一种电子元件检测装置制造方法及图纸

技术编号:42606650 阅读:15 留言:0更新日期:2024-09-03 18:15
本技术涉及一种电子元件检测装置,包括支撑架、伺服传动机构、螺杆、螺杆座、测试治具和测试座,安装在支撑架上的伺服传动机构可驱动下方的螺杆并带动螺杆座沿着Z轴方向移动,螺杆座的底部安装有用于承载待测电子元件的测试治具,测试治具的正下方设置有测试座。本技术通过在测试治具上自带的红外传感器可以事先感应下方测试座内是否有电子元件遗留,且测试座内自带的压力传感器可以感应测试治具检测时的压力大小。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子元件加工相关,尤其涉及一种电子元件检测装置


技术介绍

1、电子元件在生产加工过程中,需要进行检测处理,以检测电子元件的功能是否满足出厂要求。

2、常见的检测方式如图1和图2所示,在支撑架上的伺服传动机构驱动螺杆并带动螺杆座下方的测试治具朝向下方移动,测试治具底部的电子元件与测试座内电路板上的测试探针相接触,进而完成测试作业。

3、但是在常规作业环境下,测试压力过大或过小均无法正常完成测试作业,此外,当测试治具内遗留检测后未取出的电子元件时,重复放置电子元件会对电子元件本身乃至测试座本身造成损伤等。

4、有鉴于上述的缺陷,本设计人积极加以研究创新,以期创设一种电子元件检测装置,使其更具有产业上的利用价值。


技术实现思路

1、为解决上述技术问题,本技术的目的是提供一种电子元件检测装置。

2、为实现上述目的,本技术采用如下技术方案:

3、一种电子元件检测装置,包括支撑架、伺服传动机构、螺杆、螺杆座、测试治具和测试座,安装在支撑架上的伺服传动机构可驱动下方的螺杆并带动螺杆座沿着z轴方向移动,螺杆座的底部安装有用于承载待测电子元件的测试治具,测试治具的正下方设置有测试座,测试座内安装有电路板,电路板上安装有若干个用于测试电子元件的测试探针;

4、螺杆座上的外侧通过导向组件与支撑架相连接且可在支撑架上沿着z轴方向移动;

5、螺杆座的底部安装有移动杆,移动杆的底部从上往下依次安装有浮动器和温控器,在温控器的底部安装有测试治具;

6、测试治具的底部中间位置安装有抓取组件,在抓取组件外侧的测试治具的底部安装有至少一个红外传感器,在测试座内还安装有至少一个压力传感器。

7、作为本技术的进一步改进,伺服传动机构为驱动电机,驱动电机底部的驱动端通过联轴器与下方的螺杆相连接。

8、作为本技术的进一步改进,螺杆通过轴承安装在支撑架上的顶部位置。

9、作为本技术的进一步改进,导向组件包括平衡支架、导向套和导向杆,螺杆座的外侧安装有平衡支架,平衡支架的外侧与安装在支撑架内的导向杆相连接。

10、作为本技术的进一步改进,移动杆上沿着z轴方向设置有可供螺杆穿过的穿孔。

11、作为本技术的进一步改进,抓取组件为真空吸盘。

12、作为本技术的进一步改进,抓取组件为真空吸附平台。

13、作为本技术的进一步改进,抓取组件为夹爪气缸。

14、借由上述方案,本技术至少具有以下优点:

15、本技术通过在测试治具上自带的红外传感器可以事先感应下方测试座内是否有电子元件遗留,且测试座内自带的压力传感器可以感应测试治具检测时的压力大小;

16、本技术的测试治具在下压过程中受到导向组件的导向约束,可以很好的保证测试作业的精度。

17、上述说明仅是本技术技术方案的概述,为了能够更清楚了解本技术的技术手段,并可依照说明书的内容予以实施,以下以本技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电子元件检测装置,包括支撑架(1)、伺服传动机构(2)、螺杆(3)、螺杆座(4)、测试治具(5)和测试座(6),安装在所述支撑架(1)上的伺服传动机构(2)可驱动下方的螺杆(3)并带动螺杆座(4)沿着Z轴方向移动,所述螺杆座(4)的底部安装有用于承载待测电子元件(7)的测试治具(5),所述测试治具(5)的正下方设置有测试座(6),所述测试座(6)内安装有电路板(9),所述电路板(9)上安装有若干个用于测试电子元件(7)的测试探针(8);

2.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置,其特征在于,所述伺服传动机构(2)为驱动电机(10),所述驱动电机(10)底部的驱动端通过联轴器(11)与下方的螺杆(3)相连接。

3.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置,其特征在于,所述螺杆(3)通过轴承(12)安装在支撑架(1)上的顶部位置。

4.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置,其特征在于,所述导向组件包括平衡支架(13)、导向套(14)和导向杆(15),所述螺杆座(4)的外侧安装有平衡支架(13),所述平衡支架(13)的外侧与安装在支撑架(1)内的导向杆(15)相连接。

5.如权利要求4所述的一种电子元件检测装置,其特征在于,所述移动杆(16)上沿着Z轴方向设置有可供螺杆(3)穿过的穿孔(17)。

6.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置,其特征在于,所述抓取组件(20)为真空吸盘。

7.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置,其特征在于,所述抓取组件(20)为真空吸附平台。

8.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置,其特征在于,所述抓取组件(20)为夹爪气缸。

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【技术特征摘要】

1.一种电子元件检测装置,包括支撑架(1)、伺服传动机构(2)、螺杆(3)、螺杆座(4)、测试治具(5)和测试座(6),安装在所述支撑架(1)上的伺服传动机构(2)可驱动下方的螺杆(3)并带动螺杆座(4)沿着z轴方向移动,所述螺杆座(4)的底部安装有用于承载待测电子元件(7)的测试治具(5),所述测试治具(5)的正下方设置有测试座(6),所述测试座(6)内安装有电路板(9),所述电路板(9)上安装有若干个用于测试电子元件(7)的测试探针(8);

2.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置,其特征在于,所述伺服传动机构(2)为驱动电机(10),所述驱动电机(10)底部的驱动端通过联轴器(11)与下方的螺杆(3)相连接。

3.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置,其特征在于,所述螺杆(3)通过轴承(12)安...

【专利技术属性】
技术研发人员:张俊荣柯世平张家腾谢宗伦
申请(专利权)人:鸿劲兴业精密科技苏州有限公司
类型:新型
国别省市:

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