【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试设备，尤其涉及一种芯片导通性测试夹具。
技术介绍
1、芯片生产完成后，需要对芯片进行导通检测，以检测芯片内部的电路是否存在断路的现象，确保芯片能够达到正常的工作效果。目前在对芯片进行导通性测试时，通常只能对一种形状的芯片进行检测，不能对其他形状的芯片进行检测。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种芯片导通性测试夹具能有效地对不同形状的芯片进行固定，便于对检测机构多个第二凹槽内的芯片进行测试，有效提高芯片的测试效率。
2、为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：一种芯片导通性测试夹具，包括测试平台，所述测试平台的上端固定连接有检测机构，所述测试平台的上端设有第一凹槽，所述第一凹槽的底部固定连接有转动电机，所述转动电机的驱动轴竖直朝上设置，所述转动电机的驱动轴上同轴固定连接有第一皮带轮，所述第一凹槽的底部转动连接有支撑杆，所述支撑杆上同轴固定连接有第二皮带轮，所述第二皮带轮与第一皮带轮传动连接，所述支撑杆的上端固定连接有放置板，所述放置板位于测试平台的上方，所述放置板位于检测机构的正下方，所述放置板的上端设有多个第二凹槽，所述第二凹槽的内壁上设有第一滑槽，所述第一滑槽为环形槽，所述第一滑槽内设有多块第一滑块，所述第一滑块的侧壁上固定连接有水平板，所述水平板上设有上下连通的第一通孔，且第一通孔内贯穿设有固定杆，所述固定杆设置于水平板靠近第一滑槽的一端上，所述固定杆的下端与第二凹槽的底部活动连接，所述水平板
3、所述弹性机构包括固定设置于连接板上端的伸缩杆，所述伸缩杆的上端与第三凹槽的顶面固定连接，所述伸缩杆上套设有弹簧，所述连接板的下端转动连接有连动杆，所述第三凹槽的底部滑动连接有滑动板，所述滑动板靠近第一滑槽的一端侧壁与连动杆远离连接板的一端转动连接，所述滑动板远离第一滑槽的一端侧壁上固定连接有水平杆，所述水平杆位于第三凹槽外的一端固定连接有用于芯片的固定板，所述固定板远离水平杆的一端侧壁上固定连接有橡胶垫。
4、优选地，所述第二凹槽的设有多个固定孔，多个所述固定孔呈圆形排列设置，所述固定杆的下端位于固定孔。
5、优选地，所述第三凹槽的底部设有第二滑槽，所述第二滑槽内设有第二滑块，所述第二滑块的上端与滑动板的下端固定连接。
6、本专利技术中，根据芯片的形状调节第一滑块的位置，拉动拉杆带动固定板移动，将固定板向拉水平板拉进，将芯片放置于第二凹槽内，解除对拉杆的固定时在弹簧的作用下，使得固定板复位，能对芯片进行有效的固定，能有效的对不同形状的芯片进行有效的固定，提高装夹治具的使用范围，通过电机工作转动放置板转动，便于检测机构多个第二凹槽内的芯片进行测试，能有效的提高芯片的测试的效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种芯片导通性测试夹具，包括测试平台（1），所述测试平台（1）的上端固定连接有检测机构（2），其特征在于，所述测试平台（1）的上端设有第一凹槽（3），所述第一凹槽（3）的底部固定连接有转动电机（4），所述转动电机（4）的驱动轴竖直朝上设置，所述转动电机（4）的驱动轴上同轴固定连接有第一皮带轮（5），所述第一凹槽（3）的底部转动连接有支撑杆（6），所述支撑杆（6）上同轴固定连接有第二皮带轮（7），所述第二皮带轮（7）与第一皮带轮（5）传动连接，所述支撑杆（6）的上端固定连接有放置板（8），所述放置板（8）位于测试平台（1）的上方，所述放置板（8）位于检测机构（2）的正下方，所述放置板（8）的上端设有多个第二凹槽（9）；
2.根据权利要求1所述的芯片导通性测试夹具，其特征在于：所述第二凹槽（9）的设有多个固定孔，多个所述固定孔呈圆形排列设置，所述固定杆（12）的下端位于固定孔。
3.根据权利要求1所述的芯片导通性测试夹具，其特征在于：所述第三凹槽（23）的底部设有第二滑槽（26），所述第二滑槽（26）内设有第二滑块（27），所述第二滑块（27）的上端与滑动
...【技术特征摘要】
1.一种芯片导通性测试夹具，包括测试平台（1），所述测试平台（1）的上端固定连接有检测机构（2），其特征在于，所述测试平台（1）的上端设有第一凹槽（3），所述第一凹槽（3）的底部固定连接有转动电机（4），所述转动电机（4）的驱动轴竖直朝上设置，所述转动电机（4）的驱动轴上同轴固定连接有第一皮带轮（5），所述第一凹槽（3）的底部转动连接有支撑杆（6），所述支撑杆（6）上同轴固定连接有第二皮带轮（7），所述第二皮带轮（7）与第一皮带轮（5）传动连接，所述支撑杆（6）的上端固定连接有放置板（8），所述放置板（8...
【专利技术属性】
技术研发人员：王丽，张成，位贤龙，陈松，姚燕杰，
申请(专利权)人：安徽凯尔通讯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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