【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机，具体地涉及一种安全芯片的算法测试方法、一种安全芯片的算法测试装置、一种安全芯片的算法测试系统、一种机器可读存储介质和一种计算机程序产品。
技术介绍
1、智能电能表通过其内部的安全芯片实现身份认证、密钥更新、会话协商、数据保护和各种计算功能。这些功能的正确与否依赖于安全芯片的算法正确性，为保证功能正确实现，必须对安全芯片的算法进行测试。
2、现有的安全芯片的算法测试方法是先建立算法标准数据库，该数据库中存储几种类型的算法，每种类型的算法对应存储了标准数据以及该标准数据经过该算法加密后得出的验证数据。执行安全芯片的算法测试时，测试软件会调用数据库并将数据库中的标准数据发送给待测试安全芯片，接收待测安全芯片返回的数据并与算法标准数据库中的验证数据进行比较，判断安全芯片的算法的正确性。但是这种测试方法存在测试的算法类型较少、测试算法类型的覆盖率较低，无法保证测试结果的正确性，可能会出现安全芯片本身存在的问题测不出来的情况，一旦有问题的安全芯片流入市场，会带来非常严重的后果。
技术实现思路
1、本专利技术实施例的目的是提供一种安全芯片的算法测试方法、一种安全芯片的算法测试装置、一种安全芯片的算法测试系统、一种机器可读存储介质和一种计算机程序产品，用以解决现有的安全芯片的算法测试方法存在测试的算法类型较少、测试算法类型的覆盖率较低，无法保证测试结果的正确性的缺陷。
2、为了实现上述目的，本专利技术实施例提供一种安全芯片的算法测试方法，应用于电子设备
3、响应于待测安全芯片的算法测试参数配置指令，获取待测安全芯片的算法测试参数；其中所述算法测试参数包括算法类型；
4、生成与所述算法测试参数匹配的测试数据；
5、发送所述测试数据和所述算法测试参数至待测安全芯片，以及接收所述待测安全芯片基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第一测试结果；
6、从算法库和国密资质卡中确定与所述算法类型匹配的目标测试主体，以及获取所述目标测试主体基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果；其中所述算法库包括公开密码算法，所述国密资质卡包括未公开密码算法；
7、基于所述第一测试结果和所述第二测试结果的对比结果，确定所述待测安全芯片的算法测试结果。
8、可选的，所述从算法库和国密资质卡中确定与所述算法类型匹配的目标测试主体，以及接收所述目标测试主体基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果，包括：
9、在所述算法类型表征公开密码算法的情况下，从算法库和国密资质卡中确定所述算法库作为目标测试主体；
10、通过所述算法库基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试；
11、获取所述算法库基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果。
12、可选的，所述从算法库和国密资质卡中确定与所述算法类型匹配的目标测试主体，以及接收所述目标测试主体基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果，包括：
13、在所述算法类型表征未公开密码算法的情况下，从算法库和国密资质卡中确定所述国密资质卡作为目标测试主体；
14、发送所述测试数据和所述算法测试参数至所述国密资质卡；
15、获取所述国密资质卡基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果。
16、可选的，所述算法测试参数还包括通信协议、计算模式、补位方式以及测试数据长度中的至少一种。
17、另一方面，本专利技术实施例还提供一种安全芯片的算法测试方法，应用于国密资质卡，所述方法包括：
18、接收电子设备发送的测试数据和待测安全芯片的算法测试参数；其中所述算法测试参数包括算法类型；所述算法类型表征未公开密码算法；所述测试数据是电子设备生成的与所述算法测试参数匹配的数据；
19、基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试，得到第二测试结果；
20、发送所述第二测试结果至所述电子设备。
21、另一方面，本专利技术实施例还提供一种安全芯片的算法测试装置，包括：
22、参数配置模块，用于响应于待测安全芯片的算法测试参数配置指令，获取待测安全芯片的算法测试参数；其中所述算法测试参数包括算法类型；
23、数据生成模块，用于生成与所述算法测试参数匹配的测试数据；
24、数据发送模块，用于发送所述测试数据和所述算法测试参数至待测安全芯片，以及接收所述待测安全芯片基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第一测试结果；
25、数据获取模块，用于从算法库和国密资质卡中确定与所述算法类型匹配的目标测试主体，以及获取所述目标测试主体基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果；其中所述算法库包括公开密码算法，所述国密资质卡包括未公开密码算法；
26、结果确定模块，用于基于所述第一测试结果和所述第二测试结果的对比结果，确定所述待测安全芯片的算法测试结果。
27、可选的，所述从算法库和国密资质卡中确定与所述算法类型匹配的目标测试主体，以及接收所述目标测试主体基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果，包括：
28、在所述算法类型表征公开密码算法的情况下，从算法库和国密资质卡中确定所述算法库作为目标测试主体；
29、通过所述算法库基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试；
30、获取所述算法库基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果。
31、可选的，所述从算法库和国密资质卡中确定与所述算法类型匹配的目标测试主体，以及接收所述目标测试主体基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果，包括：
32、在所述算法类型表征未公开密码算法的情况下，从算法库和国密资质卡中确定所述国密资质卡作为目标测试主体；
33、发送所述测试数据和所述算法测试参数至所述国密资质卡；
34、获取所述国密资质卡基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果。
35、可选的，所述算法测试参数还包括通信协议、计算模式、补位方式以及测试数据长度中的至少一种。
36、另一方面，本专利技术实施例还提供一种安全芯片的算法测试装置，包括：
37、数据接收模块，用于接收电子设备发送的测试数据和待测安全芯片的算法测试参数；其中所述算法测试参数包括算法类型；所述算法类型表征未公开密码算法；所述测试数据是电子设备生成的与所述算法测试参数匹配的数据；
38、测试模块，用于基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试，得到第二测试结果；
39、发送模块，用于发送所述第二测试结果至所述电子设备。
40、另一方面，本专利技术实施例还提供一种安全本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种安全芯片的算法测试方法，其特征在于，应用于电子设备，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的安全芯片的算法测试方法，其特征在于，所述从算法库和国密资质卡中确定与所述算法类型匹配的目标测试主体，以及接收所述目标测试主体基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果，包括：
3.根据权利要求1所述的安全芯片的算法测试方法，其特征在于，所述从算法库和国密资质卡中确定与所述算法类型匹配的目标测试主体，以及接收所述目标测试主体基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果，包括：
4.根据权利要求1所述的安全芯片的算法测试方法，其特征在于，所述算法测试参数还包括通信协议、计算模式、补位方式以及测试数据长度中的至少一种。
5.一种安全芯片的算法测试方法，其特征在于，应用于国密资质卡，所述方法包括：
6.一种安全芯片的算法测试装置，其特征在于，包括：
7.根据权利要求6所述的安全芯片的算法测试装置，其特征在于，所述从算法库和国密资质卡中确定与所述算法类型匹配的目标测试主体，以及接收所述目
8.根据权利要求6所述的安全芯片的算法测试装置，其特征在于，所述从算法库和国密资质卡中确定与所述算法类型匹配的目标测试主体，以及接收所述目标测试主体基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果，包括：
9.根据权利要求6所述的安全芯片的算法测试装置，其特征在于，所述算法测试参数还包括通信协议、计算模式、补位方式以及测试数据长度中的至少一种。
10.一种安全芯片的算法测试装置，其特征在于，包括：
11.一种安全芯片的算法测试系统，其特征在于，包括执行权利要求1至4中任一项所述的安全芯片的算法测试方法的电子设备，以及执行权利要求5所述的安全芯片的算法测试方法的国密资质卡。
12.一种机器可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的安全芯片的算法测试方法，或实现权利要求5所述的安全芯片的算法测试方法。
13.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的安全芯片的算法测试方法，或实现权利要求5所述的安全芯片的算法测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种安全芯片的算法测试方法，其特征在于，应用于电子设备，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的安全芯片的算法测试方法，其特征在于，所述从算法库和国密资质卡中确定与所述算法类型匹配的目标测试主体，以及接收所述目标测试主体基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果，包括：
3.根据权利要求1所述的安全芯片的算法测试方法，其特征在于，所述从算法库和国密资质卡中确定与所述算法类型匹配的目标测试主体，以及接收所述目标测试主体基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测试结果，包括：
4.根据权利要求1所述的安全芯片的算法测试方法，其特征在于，所述算法测试参数还包括通信协议、计算模式、补位方式以及测试数据长度中的至少一种。
5.一种安全芯片的算法测试方法，其特征在于，应用于国密资质卡，所述方法包括：
6.一种安全芯片的算法测试装置，其特征在于，包括：
7.根据权利要求6所述的安全芯片的算法测试装置，其特征在于，所述从算法库和国密资质卡中确定与所述算法类型匹配的目标测试主体，以及接收所述目标测试主体基于所述测试数据和所述算法测试参数执行算法测试的第二测...
【专利技术属性】
技术研发人员：董瀚，梁昭庆，张海晶，肖斌，雷少波，李建强，王祥，李延，
申请(专利权)人：北京智芯微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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