【技术实现步骤摘要】
本公开涉及显示，尤其涉及一种测试基板、显示面板及制备方法、显示装置。
技术介绍
1、随着显示技术的不断发展，显示面板已经得到了广泛的应用，人们对显示面板的要求也越来越高；其中，大尺寸、高像素密度(pixels per inch；简称ppi)和高刷新频率是显示面板的重要发展方向。显示面板工作时，像素电路的驱动晶体管的阈值电压补偿时间越来越短，如何提升像素电路的驱动晶体管的阈值电压补偿时间是当前显示面板发展过程中面临的一个重要技术问题。
技术实现思路
1、本公开的实施例的目的在于提供一种测试基板、显示面板及制备方法、显示装置，用于检测测试基板的驱动晶体管，并降低显示面板的制备成本。
2、为达到上述目的，本公开的实施例提供了如下技术方案：
3、一方面，提供一种测试基板。所述测试基板包括像素电路、第一信号线和测试电路。所述像素电路包括驱动晶体管、数据写入子电路和补偿控制子电路。所述驱动晶体管的控制极与第一节点电连接，第一极与第二节点电连接，第二极与第三节点电连接，所述第二节点和所述第三节点中的一者被配置为耦合至发光元件，另一者被配置为耦合至电源电压信号端。所述数据写入子电路与数据信号线、第一扫描信号端和所述第一节点电连接，被配置为在来自所述第一扫描信号端的第一扫描信号的控制下，将来自所述数据信号线的数据信号传输至所述第一节点。所述补偿控制子电路与第二扫描信号端、所述第一节点和所述第二节点电连接，被配置为在来自所述第二扫描信号端的第二扫描信号的控制下，将所述第一节点与
4、上述测试基板可以对像素电路的驱动晶体管进行检测。在对测试基板进行检测时，一方面，测试电路在来自测试信号端的测试信号的控制下，将第三节点与第一信号线电连接。另一方面，向第一节点传输一个电压信号，以打开驱动晶体管，并向第二节点传输一个电压信号。此时，会产生一个流经驱动晶体管的检测电流，且该检测电流从第二节点流向第三节点，该检测电流的大小与驱动晶体管的阈值电压vth相关。并且可以通过第一信号线对传输至第三节点的检测电流进行采集。然后，传输至第一节点的电压和传输至第二节点的电压是可以确定的，基于此，可以通过采集到的第三节点的检测电流计算得到驱动晶体管的阈值电压vth，然后判断驱动晶体管的阈值电压vth是否符合驱动晶体管的使用条件，如果符合条件则进一步将测试基板制备形成显示面板。如果至少一个像素电路的驱动晶体管不符合条件，则对测试基板进行其他处理。避免不符合条件的测试基板进入后段制程中，降低不符合条件的测试基板在后段制程中的材料和工序浪费，降低显示面板的制备成本。
5、在一些实施例中，所述像素电路还包括第一功能子电路。所述第一功能子电路与第一功能控制信号端、第二信号线和所述第三节点电连接，被配置为在来自所述第一功能控制信号端的第一功能控制信号的控制下，将所述第二信号线与所述第三节点电连接。其中，所述测试基板包括多列所述像素电路，所述第二信号线被配置为与至少一列所述像素电路电连接。所述测试基板包括至少一个所述测试电路，所述测试电路与所述第二信号线电连接，且通过所述第二信号线与所述像素电路的所述第三节点电连接。
6、在一些实施例中，一条所述第二信号线被配置为与一列所述像素电路电连接。所述测试基板包括多个所述测试电路，一个所述测试电路与一条所述第二信号线电连接。
7、在一些实施例中，所述第二信号线被配置为与全部所述像素电路电连接。所述测试基板包括一个所述测试电路，所述测试电路与所述第二信号线电连接。
8、在一些实施例中，所述像素电路还包括第一功能子电路，所述第一功能子电路与第一功能控制信号端、第二信号线和所述第三节点电连接，被配置为在来自所述第一功能控制信号端的第一功能控制信号的控制下，将所述第二信号线与所述第三节点电连接。所述测试基板包括多个所述像素电路和多个所述测试电路，一个所述测试电路与一个所述像素电路的所述第三节点直接电连接。
9、在一些实施例中，所述第一功能子电路包括发光控制子电路和第一初始化子电路。所述发光控制子电路与第一发光控制信号端、第一电压信号线和所述第三节点电连接，被配置为在来自所述第一发光控制信号端的发光控制信号的控制下，将所述第一电压信号线与所述第三节点电连接。所述第一初始化子电路与第三扫描信号端、第二电压信号线和所述第三节点电连接，所述第一初始化子电路被配置为在来自所述第三扫描信号端的第三扫描信号的控制下，将所述第二电压信号线与所述第三节点电连接。所述第二信号线包括所述第一电压信号线和所述第二电压信号线。
10、在一些实施例中，所述测试电路包括测试晶体管，所述测试晶体管的控制极与所述测试信号端电连接，第一极与所述第一信号线电连接，第二极与所述第三节点电连接。
11、在一些实施例中，所述数据写入子电路包括第二晶体管、第三晶体管和第一电容器；所述第二晶体管的控制极与所述第一扫描信号端电连接，第一极与所述数据信号线电连接，第二极与第四节点电连接；所述第一电容器的一个极板与所述第一节点电连接，另一个极板与所述第四节点电连接。
12、所述像素电路还包括第二初始化子电路、第二发光控制子电路、第三初始化子电路和上拉子电路。所述第二初始化子电路与第四扫描信号端、第三电压信号线和所述第一节点电连接，被配置为在来自所述第四扫描信号端的第四扫描信号的控制下，将来自所述第三电压信号线的第三电压信号传输至所述第一节点。所述第二发光控制子电路与第二发光控制信号端、所述第二节点和第五节点电连接，被配置为在来自所述第二发光控制信号端的第二发光控制信号的控制下，将所述第二节点与所述第五节点电连接；所述第五节点被配置为与发光元件电连接。所述第三初始化子电路与第五扫描信号端、第四电压信号线和所述第五节点电连接，被配置为在来自所述第五扫描信号端的第五扫描信号的控制下，将所述第五节点与所述第四电压信号线电连接。所述上拉子电路与第六扫描信号端、第五电压信号线和所述第四节点电连接，被配置为在来自所述第六扫描信号端的第六扫描信号的控制下，将所述第五电压信号线与所述第四节点电连接。所述第一信号线包括所述数据信号线、所述第三电压信号线和所述第四电压信号线中的一者。
13、另一方面，提供一种显示面板。所述显示面板包括像素电路、第一信号线和测试电路。所述像素电路包括驱动晶体管、数据写入子电路和补偿控制子电路；其中，所述驱动晶体管的控制极与第一节点电连接，第一极与第二节点电连接，第二极与第三节点电连接，所述第二节点和所述第三节点中的一者被配置为耦合至发光元件，另一者被配置为耦合至电源电压信号端；所述数据写入子电路与数据信号线、第一扫描信号端本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种测试基板，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试基板，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的测试基板，其特征在于，
4.根据权利要求2所述的测试基板，其特征在于，
5.根据权利要求1所述的测试基板，其特征在于，
6.根据权利要求2～5中任一项所述的测试基板，其特征在于，
7.根据权利要求1所述的测试基板，其特征在于，
8.根据权利要求1所述的测试基板，其特征在于，
9.一种显示面板，其特征在于，包括：
10.根据权利要求9所述的显示面板，其特征在于，
11.根据权利要求10所述的显示面板，其特征在于，所述测试电路包括测试晶体管，所述测试晶体管包括：
12.根据权利要求11所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：
13.根据权利要求12所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：
14.根据权利要求11所述的显示面板，其特征在于，
15.根据权利要求14所述的显示面板，其特征在于，>
16.根据权利要求14所述的显示面板，其特征在于，
17.根据权利要求14～16中任一项所述的显示面板，其特征在于，
18.根据权利要求17所述的显示面板，其特征在于，
19.一种显示面板的制备方法，其特征在于，所述制备方法包括：
20.一种显示装置，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种测试基板，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试基板，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的测试基板，其特征在于，
4.根据权利要求2所述的测试基板，其特征在于，
5.根据权利要求1所述的测试基板，其特征在于，
6.根据权利要求2～5中任一项所述的测试基板，其特征在于，
7.根据权利要求1所述的测试基板，其特征在于，
8.根据权利要求1所述的测试基板，其特征在于，
9.一种显示面板，其特征在于，包括：
10.根据权利要求9所述的显示面板，其特征在于，
11.根据权利要求10所述的显示面板，其特征在于，所述测试电路包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：冯靖伊，朱莉，袁长龙，张振华，曹席磊，沈武林，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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