【技术实现步骤摘要】
本专利技术具体涉及一种基于双电流源的电阻应变片的测量校准方法。
技术介绍
1、电阻应变片的测量，是测量应变片的微小应变引起的微小电阻值的变化，并将电阻的相对变化转换为电压或电流的过程，常用的测量电路是直流电桥和交流电桥。
2、通常采用四个电阻应变片连接桥路，在两输入端施加一定的直流或交流电压，两输出端的输出电压与桥路上的电阻值有近似线性的关系。根据线性关系可以得到电阻改变的相应数值。
3、直流电桥的高稳定直流电源容易获得，输出是直流量，精度较高，而且连接导线要求低，不会引起分布参数，且预调平衡简单，仅需调整纯电阻。但容易引入工频干扰，而且因为后续需要直流放大器，容易零点漂移。并且恒压的激励源从产生到电桥两端，会因为引线等有所损耗。
4、交流电桥虽然可以规避直流放大器的零点漂移问题，但非线性误差还是较高。
5、因此，亟需设计一种新的用于电阻应变片的测量校准方法，以至少部分地缓解乃至消除已有方法的上述不足和缺陷之处。
技术实现思路
1、本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术存在的前述缺陷，提出一种新的基于双电流源的电阻应变片的测量校准方法。
2、本专利技术是通过采用下述技术方案来解决上述技术问题的：
3、本专利技术提供了一种基于双电流源的电阻应变片的测量校准方法，其特点在于，所述测量校准方法采用测量校准装置、力校准机和温度控制仪进行，其中，所述测量校准装置包括带有第一桥臂和第二桥臂的电桥；
4、第
5、第二桥臂包括第二电阻应变片，并且两端分别连接至第二恒流源和所述接地端，在第二电阻应变片和第二恒流源之间引出第二输出接线端；
6、所述测量校准方法包括以下步骤：
7、步骤一、第一组校准操作，其中，在所述电阻应变片处在空载无压力的情况下，借助于温度控制仪控制在第一选定温度和第二选定温度下分别进行一次对于第一输出接线端和第二输出接线端的电压差的测量，通过调整第一恒流源和第二恒流源的输出电流，以使得这两次测量得到的电压差的差值为0，从而进行第一次校准并记录校准结果；
8、步骤二、第二组校准操作，其中，借助于所述力标准机使得所述电阻应变片承载额定力值，借助于温度控制仪控制在与第一组校准操作相同的第一选定温度和第二选定温度下分别进行一次对于所述电压差的测量，调整第一恒流源和第二恒流源的输出电流以使得这两次测量得到的电压差的差值为0，进行第二次校准并记录校准结果；
9、步骤三、第三组校准操作，其中，借助于所述力标准机使得所述电阻应变片承载和第二组校准操作相同的额定力值，同时借助于温度控制仪控制在第三选定温度和第四选定温度下分别进行一次对于所述电压差的测量，其中第三选定温度和第四选定温度的温差与第一选定温度和第二选定温度的温差不同，调整第一恒流源和第二恒流源的输出电流以使得这两次测量得到的电压差的差值为0，进行第三次校准并记录校准结果。
10、在符合本领域常识的基础上，上述各优选条件，可任意组合，即得本专利技术各较佳实例。
11、本专利技术的积极进步效果在于：
12、根据本专利技术的基于双电流源的电阻应变片的测量校准方法，该方法通过调整两个恒流源的输出比例，在三种不同条件下进行校准，使得相同压力、不同温度下，电桥的两个桥臂上被引出以供测量的电压差输出保持恒定不变。由此，本专利技术相比于已有解决方案能够更好地解决如下问题，即，不同电阻在相同温度变化和相同压力变化下实际可能产生不同电阻变化并由此造成电阻应变片的测量误差。
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1.一种基于双电流源的电阻应变片的测量校准方法，其特征在于，所述测量校准方法采用测量校准装置、力校准机和温度控制仪进行，其中，所述测量校准装置包括带有第一桥臂和第二桥臂的电桥；
【技术特征摘要】
1.一种基于双电流源的电阻应变片的测量校准方法，其特征在于，所述测量校准方法采用测量校准...
【专利技术属性】
技术研发人员：金豫，徐芳泽，孟天宇，赵春生，贺玉文，裴晓宏，
申请(专利权)人：宁波慧沣生物科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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