一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置制造方法及图纸

本技术涉及芯片测试技术领域，公开了一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，包括料板和测试机以及电源测试仪，料板的内部开设有合格品出料道，合格品出料道的一侧开设有待出料道，待出料道的一端开设有测试道，待出料道的一端开设有下料道，料板的内部且位于待出料道与测试道之间安装有电动伸缩板，电源测试仪安装于测试机的底部，料板的内部滑动连接有推料板，推料板用于推动芯片移动，料板的顶部设置有驱动推料板移动的驱动组件。通过设置有驱动组件可便于驱动待出料道内的芯片移动从而为下一次的测试完成的芯片留出空间，同时可为测试完成的芯片进行输送，进而提高其效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片测试，具体的，涉及一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置。

技术介绍

1、芯片测试是确保芯片质量和可靠性的重要环节。通过测试，可以发现芯片在制造过程中可能出现的缺陷和问题，例如制造工艺缺陷、电路设计错误、封装问题等。此外，通过测试还可以验证芯片的功能和性能是否符合设计要求，以及在各种条件下的稳定性和可靠性，在芯片制造过程中，测试是一个重要的环节。由于制造过程中的各种因素，可能会导致芯片存在缺陷或问题，如制造工艺缺陷、电路设计错误、封装问题等，这些缺陷或问题如果不经过测试，很难被发现和修复，因此测试是确保芯片质量和可靠性的重要手段。

2、如现有技术公告号为cn 205210119 u的专利申请，其结构包括用于将b档光传感器或者a档光传感器择一接至第二比较器的传感器选择器件、用于载入被测芯片档案并且根据被测芯片的档案来切换传感器选择器件所选通的传感器的单片机以及与单片机电连接的显示屏，被测芯片档案载入单片机，显示屏显示被测芯片档案，单片机根据第一比较器输出的第一比较结果和第二比较器输出的第二比较结果更新被测芯片档案，该测试装置可供软件工程师写入软件后可实现测试档位的自动切换，可及早发现测试档位与被测芯片的类型不符。

3、上述现有技术可有效实现对芯片的测试同时自动转换其测试档位，以来是适用于对不同规格的芯片，但在实际使用中，芯片数量较多从而导致其测试工作量较大，而上述现有技术需人工对测试完成的芯片进行取出，反复操作较为繁琐同时影响测试效率。

技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，解决上述现有技术中需人工对测试完成的芯片进行取出，反复操作较为繁琐同时影响测试效率的问题。

2、本技术提供如下技术方案：一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，包括料板和测试机以及电源测试仪，所述料板的内部开设有合格品出料道，所述合格品出料道的一侧开设有待出料道，所述待出料道的一端开设有测试道，所述待出料道的一端开设有下料道，所述测试道的一侧开设有不合格品出料道，所述测试道的内部安装有第一档位光感器，所述测试道的内部且位于第一档位光感器的一端安装有第二档位光感器，所述料板的内部且位于待出料道与测试道之间安装有电动伸缩板，所述电源测试仪安装于测试机的底部，所述料板的内部滑动连接有推料板，所述推料板用于推动芯片移动，所述料板的顶部设置有驱动推料板移动的驱动组件。

3、作为上述技术方案的优选，所述驱动组件包括固定连接于料板顶部的固定板，所述固定板的内部开设有滑槽，所述滑槽内滑动连接有滑块，所述滑块的一侧铰接有曲柄，所述推料板的一侧转动连接有活动架，所述活动架远离推料板的一端与曲柄转动连接，所述活动架的中端与料板转动连接。

4、作为上述技术方案的优选，所述料板的内部滑动连接有挡板，所述挡板置于下料道与测试道之间，所述挡板的一端与滑块固定连接。

5、作为上述技术方案的优选，所述滑块的顶部固定连接有支架，所述支架的一端与测试机固定连接。

6、作为上述技术方案的优选，所述滑块的一端固定连接有复位弹簧，所述复位弹簧远离滑块的一端与固定板的滑槽内壁固定连接。

7、作为上述技术方案的优选，所述测试机的两侧均安装有灯光。

8、与现有技术相比，本技术的有益效果是：

9、本技术通过设置有驱动组件可便于驱动待出料道内的芯片移动从而为下一次的测试完成的芯片留出空间，同时可为测试完成的芯片进行输送，进而提高其效率，同时设置有挡板与其相互配合从而实现一推一送，从而提高对芯片测试的效率。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，包括料板(100)和测试机(201)以及电源测试仪(202)，其特征在于：所述料板(100)的内部开设有合格品出料道(101)，所述合格品出料道(101)的一侧开设有待出料道(104)，所述待出料道(104)的一端开设有测试道(103)，所述待出料道(104)的一端开设有下料道(105)，所述测试道(103)的一侧开设有不合格品出料道(102)，所述测试道(103)的内部安装有第一档位光感器(106)，所述测试道(103)的内部且位于第一档位光感器(106)的一端安装有第二档位光感器(107)，所述料板(100)的内部且位于待出料道(104)与测试道(103)之间安装有电动伸缩板(108)，所述电源测试仪(202)安装于测试机(201)的底部，所述料板(100)的内部滑动连接有推料板(402)，所述推料板(402)用于推动芯片移动，所述料板(100)的顶部设置有驱动推料板(402)移动的驱动组件。

2.根据权利要求1所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述驱动组件包括固定连接于料板(100)顶部的固定板(300)，所述固定板(300)的内部开设有滑槽，所述滑槽内滑动连接有滑块(301)，所述滑块(301)的一侧铰接有曲柄(400)，所述推料板(402)的一侧转动连接有活动架(401)，所述活动架(401)远离推料板(402)的一端与曲柄(400)转动连接，所述活动架(401)的中端与料板(100)转动连接。

3.根据权利要求2所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述料板(100)的内部滑动连接有挡板(403)，所述挡板(403)置于下料道(105)与测试道(103)之间，所述挡板(403)的一端与滑块(301)固定连接。

4.根据权利要求3所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述滑块(301)的顶部固定连接有支架(200)，所述支架(200)的一端与测试机(201)固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述滑块(301)的一端固定连接有复位弹簧(302)，所述复位弹簧(302)远离滑块(301)的一端与固定板(300)的滑槽内壁固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述测试机(201)的两侧均安装有灯光(203)。

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【技术特征摘要】

1.一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，包括料板(100)和测试机(201)以及电源测试仪(202)，其特征在于：所述料板(100)的内部开设有合格品出料道(101)，所述合格品出料道(101)的一侧开设有待出料道(104)，所述待出料道(104)的一端开设有测试道(103)，所述待出料道(104)的一端开设有下料道(105)，所述测试道(103)的一侧开设有不合格品出料道(102)，所述测试道(103)的内部安装有第一档位光感器(106)，所述测试道(103)的内部且位于第一档位光感器(106)的一端安装有第二档位光感器(107)，所述料板(100)的内部且位于待出料道(104)与测试道(103)之间安装有电动伸缩板(108)，所述电源测试仪(202)安装于测试机(201)的底部，所述料板(100)的内部滑动连接有推料板(402)，所述推料板(402)用于推动芯片移动，所述料板(100)的顶部设置有驱动推料板(402)移动的驱动组件。

2.根据权利要求1所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述驱动组件包括固定连接于料板(100)顶部的固定板(300)，所述固定板(300)的内部开设有滑槽，所述滑槽内滑动连接有滑...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋颜朝，周虎，许莉萍，
申请(专利权)人：幂指科技北京有限公司，
类型：新型
国别省市：