【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及激光器检测，具体涉及一种半导体激光器检测用检测机台。
技术介绍
1、半导体激光器又称激光二极管，是用半导体材料作为工作物质的激光器，半导体激光器体积小、寿命长，并可采用简单的注入电流的方式来泵浦（泵浦是一种使用光将电子从原子或分子中的较低能级升高或“泵”到较高能级的过程，通常用于激光结构），其工作电压和电流与集成电路兼容，因而可与之单片集成，并且还可以用高达ghz的频率直接进行电流调制以获得高速调制的激光输出。半导体激光器在激光通信、光存储、光陀螺、激光打印、测距以及雷达等方面得到了广泛的应用。
2、如公开号为cn208043674u，授权公告日为2018年11月2日，名称为《一种半导体激光器温度功率特性测量装置》的专利，该专利包括加热/制冷器、温度传感器、温控系统、样品室、电流源和激光功率计；其中，同温控系统分别同加热/制冷器和温度传感器连接，加热/制冷器和温度传感器均设置于样品室内；样品室内安装待测的半导体激光器，样品室侧壁上设有一个能让激光光束通过的开孔，激光功率计的探头对着开孔；电流源同待测的半导体激光器连接供电。该专利测量时，将待测的半导体激光器安装于样品室内，并与电流源相连接。在温控系统中设置目标温度，令加热/制冷器开始工作。待样品室内温度上升或下降到目标温度后，开启并调节电流源，为待测的半导体激光器提供工作电流，利用激光功率计测量在设定环境温度与设定工作电流下的输出光功率，从而得到待测半导体激光器的温度功率特性。
3、现有技术的不足之处在于，现有技术中有如上述专利对半导体激光器
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种半导体激光器检测用检测机台，以解决现有技术中的上述不足之处。
2、为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
3、一种半导体激光器检测用检测机台，包括底板，所述底板上设置有夹持单元，所述底板上还设置有检测单元，所述检测单元包括控温机构和判定机构，
4、所述夹持单元包括调节机构和上料机构，所述调节机构设置在所述底板上端一侧，所述调节机构上端设置有所述上料机构；
5、所述调节机构包括调节杆，所述调节杆的一端以螺纹配合的方式设置在所述底板内，所述调节杆的另一端以转动的方式设置有连接架，所述连接架上以转动的方式设置有两个连接杆的一端，每一个所述连接杆的另一端以转动的方式设置有一个滑动架，每一个所述滑动架的下端并列设置有两个第一滑动块，所述底板上端设置有多个滑动槽，每一个滑动槽内各以滑动的方式设置有一个所述第一滑动块，每一个所述滑动架下侧设置有一个锁紧螺栓，调节杆外侧设置有螺纹，且连接架与调节杆之间仅能相互旋转而不能相互移动，调节杆、连接架、连接杆与滑动架之间形成连杆机构，使得调节杆移动时能够通过连接杆带动滑动架同时靠近或远离；
6、所述上料机构包括两个竖直板，每一个所述竖直板上各设置有一个双端输出电机，每一个所述双端输出电机的转轴两端各设置有一个上料板，且两个所述上料板关于所述双端输出电机本体对称布置，每一个滑动架上端各设置有一个竖直板，竖直板在设置有上料板的位置开设有缺口，滑动架上端为圆弧形板，圆弧形板的上端抵接竖直板的侧面，且圆弧形板上在上料板的位置也对应设置有缺口，竖直板上的缺口与圆弧形板上的缺口位置相对应，缺口方便上料板在竖直板上旋转，两个双端输出电机受控制器控制，双端输出电机用于带动与其连接的两个上料板同步旋转以便上料板对半导体激光器进行间歇上料；
7、所述控温机构包括夹持板，所述夹持单元内以滑动的方式设置有两个所述夹持板，每一个所述夹持板与所述夹持单元之间均设置有两个第一弹簧，所述夹持板内设置有电热丝，每一个滑动架相互靠近的一侧以滑动的方式设置有一个夹持板；
8、所述判定机构包括竖直杆，所述竖直杆下端插接在所述底板远离所述夹持单元的一端，所述竖直杆上端以转动的方式设置有检测板，所述检测板上设置有检测件。
9、上述的，所述上料板外侧设置有橡胶层以保护半导体激光器。
10、上述的，所述上料机构还包括两个卷片，每一个所述卷片靠近所述滑动架上侧的一端缠绕有一个卷杆，所述卷杆以转动的方式设置在所述滑动架内，且所述卷杆的两端与所述滑动架之间均设置有卷簧。
11、上述的，所述判定机构还包括锁紧杆，所述锁紧杆以滑动的方式设置在所述底板内，所述锁紧杆与所述底板之间设置有第二弹簧。
12、上述的，所述判定机构还包括锁紧块，所述锁紧块以滑动的方式套设在所述竖直杆上侧，所述锁紧块与所述竖直杆之间设置有两个第三弹簧，所述锁紧块上端设置有卡杆，所述检测板下端设置有至少两个卡孔，卡杆滑动设置在卡孔内。
13、上述的，每一个所述夹持板包括两个滑动杆和一个条形板，各所述滑动杆均以滑动的方式设置在所述滑动架内，每一个所述滑动杆与所述滑动架之间设置有第一弹簧，所述条形板远离所述滑动杆的一侧设置有半圆槽，所述半圆槽沿其长度方向设置有隔膜，所述隔膜具备弹性，所述隔膜外侧面设置有温度传感器，所述条形板设有半圆槽的一面设置有橡胶层，所述条形板关于半圆槽对称设置有多个吸孔，所述吸孔设置在橡胶层上，所述条形板上端与所述滑动架之间通过所述卷片相连，所述条形板内沿所述半圆槽布置有所述电热丝。
14、上述的，所述夹持单元还包括支撑机构，所述支撑机构包括挤压杆，每一个所述滑动架上以滑动的方式并列设置有两个挤压杆，各所述挤压杆下端对应布置有一个支撑架，所述底板上设置有多个安装架，每一个所述安装架内以滑动的方式设置有一个所述支撑架，所述支撑架与所述安装架之间设置有复位件，所述滑动架中部还对应设置有矩形槽，所述支撑架的一端穿过矩形槽，所述支撑架与矩形槽之间设置有弹性件，挤压杆与滑动杆远离条形板的一端相连接，挤压杆的另一端设置有斜面，且复位件与弹性件均处于支撑架下端，支撑架为l形杆，支撑架的拐角处并列设置有两个梯形滑块，梯形滑块以滑动的方式设置在安装架内，安装架沿其长度方向设置有移动槽，移动槽的侧边沿其长度方向设置有梯形滑槽，支撑架通过梯形滑块与梯形滑槽以滑动的方式设置在安装架的移动槽内，支撑架靠近条形板的一端设置有橡胶块。
15、上述的，所述支撑架包括滑动段和调节段，所述滑动段上端设置有滚轮，滚轮与所述挤压杆的斜面相贴合，所述调节段以滑动的方式套设在所述滑动段的下端，所述滑动段与所述调节段之间通过调节螺栓相连接，且所述调节段上设置有调节槽，所述调节螺栓的一端滑动设置在调节槽内并以螺纹配合的方式安装在所述滑动段内。
16、上述的，所述检测板上布置所述检测件的密度从所述检测板中部向边缘处逐渐降低，所述检测件在所述检测板中部的数量远超在所述检测板边缘处的数量。
17、在上述技术方案中，本专利技术的有益效果在于：通过所述夹本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种半导体激光器检测用检测机台，包括底板（1），所述底板（1）上设置有夹持单元（2），所述底板（1）上还设置有检测单元（3），所述检测单元（3）包括控温机构（31）和判定机构（32），其特征在于，
2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器检测用检测机台，其特征在于，所述上料板（222）外侧设置有橡胶层以保护半导体激光器。
3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器检测用检测机台，其特征在于，所述上料机构（22）还包括两个卷片（223），每一个所述卷片（223）靠近所述滑动架（213）上侧的一端缠绕有一个卷杆（224），所述卷杆（224）以转动的方式设置在所述滑动架（213）内，且所述卷杆（224）的两端与所述滑动架（213）之间均设置有卷簧。
4.根据权利要求1所述的一种半导体激光器检测用检测机台，其特征在于，所述判定机构（32）还包括锁紧杆（323），所述锁紧杆（323）以滑动的方式设置在所述底板（1）内，所述锁紧杆（323）与所述底板（1）之间设置有第二弹簧（324）。
5.根据权利要求1所述的一种半导体激光器检测用检测机台，
6.根据权利要求3所述的一种半导体激光器检测用检测机台，其特征在于，每一个所述夹持板（310）包括两个滑动杆（3101）和一个条形板（3102），各所述滑动杆（3101）均以滑动的方式设置在所述滑动架（213）内，每一个所述滑动杆（3101）与所述滑动架（213）之间设置有第一弹簧（311），所述条形板（3102）远离所述滑动杆（3101）的一侧设置有半圆槽（3103），所述半圆槽（3103）沿其长度方向设置有隔膜（3104），所述隔膜（3104）具备弹性，所述隔膜（3104）外侧面设置有温度传感器3105，所述条形板（3102）设有半圆槽（3103）的一面设置有橡胶层，所述条形板（3102）关于半圆槽（3103）对称设置有多个吸孔（3106），所述吸孔（3106）设置在橡胶层上，所述条形板（3102）上端与所述滑动架（213）之间通过所述卷片（223）相连，所述条形板（3102）内沿所述半圆槽（3103）布置有所述电热丝（312）。
7.根据权利要求1所述的一种半导体激光器检测用检测机台，其特征在于，所述夹持单元（2）还包括支撑机构（23），所述支撑机构（23）包括挤压杆（230），每一个所述滑动架（213）上以滑动的方式并列设置有两个挤压杆（230），各所述挤压杆（230）下端对应布置有一个支撑架（231），所述底板（1）上设置有多个安装架（232），每一个所述安装架（232）内以滑动的方式设置有一个所述支撑架（231），所述支撑架（231）与所述安装架（232）之间设置有复位件（233），所述滑动架（213）中部还对应设置有矩形槽，所述支撑架（231）的一端穿过矩形槽，所述支撑架（231）与矩形槽之间设置有弹性件（234），挤压杆（230）与滑动杆（3101）远离条形板（3102）的一端相连接，挤压杆（230）的另一端设置有斜面，且复位件（233）与弹性件（234）均处于支撑架（231）下端，支撑架（231）为L形杆，支撑架（231）的拐角处并列设置有两个梯形滑块，梯形滑块以滑动的方式设置在安装架（232）内，安装架（232）沿其长度方向设置有移动槽，移动槽的侧边沿其长度方向设置有梯形滑槽，支撑架（231）通过梯形滑块与梯形滑槽以滑动的方式设置在安装架（232）的移动槽内，支撑架（231）靠近条形板（3102）的一端设置有橡胶块。
8.根据权利要求7所述的一种半导体激光器检测用检测机台，其特征在于，所述支撑架（231）包括滑动段（2311）和调节段（2312），所述滑动段（2311）上端设置有滚轮，滚轮与所述挤压杆（230）的斜面相贴合，所述调节段（2312）以滑动的方式套设在所述滑动段（2311）的下端，所述滑动段（2311）与所述调节段（2312）之间通过调节螺栓（2313）相连接，且所述调节段（2312）上设置有调节槽，所述调节螺栓（2313）的一端滑动设置在调节槽内并以螺纹配合的方式安装在所述滑动段（2311）内。
9.根据权利要求1所述的一种半导体激光器检测用检测机台，其特征在于，所述检测板（321）上布置所述检测件（322）的密度从所述检测板（321）中部向边缘处...
【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器检测用检测机台，包括底板（1），所述底板（1）上设置有夹持单元（2），所述底板（1）上还设置有检测单元（3），所述检测单元（3）包括控温机构（31）和判定机构（32），其特征在于，
2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器检测用检测机台，其特征在于，所述上料板（222）外侧设置有橡胶层以保护半导体激光器。
3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器检测用检测机台，其特征在于，所述上料机构（22）还包括两个卷片（223），每一个所述卷片（223）靠近所述滑动架（213）上侧的一端缠绕有一个卷杆（224），所述卷杆（224）以转动的方式设置在所述滑动架（213）内，且所述卷杆（224）的两端与所述滑动架（213）之间均设置有卷簧。
4.根据权利要求1所述的一种半导体激光器检测用检测机台，其特征在于，所述判定机构（32）还包括锁紧杆（323），所述锁紧杆（323）以滑动的方式设置在所述底板（1）内，所述锁紧杆（323）与所述底板（1）之间设置有第二弹簧（324）。
5.根据权利要求1所述的一种半导体激光器检测用检测机台，其特征在于，所述判定机构（32）还包括锁紧块（325），所述锁紧块（325）以滑动的方式套设在所述竖直杆（320）上侧，所述锁紧块（325）与所述竖直杆（320）之间设置有两个第三弹簧（326），所述锁紧块（325）上端设置有卡杆（3250），所述检测板（321）下端设置有至少两个卡孔，卡杆（3250）滑动设置在卡孔内。
6.根据权利要求3所述的一种半导体激光器检测用检测机台，其特征在于，每一个所述夹持板（310）包括两个滑动杆（3101）和一个条形板（3102），各所述滑动杆（3101）均以滑动的方式设置在所述滑动架（213）内，每一个所述滑动杆（3101）与所述滑动架（213）之间设置有第一弹簧（311），所述条形板（3102）远离所述滑动杆（3101）的一侧设置有半圆槽（3103），所述半圆槽（3103）沿其长度方向设置有隔膜（3104），所述隔膜（3104）具备弹性，所述隔膜（3104）外侧面设置有温度传感器3105，所述条形板（3102）设有半圆槽（3103）的一面设置有橡胶层，所述条形板（3102）关于半圆槽（3103）对称设置有多个吸孔（3106），所述吸孔（3106）设置在橡胶层上，所述条形板（3102）上端与...
【专利技术属性】
技术研发人员：卢勇，黄竹，周聪，
申请(专利权)人：成都安瞳半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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