：所述卡板基础检查步骤包括图像预处理步骤，用于对图像数据进行如下处理中一项或多项：去噪、增强、灰度化、二值化预处理，并输出图像预处理数据，和
...【技术特征摘要】
1.一种光电解调板卡测试系统，用于对包括多个测试点的待测板卡进行测试，其特征在于包括：
2.如权利要求1所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：
3.如权利要求2所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：
4.如权利要求3所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：
5.如权利要求1所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：所述卡板基础检查模块包括使用向量化机器学习算法构建的一缺陷检测初始模型，并利用训练样本集和测试样本集对缺陷检测初始模型进行训练以获得缺陷检测模型，
6.如权利要求5所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：
7.如权利要求6所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：所述卡板基础检查模块包括图像预处理模块，用于对图像数据进行如下处理中一项或多项：去噪、增强、灰度化、二值化预处理，并输出图像预处理数据，和
8.如权利要求1所述的光电解调板卡测试系统，其特征在于：所述电压检测模块获取待测板卡的总电源电压值、ad电源电压值、da电源电压值中的一个或多个，并将获取的电压值与预定电压对比，以确定待测板卡是否合格。
9.如权利要求1所述的光电解调板卡测试系统，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：王欢，周自严，戴博，张峰，
申请(专利权)人：光越科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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