System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种基于配试平台的SoC自动化测试系统及测试方法技术方案_技高网

一种基于配试平台的SoC自动化测试系统及测试方法技术方案

技术编号:42603806 阅读:6 留言:0更新日期:2024-09-03 18:14
本发明专利技术提供一种基于配试平台的SoC自动化测试系统及测试方法,包括一套运行于上位机的自动化测试框架、一套用于上位机和配试平台通信的通信协议和一套运行于配试平台的代码,能实现自动化进行下述流程:测试管理、测试用例生成、测试用例交叉编译、可执行文件下发至SOC芯片执行测试、下发指令至配试平台配合相关模块功能测试、回收测试日志、判断测试结果、生成测试日志,配合进行多个模块的功能测试,从而实现SOC芯片设计和验证过程中功能模块测试用例的自动化生成和批量执行,提高测试验证的覆盖率,减少需求的人工操作,提高测试效率;此外,硬件配试平台可使用商用开发板配合测试,具备灵活性和通用性,降低测试所需的成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及自动化测试领域,更具体地,涉及一种基于配试平台的soc自动化测试系统及测试方法。


技术介绍

1、在soc芯片设计与验证的各个阶段中,需要对soc芯片的各功能模块进行大量且反复的测试,以形成稳定的芯片产品。其中,数字部分的功能测试涉及多种参数组合,最终形成的测试用例数量极大,且需要反复进行回归测试以保证每次更改后硬件功能的正确性,因此,需要一套能进行soc芯片多模块功能验证的自动化测试平台,尽可能地减少需要的手工操作。


技术实现思路

1、本专利技术针对现有技术中存在的技术问题,提供一种基于配试平台的soc自动化测试系统及测试方法,能实现对soc芯片的自动化批量测试。

2、根据本专利技术的第一方面,提供了一种基于配试平台的soc自动化测试系统,包括上位机、硬件配试平台和待测件,所述待测件为soc开发板,所述上位机通过串口分别与所述硬件配试平台和所述待测件通信连接,所述硬件配试平台的各个通道通过转接板与所述待测件的各个通道连;

3、所述上位机上运行自动化测试框架,用于生成所有测试用例,根据测试任务,选择相应的测试用例,向所述待测件发送测试用例,以及向所述硬件配试平台发送控制指令;

4、所述硬件配试平台,用于当接收到所述控制指令时,运行配合测试代码,以对待测件进行配合测试,并向所述上位机返回测试日志;

5、所述待测件,用于当接收到所述上位机下发的测试用例时,运行测试代码,对待测件的功能模块进行测试,并向所述上位机返回测试日志;</p>

6、所述上位机,用于根据所述硬件配试平台返回的测试日志和所述待测件返回的测试日志,生成测试结果报表。

7、根据本专利技术的第二方面,提供一种一种基于配试平台的soc自动化测试方法,包括:

8、在上位机上运行自动化测试框架,生成所有测试用例,根据测试任务,选择相应的测试用例,向待测件发送测试用例,以及向硬件配试平台发送控制指令;

9、当接收到所述控制指令时,硬件配试平台运行配合测试代码,以对待测件进行配合测试,并向所述上位机返回测试日志;

10、当接收到所述上位机下发的测试用例时,待测件运行测试代码,对待测件的功能模块进行测试,并向所述上位机返回测试日志;

11、上位机根据所述硬件配试平台返回的测试日志和所述待测件返回的测试日志,生成测试结果报表。

12、本专利技术提供的一种基于配试平台的soc自动化测试系统及测试方法,包含一套运行于上位机的自动化测试框架、一套用于上位机和配试平台通信的通信协议和基于商用开发板的配试平台代码,从而支持对soc芯片的数字功能模块自动化生成测试用例及自动化执行测试,并通过设计上位机与配试平台的通信协议及开发运行于配试平台的代码工程,实现配试平台的可替代性,且具有一定的通用性和灵活性,降低需要的测试成本。另外,自动化测试框架支持进行测试用例、测试用例集和生成物的管理,进而实现反复运行大批量的自动化测试;此外,基于上述测试框架、通信协议和运行于配试平台的代码,硬件配试平台可使用商用开发板配合测试,具备灵活性和通用性,降低测试所需的成本。

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【技术保护点】

1.一种基于配试平台的SoC自动化测试系统,其特征在于,包括上位机、硬件配试平台和待测件,所述待测件为SoC开发板,所述上位机通过串口分别与所述硬件配试平台和所述待测件通信连接,所述硬件配试平台的各个通道通过转接板与所述待测件的各个通道连;

2.根据权利要求1所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,所述上位机包括用例管理模块和编译模块;

3.根据权利要求2所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,所述上位机,还用于通过UI界面接收测试触发信号,根据测试触发信号生成测试任务,所述测试任务中指定待测件和待测件上运行的SDK,根据待测件和待测件上运行的SDK,从所用的测试用例中选择对应的测试用例,形成测试用例集,生成单独的可执行二进制文件。

4.根据权利要求3所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,所述上位机还包括运行模块和报表生成模块;

5.根据权利要求1所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,所述上位机包括测试初始化模块,用于为每一个测试用例创建一个测试用例类实例,所述测试用例类实例中包括多个类函数;

6.根据权利要求4所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,当所述上位机上的运行模块向所述硬件配试平台发送控制指令时,根据获取的测试用例,基于所述上位机与所述硬件配试平台约定的串口通信协议生成指令数据帧,向所述硬件配试平台发送所述指令数据帧;

7.根据权利要求6所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,针对待测件的不同功能模块,所述串口通信协议对向所述硬件配试平台传送的指令数据帧中的参数类型和参数值进行约定,所述指令数据帧包括帧头部、帧数据和校验码,帧头部包括帧首、帧长度、帧序号、协议版本、节点号和接口类型,所述帧数据包括通道号、测试模式、测试参数和数据,所述校验码为求和校验。

8.根据权利要求7所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,所述

9.根据权利要求1所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,所述硬件配试平台为商用开发板。

10.一种基于配试平台的SoC自动化测试方法,应用于权利要求1所述的基于配试平台的SoC自动化测试系统,其特征在于,所述方法包括:

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【技术特征摘要】

1.一种基于配试平台的soc自动化测试系统,其特征在于,包括上位机、硬件配试平台和待测件,所述待测件为soc开发板,所述上位机通过串口分别与所述硬件配试平台和所述待测件通信连接,所述硬件配试平台的各个通道通过转接板与所述待测件的各个通道连;

2.根据权利要求1所述的soc自动化测试系统,其特征在于,所述上位机包括用例管理模块和编译模块;

3.根据权利要求2所述的soc自动化测试系统,其特征在于,所述上位机,还用于通过ui界面接收测试触发信号,根据测试触发信号生成测试任务,所述测试任务中指定待测件和待测件上运行的sdk,根据待测件和待测件上运行的sdk,从所用的测试用例中选择对应的测试用例,形成测试用例集,生成单独的可执行二进制文件。

4.根据权利要求3所述的soc自动化测试系统,其特征在于,所述上位机还包括运行模块和报表生成模块;

5.根据权利要求1所述的soc自动化测试系统,其特征在于,所述上位机包括测试初始化模块,用于为每一个测试用例创建一个测试用例类实例,所述测试用例类实例中包...

【专利技术属性】
技术研发人员:李懿琪王坤张哲吕顺远高凡黄治华
申请(专利权)人:武汉凌久微电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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