【技术实现步骤摘要】
本申请属于电路板测试，具体涉及一种电路板测试装置。
技术介绍
1、在行业内，通常采用单个或者多个探针进行电路板的测试，在多探针的测试方案中，对于多探针之间的连接目前还没有较好的方式，导致在探针间距发生变化的使用场景下，多探针之间的连接不可靠，影响测试精度和测试效率。
技术实现思路
1、专利技术目的：本申请实施例提供一种电路板测试装置，旨在克服目前多探针之间的连接方式不可靠的技术问题。
2、技术方案：本申请实施例所述的一种电路板测试装置，包括：
3、安装座；
4、测试组件，与所述安装座连接，所述测试组件包括相连接的第一驱动机构和测试机构，所述第一驱动机构用于驱动所述测试机构沿第一方向靠近和远离待测电路板；
5、所述测试机构包括多个支架、多个探针、链接件以及弹性件，每个所述支架上设有至少一个所述探针，所述链接件设置于所述探针朝向所述支架的一侧，所述弹性件设置于所述链接件和所述支架之间，并抵接所述链接件和所述支架，以将所述链接件压在多个所述探针上，使所述链接件与多个所述探针接触并电连接。
6、在一些实施例中，所述链接件抵接于所述探针沿所述第一方向远离所述待测电路板的一侧。
7、在一些实施例中，所述测试机构包括多个所述弹性件，每个所述支架和所述链接件之间设有至少一个所述弹性件。
8、在一些实施例中，所述测试组件还包括第二驱动机构，所述第一驱动机构通过所述第二驱动机构与所述测试机构连接，所述第一驱动机构用于驱
9、多个所述支架沿第二方向排列设置，所述第二驱动机构用于驱动至少一个所述支架相对于至少另一个所述支架沿所述第二方向移动，以调节至少两个所述探针之间的距离；所述第一方向和所述第二方向相交。
10、在一些实施例中，所述第二驱动机构包括：
11、第一支承件，与所述第一驱动机构连接，所述第一驱动机构用于驱动所述第一支承件沿所述第一方向移动，所述第一支承件与至少一个所述支架连接；
12、第一驱动件，设置于所述第一支承件；
13、第二支承件，与所述第一驱动件连接，所述第一驱动件用于驱动所述第二支承件相对于所述第一支承件沿所述第二方向移动，所述第二支承件与至少另一个所述支架连接。
14、在一些实施例中，所述测试机构还包括沿所述第二方向排列设置的多个调节缓冲机构，每个所述支架通过至少一个所述调节缓冲机构与所述第二驱动机构连接；
15、所述调节缓冲机构用于沿所述第一方向以及第三方向调节所述支架相对于所述第二驱动机构的位置，并用于当所述探针接触所述待测电路板时，产生沿所述第一方向的弹性形变；
16、所述第一方向、所述第二方向以及所述第三方向彼此相交。
17、在一些实施例中，所述调节缓冲机构包括：
18、所述调节缓冲机构包括：
19、第一调节件，与所述第二驱动机构连接，所述第一调节件能够相对于所述第二驱动机构沿所述第一方向移动；
20、缓冲件，与所述第一调节件连接，所述支架连接于所述缓冲件远离所述第二驱动机构的一侧；所述缓冲件用于当所述探针接触所述待测电路板时，产生沿所述第一方向的弹性形变；
21、第二调节件，连接所述支架和所述第二驱动机构，所述第二调节件用于驱动所述支架相对于所述第二驱动机构沿所述第三方向移动。
22、在一些实施例中，所述调节缓冲机构还包括：
23、第三调节件，与所述缓冲件连接，所述第三调节件用于调节所述缓冲件沿所述第一方向的预紧力。
24、在一些实施例中，所述测试机构还包括：
25、多个销接件，每个所述支架设有至少一个所述销接件，多个所述销接件分别与所述链接件连接，且至少一个所述销接件能够相对于所述链接件沿所述第二方向移动。
26、在一些实施例中，所述探针具有沿其长度方向相对设置的第一端和第二端，所述第一端用于与所述待测电路板接触；
27、所述探针与所述链接件接触的部位与所述第一端的距离为d，满足：d≤3mm。
28、在一些实施例中，所述探针包括：
29、内导体；
30、介质层，包覆所述内导体；
31、外导体，包覆所述介质层，所述外导体与所述支架连接。
32、在一些实施例中，所述第一驱动机构包括：
33、第三支承件，与所述安装座连接；
34、第二驱动件，设置于所述第三支承件，所述第二驱动件包括驱动电机以及连接所述驱动电机的同步带，所述同步带与所述测试机构连接，所述驱动电机用于驱动所述同步带，并带动所述测试机构沿第一方向靠近和远离待测电路板。
35、在一些实施例中，所述电路板测试装置还包括：
36、旋转驱动组件，设置于所述安装座，所述测试组件通过所述旋转驱动组件与所述安装座连接，所述旋转驱动组件用于驱动所述测试组件围绕转动轴转动，所述转动轴沿着所述第一方向延伸。
37、在一些实施例中，所述电路板测试装置包括多个所述测试组件，多个测试组件围绕所述转动轴排列布置。
38、在一些实施例中，所述测试组件还包括：
39、第一位置传感器，设置于所述第一驱动机构，所述第一位置传感器用于检测所述测试机构沿所述第一方向的位置；和/或，
40、第二位置传感器，设置于所述测试机构，所述第二位置传感器用于检测所述支架沿所述第一方向的位置。
41、有益效果：本申请实施例的电路板测试装置包括：安装座；测试组件，与安装座连接，测试组件包括相连接的第一驱动机构和测试机构，第一驱动机构用于驱动测试机构沿第一方向靠近和远离待测电路板；测试机构包括多个支架、多个探针、链接件以及弹性件，每个支架上设有至少一个探针，链接件设置于探针朝向支架的一侧，弹性件设置于链接件和支架之间，并抵接链接件和支架，以将链接件压在多个探针上，使链接件与多个探针接触并电连接。在本申请实施例的电路板测试装置中，测试机构设有弹性件，通过弹性件能够将链接件压在多个探针上，通过弹性件的弹性形变产生的弹性力以及缓冲能力，能够始终保持链接件与多个探针的接触，保障链接的可靠性，进而保障测试精度和测试效率。
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1.一种电路板测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述链接件(223)抵接于所述探针(222)沿所述第一方向(Z)远离所述待测电路板的一侧。
3.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述测试机构(220)包括多个所述弹性件(224)，每个所述支架(221)和所述链接件(223)之间设有至少一个所述弹性件(224)。
4.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述测试组件(200)还包括第二驱动机构(230)，所述第一驱动机构(210)通过所述第二驱动机构(230)与所述测试机构(220)连接，所述第一驱动机构(210)用于驱动所述第二驱动机构(230)沿所述第一方向(Z)移动，以带动所述测试机构(220)靠近和远离所述待测电路板；
5.根据权利要求4所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第二驱动机构(230)包括：
6.根据权利要求4所述的电路板测试装置，其特征在于，所述测试机构(220)还包括沿所述第二方向(X)排列设置的多个调节缓冲机构(226)，每
7.根据权利要求6所述的电路板测试装置，其特征在于，所述调节缓冲机构(226)包括：
8.根据权利要求7所述的电路板测试装置，其特征在于，所述调节缓冲机构(226)还包括：
9.根据权利要求4所述的电路板测试装置，其特征在于，所述测试机构(220)还包括：
10.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述探针(222)具有沿其长度方向相对设置的第一端(2222)和第二端(2223)，所述第一端(2222)用于与所述待测电路板接触；
11.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述探针(222)包括：
12.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第一驱动机构(210)包括：
13.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述电路板测试装置还包括：
14.根据权利要求13所述的电路板测试装置，其特征在于，所述电路板测试装置包括多个所述测试组件(200)，多个测试组件(200)围绕所述转动轴排列布置。
15.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述测试组件(200)还包括：
...【技术特征摘要】
1.一种电路板测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述链接件(223)抵接于所述探针(222)沿所述第一方向(z)远离所述待测电路板的一侧。
3.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述测试机构(220)包括多个所述弹性件(224)，每个所述支架(221)和所述链接件(223)之间设有至少一个所述弹性件(224)。
4.根据权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述测试组件(200)还包括第二驱动机构(230)，所述第一驱动机构(210)通过所述第二驱动机构(230)与所述测试机构(220)连接，所述第一驱动机构(210)用于驱动所述第二驱动机构(230)沿所述第一方向(z)移动，以带动所述测试机构(220)靠近和远离所述待测电路板；
5.根据权利要求4所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第二驱动机构(230)包括：
6.根据权利要求4所述的电路板测试装置，其特征在于，所述测试机构(220)还包括沿所述第二方向(x)排列设置的多个调节缓冲机构(226)，每个所述支架(221)通过至少一个所述调节缓冲机构(226)与所述第二驱动...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘行，叶宗顺，
申请(专利权)人：苏州维嘉科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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