【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光通信，具体涉及一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装。
技术介绍
1、liv测试是一种广泛用于光电材料、芯片、器件性能评估的测试，可以帮助我们了解激光二极管性能的行为情况，如：功率、温度、效率等，还可以帮助我们了解激光二极管的工作效率是否合格、有无缺陷和损坏，以及可能的故障原因。
2、半导体激光器光电参数测试仪作为进行liv测试的主要仪器，其在工作中各项参数的稳定性和准确性对测试结果影响很大，在研发和制造过程中需要对半导体激光器光电参数测试仪各项参数进行多项计量和校准。
3、当前，在计量校准半导体激光器光电参数测试仪的各项参数时，通常使用多个不同功能的计量装置，对半导体激光器光电参数测试仪的各项功能模块分别进行计量测试，以方便后续进行校准。整个计量测试流程中所需的装置仪器众多，每项测试后都需要重复接线，以进行下一项测试，过程繁琐、耗时长，反复插接线的过程中发生接线错误的概率大。需要一种集成各项计量测试功能的工装，简化半导体激光器光电参数测试仪的计量校准流程，提高计量校准的工作效率。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，集成各项计量测试功能的，简化半导体激光器光电参数测试仪的计量校准流程，提高计量校准的工作效率。
2、为实现上述目的，本技术通过以下技术方案实现：
3、一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，包括外部接口、ld纹波测量模块、电压测量模块、ld电流测量模块、p
4、所述外部接口分别与ld纹波测量模块、电压测量模块、ld电流测量模块、pd测量模块、currx电流测量模块连接；
5、所述外部负载接口包括8芯航插接口、sma接口和currx接口，ld纹波测量模块与8芯航插接口中的ld+接口和gnd接口连接，电压测试模块与8芯航接口插中的所有接口和sma接口连接，ld电流测试模块与ld+接口和gnd接口连接，pd测量模块中的正负极分别与8芯航插接口中的pd+、pd-连接，currx电流测量模块与半导体激光器光电参数测试仪的currx端和gnd接口连接。
6、进一步地：所述外部接口包括电流表正极接口、电流表负极接口、电压表正极接口、电压表负极接口。
7、进一步地：所述ld纹波测量模块包括依次串联的电流探头、滤波电路、隔直电容、可调负载和开关k8。
8、进一步地：所述电压测量模块包括并联的测量电路一和测量电路二，测量电路一上串联有8芯航插接口和开关k1、测量电路二上串联有sma接口和开关k7。
9、更进一步地：测量电路一和测量电路二上分别并联有可调负载。
10、进一步地：所述ld电流测量模块包括串联的负载电阻一和开关k2。负载电阻一起到带载测量的效果，带载测量数值相较会更稳定也更接近被检表实际使用情况。
11、更进一步地：所述ld电流测量模块上还并联有电容一。
12、进一步地：所述pd测量模块上串联有开关k3。
13、进一步地：所述currx电流测量电路包括串联的负载电阻二、开关k6，和与负载电阻二、开关k6并联的电容二。
14、进一步地：所述可调负载为可调谐标准电阻器，可调谐标准电阻器均为外接方式，且集成为统一接口。可自由调节通路是否短接、断开或带载，增加测量方式的多样性。
15、相对原技术，本技术具有以下有益效果：
16、一、优化计量校准流程：本装置通过集成的计量校准工装，将负载接口统一插入半导体激光器光电参数测试仪上需要计量校准的测试功能模块接口上后，只需打开或关闭开关，就能实现不同的测试电路功能；同时观察电压变或电流表，便能反映半导体激光器光电参数测试仪的各项测试功能模块的准确性。使校准半导体激光器光电参数测试仪的流程简单明了，避免不停地切换设备，并重复接线，这将提高校准的效率，节省时间和人力资源，防止接线错误带来的测量错误。
17、二、提高测试的稳定性：通过增加电容来防止电路振荡，并加入隔直电路，该技术方案能够增强测量的稳定性。这将提高测试结果的准确性，并减少外界干扰对测量结果的影响。
18、三、提高小电流纹波测量精度：针对小电流源的纹波测量，该技术方案提供了ld端驱动电流的纹波电流测试的两套测量方案。同时，加入了隔直电路，提高了纹波测量的稳定性和准确度。这将使得对小电流纹波的测量更加精确，提高测试的可靠性。
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1.一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，其特征在于：包括外部接口、LD纹波测量模块、电压测量模块、LD电流测量模块、PD测量模块、CURRX电流测量模块和外部负载接口；
2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，其特征在于：所述外部接口包括电流表正极接口、电流表负极接口、电压表正极接口、电压表负极接口。
3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，其特征在于：所述LD纹波测量模块包括依次串联的电流探头、滤波电路、隔直电容、可调负载和开关K8。
4.根据权利要求1所述的一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，其特征在于：所述电压测量模块包括并联的测量电路一和测量电路二，测量电路一上串联有8芯航插接口和开关K1、测量电路二上串联有SMA接口和开关K7。
5.根据权利要求4所述的一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，其特征在于：测量电路一和测量电路二上分别并联有可调负载。
6.根据权利要求1所述的一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，其特征在于：所述LD
7.根据权利要求6所述的一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，其特征在于：所述LD电流测量模块上还并联有电容一。
8.根据权利要求1所述的一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，其特征在于：所述PD测量模块上串联有开关K3。
9.根据权利要求1所述的一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，其特征在于：所述CURRX电流测量模块包括串联的负载电阻二、开关K6，和与负载电阻二、开关K6并联的电容二。
10.根据权利要求3或5所述的任一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，其特征在于：所述可调负载为可调谐标准电阻器，可调谐标准电阻器均为外接方式，且集成为统一接口。
...【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，其特征在于：包括外部接口、ld纹波测量模块、电压测量模块、ld电流测量模块、pd测量模块、currx电流测量模块和外部负载接口；
2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，其特征在于：所述外部接口包括电流表正极接口、电流表负极接口、电压表正极接口、电压表负极接口。
3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，其特征在于：所述ld纹波测量模块包括依次串联的电流探头、滤波电路、隔直电容、可调负载和开关k8。
4.根据权利要求1所述的一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，其特征在于：所述电压测量模块包括并联的测量电路一和测量电路二，测量电路一上串联有8芯航插接口和开关k1、测量电路二上串联有sma接口和开关k7。
5.根据权利要求4所述的一种半导体激光器光电参数测试仪计量校准工装，...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘健，石杏，曾志豪，任彬，
申请(专利权)人：广电计量检测武汉有限公司，
类型：新型
国别省市：
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