一种金属探测设备的校准设备制造技术

技术编号:42684196 阅读:3 留言:0更新日期:2024-09-10 12:33
本技术公开了一种金属探测设备的校准设备,涉及金属探测设备技术领域,针对了由于手动将金属样本穿过金属探测器的方式难以保证在穿过过程中金属样本恒定于同一高度进行水平运动,从而影响对于金属探测校准的精确性的问题,包括底座,底座顶部表面的一端固定有连接框体,连接框体的一端设置有安装板,安装板的底部设置有转动盘,安装板顶部的表面固定有电机,电机的输出端穿过安装板并与转动盘顶部的表面相固定,转动盘的底部设置有连接板;本技术便于对于金属探测仪进行校准检测工作,且此过程中稳定不会出现金属样本在检测过程中离金属探测器忽远忽近的情况发生,从而提高了检测的精确性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及金属探测设备校准,具体是涉及一种金属探测设备的校准设备


技术介绍

1、金属探测器是一种应用广泛的探测器。主要有三大类:电磁感应型,x射线检测型,微波检测型,是用于探测金属的电子仪器,可应用于多个领域,而在金属探测设备投入使用前,需要先对金属探测设备进行性能检测,检测金属探测设备能否正常工作并由此对金属探测器进行校准。

2、传统对于金属探测设备的检测校准工作大多手动将金属长条或者金属小球塑封制成样品,并使其以不同的高度通过探测设备,以模拟不同高度尺寸的玩具等产品通过探测设备,观察探测设备是否报警,但由于手动将金属样本穿过金属探测器的方式难以保证在穿过过程中金属样本恒定于同一高度进行水平运动,从而影响对于金属探测校准的精确性,不利于使用。

3、因此,需要一种金属探测设备的校准设备,解决现有技术中存在的由于手动将金属样本穿过金属探测器的方式难以保证在穿过过程中金属样本恒定于同一高度进行水平运动,从而影响对于金属探测校准的精确性的问题。


技术实现思路

1、为解决上述技术问题,提供一种金属探测设备的校准设备,解决了现有技术中由于手动将金属样本穿过金属探测器的方式难以保证在穿过过程中金属样本恒定于同一高度进行水平运动,从而影响对于金属探测校准的精确性的问题。

2、为达到以上目的,本技术采用的技术方案为:一种金属探测设备的校准设备,包括底座,所述底座顶部表面的一端固定有连接框体,所述连接框体的一端设置有安装板,所述安装板的底部设置有转动盘,所述安装板顶部的表面固定有电机,所述电机的输出端穿过安装板并与转动盘顶部的表面相固定,所述转动盘的底部设置有连接板,所述连接板中间位置处的表面贯穿开设有抵触槽,所述抵触槽的内部贯穿插设有抵触杆,所述抵触杆的顶部与转动盘底部的表面相固定,所述连接板底部表面额度中间位置处固定有底框体,所述底框体底部表面的内腔滑动插设有呈对称分布的第一螺纹套,所述第一螺纹套底部的表面固定有夹座。

3、优选的,两个所述第一螺纹套的中间位置处贯穿螺纹连接有第一螺纹杆,所述第一螺纹杆的一侧与底框体内腔面的一侧呈转动连接设置,所述第一螺纹杆的另一侧穿过底框体并延伸出底框体的外部。

4、优选的,所述连接框体的内腔面转动连接有第二螺纹杆,所述第二螺纹杆外周面的顶部穿过连接框体并延伸出连接框体的外部,所述第二螺纹杆延伸出连接框体外部部分的表面固定有套环。

5、优选的,所述第二螺纹杆位于连接框体内部部分的外周面螺纹连接有第二螺纹套,所述第二螺纹套的一端与安装板靠近连接框体一端的表面相固定。

6、优选的,所述连接板靠近连接框体一端的表面贯穿开设有呈t形设置的支撑槽,所述支撑槽的中间位置处贯穿插设有支撑条,所述支撑条一端的表面与第二螺纹套的表面相固定。

7、优选的,所述支撑条中间位置处的表面呈t形设置,所述支撑条两侧的表面呈矩形设置,所述支撑条中间位置处的表面与支撑槽的内腔面相贴合。

8、与现有技术相比,本技术的优点在于:

9、1、通过将金属样本固定于两个夹座的中间位置处,并在金属探测器置于底座的桌面放置在启动电机后使得连接板能够带动金属样本沿水平方向做往复运动,从而能够使得金属样本反复穿过金属探测器的上端,从而便于对于金属探测仪进行校准检测工作,且此过程中稳定不会出现金属样本在检测过程中离金属探测器忽远忽近的情况发生,从而提高了检测的精确性,从而提高了该装置的实用性;

10、2、通过转动第一螺纹杆能够使得两个夹座之间的间距能够发生变化,从而便于夹持多种不同长度尺寸的金属样本,通过转动第二螺纹杆使得金属样本与底座桌面之间的间距发生变化,从而便于根据实际所需调节金属探测器的检测范围调节金属样本离金属探测器之间的高度,从而提高了该装置的适用范围,从而进一步提高了该装置的实用性。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种金属探测设备的校准设备,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)顶部表面的一端固定有连接框体(2),所述连接框体(2)的一端设置有安装板(3),所述安装板(3)的底部设置有转动盘(4),所述安装板(3)顶部的表面固定有电机(5),所述电机(5)的输出端穿过安装板(3)并与转动盘(4)顶部的表面相固定,所述转动盘(4)的底部设置有连接板(6),所述连接板(6)中间位置处的表面贯穿开设有抵触槽(8),所述抵触槽(8)的内部贯穿插设有抵触杆(7),所述抵触杆(7)的顶部与转动盘(4)底部的表面相固定,所述连接板(6)底部表面额度中间位置处固定有底框体(9),所述底框体(9)底部表面的内腔滑动插设有呈对称分布的第一螺纹套(11),所述第一螺纹套(11)底部的表面固定有夹座(12)。

2.根据权利要求1所述的一种金属探测设备的校准设备,其特征在于,两个所述第一螺纹套(11)的中间位置处贯穿螺纹连接有第一螺纹杆(10),所述第一螺纹杆(10)的一侧与底框体(9)内腔面的一侧呈转动连接设置,所述第一螺纹杆(10)的另一侧穿过底框体(9)并延伸出底框体(9)的外部。

3.根据权利要求1所述的一种金属探测设备的校准设备,其特征在于,所述连接框体(2)的内腔面转动连接有第二螺纹杆(15),所述第二螺纹杆(15)外周面的顶部穿过连接框体(2)并延伸出连接框体(2)的外部,所述第二螺纹杆(15)延伸出连接框体(2)外部部分的表面固定有套环(16)。

4.根据权利要求3所述的一种金属探测设备的校准设备,其特征在于,所述第二螺纹杆(15)位于连接框体(2)内部部分的外周面螺纹连接有第二螺纹套(17),所述第二螺纹套(17)的一端与安装板(3)靠近连接框体(2)一端的表面相固定。

5.根据权利要求4所述的一种金属探测设备的校准设备,其特征在于,所述连接板(6)靠近连接框体(2)一端的表面贯穿开设有呈T形设置的支撑槽(13),所述支撑槽(13)的中间位置处贯穿插设有支撑条(14),所述支撑条(14)一端的表面与第二螺纹套(17)的表面相固定。

6.根据权利要求5所述的一种金属探测设备的校准设备,其特征在于,所述支撑条(14)中间位置处的表面呈T形设置,所述支撑条(14)两侧的表面呈矩形设置,所述支撑条(14)中间位置处的表面与支撑槽(13)的内腔面相贴合。

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【技术特征摘要】

1.一种金属探测设备的校准设备,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)顶部表面的一端固定有连接框体(2),所述连接框体(2)的一端设置有安装板(3),所述安装板(3)的底部设置有转动盘(4),所述安装板(3)顶部的表面固定有电机(5),所述电机(5)的输出端穿过安装板(3)并与转动盘(4)顶部的表面相固定,所述转动盘(4)的底部设置有连接板(6),所述连接板(6)中间位置处的表面贯穿开设有抵触槽(8),所述抵触槽(8)的内部贯穿插设有抵触杆(7),所述抵触杆(7)的顶部与转动盘(4)底部的表面相固定,所述连接板(6)底部表面额度中间位置处固定有底框体(9),所述底框体(9)底部表面的内腔滑动插设有呈对称分布的第一螺纹套(11),所述第一螺纹套(11)底部的表面固定有夹座(12)。

2.根据权利要求1所述的一种金属探测设备的校准设备,其特征在于,两个所述第一螺纹套(11)的中间位置处贯穿螺纹连接有第一螺纹杆(10),所述第一螺纹杆(10)的一侧与底框体(9)内腔面的一侧呈转动连接设置,所述第一螺纹杆(10)的另一侧穿过底框体(9)并延伸出底框体(9)的外部。

3.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈格
申请(专利权)人:吉林时代计量检测有限公司
类型:新型
国别省市:

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