【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及老化测试领域，具体涉及一种内存条高温老化测试平台及测试系统。
技术介绍
1、内存条作为计算机存储系统的关键组成部分，其质量和可靠性对于计算机系统的稳定运行至关重要。然而，内存条在高温环境下工作可能会出现寿命加速老化，导致性能下降或故障的问题，因此针对内存条进行高温老化测试是必要的。
2、目前市场上的老化测试平台多存在加热升温环境不稳定，内存条升温时受热不均、测试效率低的情况。
技术实现思路
1、本专利技术的技术方案如下：一种内存条高温老化测试平台，包括：
2、底板，底板上方安装有主板和控制组件，主板上具有插接内存条的插槽以及老化治具；
3、老化治具包括围绕设置在插槽侧壁外部的固定板以及固定安装在主板上的翻转机构，翻转机构可转动地连接有加热盒，加热盒底部具有开口且内部具有容纳内存条的腔室，腔室上方设有加热装置，加热盒在翻转机构的驱动下可活动地罩设在插槽的上方，加热盒的底壁与固定板连接从而封闭容置有内存条的腔室，通过加热装置对插槽上插接的内存条进行加热；
4、控制组件，通过导线与老化治具、加热盒连接，用于进行老化测试。
5、优选的，所述翻转机构包括固定在主板上且位于插槽长度方向侧端的转轴座，转轴座上设有转轴，转轴的一端通过联轴器连接有电机，转轴座通过转轴与加热盒铰接。
6、优选的，所述加热盒的长度方向两端设有第一感应片和第二感应片，所述主板上设有与第一感应片配合的第一检测传感器以及与第二感应片配合的第
7、优选的，所述加热盒的上方具有气压阀，所述气压阀的一端通过气管连接有气源，另一端与加热装置连通，加热装置底部具有均热孔，气体经过加热装置加热后通过散热孔进入腔室中对内存条进行加热。
8、优选的，所述加热装置包括顶壁上连接有气压阀的顶板，顶板的底壁密封连接有加热板，加热板的底壁密封连接有下隔板，加热板之中内置有加热棒。
9、优选的，所述下隔板顶部端面开设有均热槽，均热孔在均热槽中。
10、优选的，所述加热装置还包括固定连接在顶板上的热电偶以及固定连接在加热板上的温感保护器。
11、本专利技术还提供了一种内存条老化测试系统，包括框架和固定在框架侧端的测试终端，所述框架上呈矩阵式分布设置有若干工位，若干所述工位中均安装有内存条高温老化测试平台，若干所述工位均设有通信线，所述通信线将内存条高温老化测试平台与测试终端通信连接。
12、优选的，所述框架底部还设有万向轮和脚撑。
13、本专利技术的有益效果是：本专利技术提供了一种内存条高温老化测试平台及测试系统，通过老化测试平台精确控制测试的加热温度，使受测多个内存条之间受热均匀，温度曲线一致性高，测试系统中具有多个老化测试平台，可以实现同时对多批次的内存条进行高温老化测试，提高内存条高温老化测试效率。
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1.一种内存条高温老化测试平台，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的内存条高温老化测试平台，其特征在于：所述翻转机构（2）包括固定在主板（3）上且位于插槽长度方向侧端的转轴座（22），转轴座（22）上设有转轴，转轴的一端通过联轴器连接有电机（21），转轴座（22）通过转轴与加热盒（5）铰接。
3.根据权利要求2所述的内存条高温老化测试平台，其特征在于：所述加热盒（5）的长度方向两端设有第一感应片（51）和第二感应片（55），所述主板（3）上设有与第一感应片（51）配合的第一检测传感器（31）以及与第二感应片（55）配合的第二检测传感器（32），所述第一检测传感器（31）位于转轴座（22）的后方，所述第二检测传感器（32）远离第一传感器安装在主板（3）的另一端。
4.根据权利要求1所述的内存条高温老化测试平台，其特征在于：所述加热盒（5）的上方具有气压阀（52），所述气压阀（52）的一端通过气管连接有气源，另一端与加热装置（6）连通，加热装置（6）底部具有均热孔（632），气体经过加热装置（6）加热后通过散热孔进入腔室中对内存条进行加热。
5.根据权利要求4所述的内存条高温老化测试平台，其特征在于：所述加热装置（6）包括顶壁上连接有气压阀（52）的顶板（61），顶板（61）的底壁密封连接有加热板，加热板的底壁密封连接有下隔板（63），加热板之中内置有加热棒（62）。
6.根据权利要求5所述的内存条高温老化测试平台，其特征在于：所述下隔板（63）顶部端面开设有均热槽（631），均热孔（632）在均热槽（631）中。
7.根据权利要求5所述的内存条高温老化测试平台，其特征在于：所述加热装置（6）还包括固定连接在顶板（61）上的热电偶（53）以及固定连接在加热板上的温感保护器（54）。
8.一种内存条高温老化测试系统，其特征在于：包括框架（8）和固定在框架（8）侧端的测试终端（84），所述框架（8）上呈矩阵式分布设置有若干工位（81），若干所述工位（81）中均安装有权利要求1-7任意一项所述的内存条高温老化测试平台，若干所述工位（81）均设有通信线，所述通信线将权利要求1-7任意一项所述的内存条高温老化测试平台与测试终端（84）通讯连接。
9.根据权利要求8所述的内存条老化测试系统，其特征在于：所述框架（8）底部还设有万向轮（83）和脚撑（82）。
...【技术特征摘要】
1.一种内存条高温老化测试平台，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的内存条高温老化测试平台，其特征在于：所述翻转机构（2）包括固定在主板（3）上且位于插槽长度方向侧端的转轴座（22），转轴座（22）上设有转轴，转轴的一端通过联轴器连接有电机（21），转轴座（22）通过转轴与加热盒（5）铰接。
3.根据权利要求2所述的内存条高温老化测试平台，其特征在于：所述加热盒（5）的长度方向两端设有第一感应片（51）和第二感应片（55），所述主板（3）上设有与第一感应片（51）配合的第一检测传感器（31）以及与第二感应片（55）配合的第二检测传感器（32），所述第一检测传感器（31）位于转轴座（22）的后方，所述第二检测传感器（32）远离第一传感器安装在主板（3）的另一端。
4.根据权利要求1所述的内存条高温老化测试平台，其特征在于：所述加热盒（5）的上方具有气压阀（52），所述气压阀（52）的一端通过气管连接有气源，另一端与加热装置（6）连通，加热装置（6）底部具有均热孔（632），气体经过加热装置（6）加热后通过散热孔进入腔室中对内存条进行加热。
5.根据权利要求4所述的内存条高...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐卫华，吴中卫，徐荣权，
申请(专利权)人：苏州善其诺智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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