【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及计算机，尤其涉及一种芯片测试方法、装置及测试设备。
技术介绍
1、芯片供应商生产出芯片后，需对芯片的至少一个功能进行测试。并确定每个功能都可以正常运行时，将芯片提供给用户。用户可以根据芯片生产电子设备。
2、在实际应用过程中，若用户在根据芯片生产电子设备的过程中出现故障，则用户可以将芯片问题反馈给供应商。芯片供应商对芯片进行验证，并确定出现故障的原因。由于出现故障的原因并不是芯片本身出现故障，将芯片返回至供应商进行故障分析，导致确定故障原因的效率较低。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种芯片测试方法、装置及测试设备，用以解决确定芯片出现故障原因的效率较低的问题。
2、第一方面，本申请实施例提供一种芯片测试方法，包括：
3、响应于芯片插设至测试设备，获取所述芯片对应的历史运行日志；
4、根据所述历史运行日志，确定所述芯片对应的待测试功能；
5、在所述测试设备中确定所述待测试功能对应的应用程序，并通过所述应用程序对所述待测试功能进行测试，得到所述芯片对应的测试结果。
6、在一种可能的实施方式中，根据所述历史运行日志，确定所述芯片对应的待测试功能，包括：
7、确定所述历史运行日志对应的至少一个运行信息，所述运行信息包括运行时刻、至少一个应用程序、以及每个应用程序对应的运行状态；
8、在所述至少一个运行信息中，确定至少一个目标运行信息；
9、根据所述至少一个目标运
10、在一种可能的实施方式中，在所述至少一个运行信息中，确定至少一个目标运行信息，包括：
11、在所述至少一个运行信息中，确定至少一个待选运行信息，所述至少一个待选运行信息中的运行状态为预设状态；
12、根据运行时刻的先后顺序，对所述至少一个待选运行信息进行排序处理，得到目标排序；
13、将所述目标排序中，最后n个待选运行信息确定为所述至少一个目标运行信息，所述n为预设数量，所述n为大于或等于1的整数。
14、在一种可能的实施方式中，根据所述至少一个目标运行信息，确定所述芯片对应的待测试功能，包括：
15、确定每个目标运行信息对应的目标应用程序；
16、获取应用程序与测试功能之间的对应关系；
17、根据所述至少一个目标应用程序和所述对应关系，确定所述芯片对应的待测试功能。
18、在一种可能的实施方式中，通过所述应用程序对所述待测试功能进行测试，得到所述芯片对应的测试结果，包括：
19、根据所述应用程序运行所述待测试功能，得到第一运行日志；
20、确定所述第一运行日志对应的至少一个第一运行信息；
21、根据所述至少一个第一运行信息，确定所述芯片对应的测试结果。
22、在一种可能的实施方式中，根据所述至少一个第一运行信息，确定所述芯片对应的测试结果，包括：
23、若所述至少一个第一运行信息中、存在运行状态为预设状态的第一运行信息，则确定所述芯片对应的测试结果为测试功能异常；
24、若每个第一运行信息中的运行状态不为所述预设状态，则确定所述芯片对应的测试结果为测试功能正常。
25、在一种可能的实施方式中，所述测试设备包括显示屏以及插座；
26、响应于芯片插设至测试设备，获取所述芯片对应的历史运行日志，包括：
27、响应于所述芯片插设至所述测试设备的插座，获取所述测试设备的开机指令；
28、若在预设时长内，所述测试设备的显示屏响应所述开机指令，则获取所述芯片对应的历史运行日志。
29、在一种可能的实施方式中，所述方法还包括：
30、通过所述测试设备的显示屏显示所述测试结果。
31、第二方面，本申请实施例提供一种芯片测试装置，所述装置包括：
32、获取模块，用于响应于芯片插设至测试设备，获取所述芯片对应的历史运行日志；
33、确定模块，用于根据所述历史运行日志，确定所述芯片对应的待测试功能；
34、测试模块，用于在所述测试设备中确定所述待测试功能对应的应用程序，并通过所述应用程序对所述待测试功能进行测试，得到所述芯片对应的测试结果。
35、在一种可能的实施方式中，所述确定模块具体用于：
36、确定所述历史运行日志对应的至少一个运行信息，所述运行信息包括运行时刻、至少一个应用程序、以及每个应用程序对应的运行状态；
37、在所述至少一个运行信息中，确定至少一个目标运行信息；
38、根据所述至少一个目标运行信息，确定所述芯片对应的待测试功能。
39、在一种可能的实施方式中，所述确定模块具体用于：
40、在所述至少一个运行信息中，确定至少一个待选运行信息，所述至少一个待选运行信息中的运行状态为预设状态；
41、根据运行时刻的先后顺序，对所述至少一个待选运行信息进行排序处理，得到目标排序；
42、将所述目标排序中，最后n个待选运行信息确定为所述至少一个目标运行信息，所述n为预设数量，所述n为大于或等于1的整数。
43、在一种可能的实施方式中，所述确定模块具体用于：
44、确定每个目标运行信息对应的目标应用程序；
45、获取应用程序与测试功能之间的对应关系；
46、根据所述至少一个目标应用程序和所述对应关系，确定所述芯片对应的待测试功能。
47、在一种可能的实施方式中，所述测试模块具体用于：
48、根据所述应用程序运行所述待测试功能，得到第一运行日志；
49、确定所述第一运行日志对应的至少一个第一运行信息；
50、根据所述至少一个第一运行信息，确定所述芯片对应的测试结果。
51、在一种可能的实施方式中，所述测试模块具体用于：
52、若所述至少一个第一运行信息中、存在运行状态为预设状态的第一运行信息，则确定所述芯片对应的测试结果为测试功能异常；
53、若每个第一运行信息中的运行状态不为所述预设状态，则确定所述芯片对应的测试结果为测试功能正常。
54、在一种可能的实施方式中，所述获取模块具体用于：
55、响应于所述芯片插设至所述测试设备的插座，获取所述测试设备的开机指令；
56、若在预设时长内，所述测试设备的显示屏响应所述开机指令，则获取所述芯片对应的历史运行日志。
57、在一种可能的实施方式中，所述装置还包括显示模块。
58、其中，所述显示模块用于：
59、通过所述测试设备的显示屏显示所述测试结果。
60、第三方面，本申请提供一种芯片，所述芯片上存储有计算机程序，所述计算机程序被所述芯片执行时，实现如第一方面任一项所本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述历史运行日志，确定所述芯片对应的待测试功能，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述至少一个运行信息中，确定至少一个目标运行信息，包括：
4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，根据所述至少一个目标运行信息，确定所述芯片对应的待测试功能，包括：
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，通过所述应用程序对所述待测试功能进行测试，得到所述芯片对应的测试结果，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述至少一个第一运行信息，确定所述芯片对应的测试结果，包括：
7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述测试设备包括显示屏以及插座；
8.根据权利要求1-7任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
9.一种芯片测试装置，其特征在于，所述装置包括：
10.一种测试设备，其特征在于，包括：
11.一种存储有计算机指令的非
12.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至8中任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述历史运行日志，确定所述芯片对应的待测试功能，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述至少一个运行信息中，确定至少一个目标运行信息，包括：
4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，根据所述至少一个目标运行信息，确定所述芯片对应的待测试功能，包括：
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，通过所述应用程序对所述待测试功能进行测试，得到所述芯片对应的测试结果，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述至少一个第一运行信...
【专利技术属性】
技术研发人员：安明明，刘诚英，谢相林，黎斌，
申请(专利权)人：西安紫光展锐科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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