红外探测器批量质检系统技术方案

技术编号:42673061 阅读:8 留言:0更新日期:2024-09-10 12:26
本技术公开了红外探测器批量质检系统,包括底面台座,底面台座上设有光轴,光轴包括光轴a和光轴b;光轴a上套接有检测盘,光轴a旋转带动检测盘旋转,检测盘上呈圆形阵列布置有若干红外探测器,红外探测器的针脚连接有嵌入检测盘的电路转换板;光轴b上套接有托架,托架包括沿着轴线自上往下依次布置的托架a、托架b和托架c;托架a连接有光源,托架b连接有气体腔体,光源、气体腔体和处于检测状态的红外探测器同轴设置,托架c连接有放大电路板,放大电路板与红外探测器的针脚接触。通过上述结构的设置实现了批量质检,解决了现有技术中操作员在红外探测器质检时效率较低和劳动强度大的技术问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于红外气体传感器,涉及一种红外探测器批量质检系统


技术介绍

1、红外探测器是将红外辐射信号转变成电信号输出的器件,是红外气体传感器中的核心零部件,其性能好坏会直接影响传感器的性能和检测精度。红外气体传感器制造厂商在使用探测器前,首先要再次对其进行质量检测,以确保红外探测器可以正常工作并且剔除质量不合格的红外探测器。目前探测器质检采用人工检测方式。由于红外探测器体积小,操作员采用探测器引脚锁紧方式,利用万用表人工读取探测器输出值并判断是否合格,此流程费时费力,效率低下,劳动强度大。


技术实现思路

1、本技术的目的是提供一种红外探测器批量质检系统,解决了现有技术中操作员在红外探测器质检时效率较低和劳动强度大的技术问题。

2、本技术所采用的技术方案是,红外探测器批量质检系统,包括底面台座,底面台座上设有光轴,光轴包括光轴a和光轴b;光轴a上套接有检测盘,光轴a旋转带动检测盘旋转,检测盘上呈圆形阵列布置有若干红外探测器,红外探测器的针脚连接有嵌入检测盘的电路转换板;光轴b上套接有托架,托架包括沿着轴线自上往下依次布置的托架a、托架b和托架c;托架a连接有光源,托架b连接有气体腔体,光源、气体腔体和处于检测状态的红外探测器同轴设置,托架c连接有放大电路板,放大电路板与红外探测器的针脚接触。

3、本技术的特点还在于,

4、托架a和托架b上均开有通槽,通槽上均设有托板,托板通过螺栓和螺母固定连接在托架a上;

5、托架a上的托板与光源相连,托架a上的托板至少连接一个光源;

6、托架b上的托板与气体腔体相连,托架b上的托板至少连接一个气体腔体。

7、托架c上设置有放大电路板底板,放大电路板底板表面与放大电路板连接,放大电路板上至少与一个红外探测器的针脚接触。

8、托架b和托架c之间设有托架d,托架d套接与光轴b外壁,托架d上开有通槽,托架d通过贯穿通槽的螺栓和螺母连接有连接板,连接板连接有位置传感器;检测盘周向设置有若干与红外探测器位置对应的感应片,位置传感器与感应片相配合。

9、光轴a上套接有双面切割法兰,双面切割法兰与光轴a通过销轴固定连接,检测盘卡接在双面切割法兰上。

10、底面台座上设有方形轴承,方形轴承外圈与底面台座固接,光轴a套接于方形轴承内圈。

11、底面台座内设有步进电机,光轴a穿过底面台座的一端通过联轴器与步进电机的输出轴连接。

12、底面台座内壁固接有铝方管,步进电机内嵌于铝方管内且与铝方管通过螺栓固定连接。

13、底面台座侧壁还设有步进电机控制板、usb接口、电源接口、电源开关和工作指示灯,步进电机控制板与步进电机信号连接,usb接口与放大电路板电性连接,工作指示灯和电源接口与电源开关电性连接。

14、步进电机的型号为byg250a。

15、本技术的有益效果是:

16、本技术可对红外探测器进行自动批量质检,并自动记录标记质检结果,具有效率高、检测结果准确、劳动强度低等优势。使用本技术检测一批红外探测器的时间为20s,检测单只探测器时间仅为1s,质检效率相对于人工检测提高约96.7%的效率。且相较于人工检测,避免了人工操作过程中产生的人为误差。解决了现有技术中操作员在红外探测器质检时效率较低和劳动强度大的技术问题。

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【技术保护点】

1.红外探测器批量质检系统,其特征在于,包括底面台座(6),底面台座(6)上设有光轴(1),光轴(1)包括光轴a和光轴b;光轴a上套接有检测盘(2),光轴a旋转带动检测盘(2)旋转,检测盘(2)上呈圆形阵列布置有若干红外探测器(15),红外探测器(15)的针脚连接有嵌入检测盘(2)的电路转换板(3);光轴b上套接有托架(11),托架(11)包括沿着轴线自上往下依次布置的托架a、托架b和托架c;托架a连接有光源(13),托架b连接有气体腔体(14),光源(13)、气体腔体(14)和处于检测状态的红外探测器(15)同轴设置,托架c连接有放大电路板(8),放大电路板(8)与红外探测器(15)的针脚接触。

2.根据权利要求1所述的红外探测器批量质检系统,其特征在于,所述托架a和托架b上均开有通槽,通槽上均设有托板(12),托板(12)通过螺栓和螺母固定连接在托架a上;

3.根据权利要求2所述的红外探测器批量质检系统,其特征在于,所述托架c上设置有放大电路板底板(7),放大电路板底板(7)表面与放大电路板(8)连接,放大电路板(8)上至少与一个红外探测器(15)的针脚接触。

4.根据权利要求1所述的红外探测器批量质检系统,其特征在于,所述托架b和托架c之间设有托架d,托架d套接与光轴b外壁,托架d上开有通槽,托架d通过贯穿通槽的螺栓和螺母连接有连接板(10),连接板(10)连接有位置传感器(9);所述检测盘(2)周向设置有若干与红外探测器(15)位置对应的感应片(16),位置传感器(9)与感应片(16)相配合。

5.根据权利要求1所述的红外探测器批量质检系统,其特征在于,所述光轴a上套接有双面切割法兰(4),双面切割法兰(4)与光轴a通过销轴固定连接,所述检测盘(2)卡接在双面切割法兰(4)上。

6.根据权利要求1所述的红外探测器批量质检系统,其特征在于,所述底面台座(6)上设有方形轴承(5),方形轴承(5)外圈与底面台座(6)固接,光轴a套接于方形轴承(5)内圈。

7.根据权利要求1所述的红外探测器批量质检系统,其特征在于,所述底面台座(6)内设有步进电机(18),光轴a穿过底面台座(6)的一端通过联轴器(24)与步进电机(18)的输出轴连接。

8.根据权利要求7所述的红外探测器批量质检系统,其特征在于,所述底面台座(6)内壁固接有铝方管(17),所述步进电机(18)内嵌于铝方管(17)内且与铝方管(17)通过螺栓固定连接。

9.根据权利要求7所述的红外探测器批量质检系统,其特征在于,所述底面台座(6)侧壁还设有步进电机控制板(19)、USB接口(20)、电源接口(21)、电源开关(22)和工作指示灯(23),所述步进电机控制板(19)与所述步进电机(18)信号连接,USB接口(20)与放大电路板(8)电性连接,工作指示灯(23)和电源接口(21)与电源开关(22)电性连接。

10.根据权利要求7-9中任一项所述的红外探测器批量质检系统,其特征在于,所述步进电机(18)的型号为BYG250A。

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【技术特征摘要】

1.红外探测器批量质检系统,其特征在于,包括底面台座(6),底面台座(6)上设有光轴(1),光轴(1)包括光轴a和光轴b;光轴a上套接有检测盘(2),光轴a旋转带动检测盘(2)旋转,检测盘(2)上呈圆形阵列布置有若干红外探测器(15),红外探测器(15)的针脚连接有嵌入检测盘(2)的电路转换板(3);光轴b上套接有托架(11),托架(11)包括沿着轴线自上往下依次布置的托架a、托架b和托架c;托架a连接有光源(13),托架b连接有气体腔体(14),光源(13)、气体腔体(14)和处于检测状态的红外探测器(15)同轴设置,托架c连接有放大电路板(8),放大电路板(8)与红外探测器(15)的针脚接触。

2.根据权利要求1所述的红外探测器批量质检系统,其特征在于,所述托架a和托架b上均开有通槽,通槽上均设有托板(12),托板(12)通过螺栓和螺母固定连接在托架a上;

3.根据权利要求2所述的红外探测器批量质检系统,其特征在于,所述托架c上设置有放大电路板底板(7),放大电路板底板(7)表面与放大电路板(8)连接,放大电路板(8)上至少与一个红外探测器(15)的针脚接触。

4.根据权利要求1所述的红外探测器批量质检系统,其特征在于,所述托架b和托架c之间设有托架d,托架d套接与光轴b外壁,托架d上开有通槽,托架d通过贯穿通槽的螺栓和螺母连接有连接板(10),连接板(10)连接有位置传感器(9);所述检测盘(2)周向设置有若干与红外探测器(15)位置对应的感应片(16),位...

【专利技术属性】
技术研发人员:宋栓军程彪张家豪周进良刘臻
申请(专利权)人:西安工程大学
类型:新型
国别省市:

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