【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数据处理，具体涉及一种高频段频谱分析方法及系统。
技术介绍
1、在无线通信、雷达探测和电子对抗等高科技领域中，高频段频谱分析技术发挥着举足轻重的作用。随着技术的不断进步和应用的不断拓展，对频谱分析的准确性和可靠性的要求也越来越高。然而，在实际操作中，高频段频谱分析经常受到各种因素的干扰，特别是环境噪声和设备运行噪声的影响，这些噪声源不仅复杂多变，而且难以完全消除，给频谱分析带来了极大的挑战。传统的频谱分析方法往往只关注信号本身的特性，忽略了环境因素和设备状态对测试结果的影响。这导致在高频段频谱分析中，即使采用最先进的仪器和技术，也难以获得准确可靠的测试结果。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种高频段频谱分析方法及系统，解决了现有技术中由于噪声影响导致高频段频谱分析结果不准确的技术问题。
2、鉴于上述问题，本申请实施例提供了一种高频段频谱分析方法及系统。
3、本申请实施例的第一个方面，提供了一种高频段频谱分析方法，所述方法包括：
4、在环境内采集目标设备发送预设指令时的设备测试信号，并采集环境内的环境特征参数；根据所述环境特征参数，进行测试信号的噪声影响分析，获得环境噪声影响参数；基于所述环境特征参数，进行频谱分析设备的设备运行影响分析，获得设备运行特征参数，并进行测试信号的噪声影响分析，获得设备噪声影响参数；对所述设备测试信号进行基础滤噪处理，并基于环境噪声影响参数和设备噪声影响参数，对基础滤噪后的设备测试信号进行环境滤噪处理
5、本申请实施例的第二个方面，提供了一种高频段频谱分析系统，所述系统包括：
6、采集模块，所述采集模块用于在环境内采集目标设备发送预设指令时的设备测试信号，并采集环境内的环境特征参数；第一分析模块，所述第一分析模块用于根据所述环境特征参数，进行测试信号的噪声影响分析，获得环境噪声影响参数；第二分析模块，所述第二分析模块用于基于所述环境特征参数，进行频谱分析设备的设备运行影响分析，获得设备运行特征参数，并进行测试信号的噪声影响分析，获得设备噪声影响参数；滤噪处理模块，所述滤噪处理模块用于对所述设备测试信号进行基础滤噪处理，并基于环境噪声影响参数和设备噪声影响参数，对基础滤噪后的设备测试信号进行环境滤噪处理和设备滤噪处理，获得滤噪测试信号以及复合信噪比；频谱分析模块，所述频谱分析模块用于基于频谱分析设备，对设备运行特征参数进行频谱分析，获得频谱分析结果；计算模块，所述计算模块用于根据所述复合信噪比，计算确定进行目标设备性能集成分析的集成比例；性能分析模块，所述性能分析模块用于分析获取所述环境特征参数对所述目标设备的性能影响系数，对所述集成比例进行修正，获得修正集成比例，按照所述修正集成比例，基于集成分析，对所述频谱分析结果进行目标设备的性能分析，获得设备性能分析结果。
7、本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
8、首先，在环境内采集目标设备发送预设指令时的设备测试信号，并采集环境内的环境特征参数。然后，根据环境特征参数，进行测试信号的噪声影响分析，获得环境噪声影响参数。基于环境特征参数，进行频谱分析设备的设备运行影响分析，获得设备运行特征参数，并进行测试信号的噪声影响分析，获得设备噪声影响参数。接着，对设备测试信号进行基础滤噪处理，并基于环境噪声影响参数和设备噪声影响参数，对基础滤噪后的设备测试信号进行环境滤噪处理和设备滤噪处理，获得滤噪测试信号以及复合信噪比。基于频谱分析设备，对设备运行特征参数进行频谱分析，获得频谱分析结果。根据复合信噪比，计算确定进行目标设备性能集成分析的集成比例。最后，分析获取环境特征参数对目标设备的性能影响系数，对集成比例进行修正，获得修正集成比例，按照修正集成比例，基于集成分析，对频谱分析结果进行目标设备的性能分析，获得设备性能分析结果。解决了现有技术中由于噪声影响导致高频段频谱分析结果不准确的技术问题，通过滤噪处理达到了提高频谱分析准确性的技术效果。
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1.一种高频段频谱分析方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的一种高频段频谱分析方法，其特征在于，在环境内采集目标设备发送预设指令时的设备测试信号，并采集环境内的环境特征参数，包括：
3.根据权利要求1所述的一种高频段频谱分析方法，其特征在于，基于所述环境特征参数，进行频谱分析设备的设备运行影响分析，获得设备运行特征参数，并进行测试信号的噪声影响分析，获得设备噪声影响参数，包括：
4.根据权利要求1所述的一种高频段频谱分析方法，其特征在于，根据所述环境特征参数，进行测试信号的噪声影响分析，获得环境噪声影响参数，包括：
5.根据权利要求1所述的一种高频段频谱分析方法，其特征在于，对所述设备测试信号进行基础滤噪处理，并基于环境噪声影响参数和设备噪声影响参数，对所述基础滤噪后的设备测试信号进行环境滤噪处理和设备滤噪处理，获得滤噪测试信号以及复合信噪比，包括：
6.根据权利要求1所述的一种高频段频谱分析方法，其特征在于，分析获取所述环境特征参数对所述目标设备的性能影响系数，对所述集成比例进行修正，获得修正集成比
7.根据权利要求6所述的一种高频段频谱分析方法，其特征在于，根据所述修正集成比例，基于集成分析，对所述频谱分析结果进行目标设备的性能分析，包括：
8.一种高频段频谱分析系统，其特征在于，用于实施权利要求1-7任意一项所述的一种高频段频谱分析方法，所述系统包括：
...【技术特征摘要】
1.一种高频段频谱分析方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的一种高频段频谱分析方法，其特征在于，在环境内采集目标设备发送预设指令时的设备测试信号，并采集环境内的环境特征参数，包括：
3.根据权利要求1所述的一种高频段频谱分析方法，其特征在于，基于所述环境特征参数，进行频谱分析设备的设备运行影响分析，获得设备运行特征参数，并进行测试信号的噪声影响分析，获得设备噪声影响参数，包括：
4.根据权利要求1所述的一种高频段频谱分析方法，其特征在于，根据所述环境特征参数，进行测试信号的噪声影响分析，获得环境噪声影响参数，包括：
5.根据权利要求1所述的一种高频段频谱分析方法，其特征在于，对所述设备测试信号进行基础滤噪处理...
【专利技术属性】
技术研发人员：沃林，沃家，
申请(专利权)人：苏州英示测量科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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