System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种InAs-GaAs量子点材料及其制备方法技术_技高网

一种InAs-GaAs量子点材料及其制备方法技术

技术编号:42620582 阅读:9 留言:0更新日期:2024-09-06 01:25
本发明专利技术公开了一种InAs‑GaAs量子点材料及其制备方法,该InAs‑GaAs量子点材料包括依次层叠的GaAs衬底层、GaAs缓冲层和InAs量子点层;制备方法包括以下步骤:(1)于外延生长装置中,对GaAs衬底进行原位退火处理;(2)在GaAs衬底上沉积GaAs缓冲层;(3)降温至InAs量子点的生长温度,通入Ⅲ族源和Ⅴ族源,沉积InAs量子点;生长温度为435~480℃;Ⅴ/Ⅲ比为5~335;沉积量为1.8~2.7ML;沉积的速率为0.023~0.277ML/s。本发明专利技术采用S‑K自组装生长模式,通过调整生长速率、Ⅴ/Ⅲ比、生长温度等参数,得到了高质量、高面密度的InAs‑GaAs量子点材料。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及低维半导体量子点材料,具体涉及一种inas-gaas量子点材料及其制备方法。


技术介绍

1、量子点(quantum dot)是一种重要的低维半导体材料,其具有把激子在三个空间方向上束缚住的半导体纳米结构。低维半导体材料的特征是通过控制尺寸来控制电子和光学特性,而不是改变材料的特性。自组装inas量子点的电子和空穴在三维方向上均受到限制,表现出量子化的电子态和高辐射复合效率。

2、砷化铟(inas)作为典型的ⅲ-ⅴ族半导体材料,在光电子、通讯等领域具有广泛的应用。作为新兴的量子点半导体材料,其还在单光子发光源,即单模量子光纤通讯的激光发光源,以及红外探测器、量子点太阳电池、量子信息处理等领域也具有潜在的应用价值。

3、inas量子点材料主要由分子束外延法(mbe)或金属有机化学气相沉积法(mocvd)制备得到。虽然量子点器件具有较大的优势,但如何获得高质量、高密度(1010~1011cm-2)的自组装量子点材料仍存在较大的挑战。


技术实现思路

1、量子点器件虽然具有较大的优势,其生长动力学研究已经取得了相当多的成果,但其自组装量子点的制备仍面临密度低、质量差等问题严重影响材料的发光性能,进而影响器件。为了充分利用量子点材料的优势,本专利技术提供一种inas-gaas量子点材料及其制备方法。

2、为实现上述目的,本专利技术采取的技术方案为:

3、本专利技术提供一种inas-gaas量子点材料的制备方法;所述inas-gaas量子点材料包括依次层叠的gaas衬底层、gaas缓冲层和inas量子点层;所述制备方法包括以下步骤:

4、(1)于外延生长装置中,对gaas衬底进行原位退火处理;

5、(2)在gaas衬底上沉积gaas缓冲层;

6、(3)降温至inas量子点的生长温度,通入ⅲ族源和ⅴ族源,沉积inas量子点;所述生长温度为435~480℃;ⅴ/ⅲ比为5~335;所述沉积量为1.8~2.7ml;所述沉积的速率为0.023~0.277ml/s。

7、作为优选地实施方式,步骤(1)中,所述退火处理的温度≥650℃,更优选为650~700℃,所述退火处理的时间≥5分钟。

8、优选地,步骤(1)中,所述原位退火处理在持续通入ⅴ族源下实现;

9、优选地,所述ⅴ族源为ash3;

10、优选地,所述ⅴ族源以高纯氢气(h2)为载气;

11、在本专利技术的技术方案中,原位退火处理后能够去除衬底上的氧化层,经过去氧化层处理的衬底表面无杂质,且不存在氧原子的悬挂键,后续制备中可以避免外延层中引入非故意掺杂。

12、作为优选地实施方式,步骤(2)中,所述gaas缓冲层的厚度≥200nm,优选为200~500nm;在本专利技术的技术方案中,所述gaas缓冲层越厚,其表面质量越好;

13、优选地,所述沉积gaas缓冲层的方法为:600~700℃,通入ⅴ族源,沉积gaas缓冲层;

14、优选地,所述ⅴ族源为砷烷(ash3);

15、优选地,所述ⅴ族源以高纯氢气(h2)为载气。

16、作为优选地实施方式,步骤(3)中,所述ⅲ族源为三甲基镓(tmga)和/或三甲基铟(tmin);

17、和/或,所述ⅴ族源为砷烷(ash3);

18、和/或,所述ⅲ族源和ⅴ族源以高纯氢气(h2)为载气。

19、在某些具体的实施方式中,所述步骤(3)沉积结束后,在ⅴ族源的保护下冷却,最后关闭ⅴ族源。

20、又一方面,本专利技术提供上述制备方法得到的inas-gaas量子点材料。

21、又一方面,本专利技术提供上述inas-gaas量子点材料在制备光探测器件、发光器件、太阳能电池器件和光通信中的应用。

22、上述技术方案具有如下优点或者有益效果:

23、本专利技术使用金属有机化学气相沉积法(mocvd),采用s-k自组装生长模式制备inas-gaas量子点材料。本专利技术通过生长温度、生长速率、ⅴ/ⅲ比、沉积量等参数的调整,提高了量子点材料的密度和质量。

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【技术保护点】

1.一种InAs-GaAs量子点材料的制备方法,其特征在于,所述InAs-GaAs量子点材料包括依次层叠的GaAs衬底层、GaAs缓冲层和InAs量子点层;所述制备方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(1)中,所述退火处理的温度≥650℃,更优选为650~700℃,所述退火处理的时间≥5分钟。

3.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(1)中,所述原位退火处理在持续通入Ⅴ族源下实现。

4.根据权利要求3所述的制备方法,其特征在于,所述Ⅴ族源为砷烷;

5.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,所述GaAs缓冲层的厚度≥200nm,优选为200~500nm。

6.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,所述沉积GaAs缓冲层的方法为:600~700℃,通入Ⅴ族源,沉积GaAs缓冲层。

7.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述Ⅴ族源为砷烷;

8.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(3)中,所述Ⅲ族源为三甲基镓和/或三甲基铟;

9.权利要求1-8任一所述的制备方法得到的InAs-GaAs量子点材料。

10.权利要求9所述的InAs-GaAs量子点材料在制备光探测器件、发光器件、太阳能电池器件和光通信中的应用。

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【技术特征摘要】

1.一种inas-gaas量子点材料的制备方法,其特征在于,所述inas-gaas量子点材料包括依次层叠的gaas衬底层、gaas缓冲层和inas量子点层;所述制备方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(1)中,所述退火处理的温度≥650℃,更优选为650~700℃,所述退火处理的时间≥5分钟。

3.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(1)中,所述原位退火处理在持续通入ⅴ族源下实现。

4.根据权利要求3所述的制备方法,其特征在于,所述ⅴ族源为砷烷;

5.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,所述g...

【专利技术属性】
技术研发人员:王海珠张云赵鑫范杰徐睿良付曦瑶马晓辉
申请(专利权)人:长春理工大学重庆研究院
类型:发明
国别省市:

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