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【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及自动化测试领域,更具体地,涉及一种基于配试平台的soc自动化测试系统及测试方法。
技术介绍
1、在soc芯片设计与验证的各个阶段中,需要对soc芯片的各功能模块进行大量且反复的测试,以形成稳定的芯片产品。其中,数字部分的功能测试涉及多种参数组合,最终形成的测试用例数量极大,且需要反复进行回归测试以保证每次更改后硬件功能的正确性,因此,需要一套能进行soc芯片多模块功能验证的自动化测试平台,尽可能地减少需要的手工操作。
技术实现思路
1、本专利技术针对现有技术中存在的技术问题,提供一种基于配试平台的soc自动化测试系统及测试方法,能实现对soc芯片的自动化批量测试。
2、根据本专利技术的第一方面,提供了一种基于配试平台的soc自动化测试系统,包括上位机、硬件配试平台和待测件,所述待测件为soc开发板,所述上位机通过串口分别与所述硬件配试平台和所述待测件通信连接,所述硬件配试平台的各个通道通过转接板与所述待测件的各个通道连;
3、所述上位机上运行自动化测试框架,用于生成所有测试用例,根据测试任务,选择相应的测试用例,向所述待测件发送测试用例,以及向所述硬件配试平台发送控制指令;
4、所述硬件配试平台,用于当接收到所述控制指令时,运行配合测试代码,以对待测件进行配合测试,并向所述上位机返回测试日志;
5、所述待测件,用于当接收到所述上位机下发的测试用例时,运行测试代码,对待测件的功能模块进行测试,并向所述上位机返回测试日志;<
...【技术保护点】
1.一种基于配试平台的SoC自动化测试系统,其特征在于,包括上位机、硬件配试平台和待测件,所述待测件为SoC开发板,所述上位机通过串口分别与所述硬件配试平台和所述待测件通信连接,所述硬件配试平台的各个通道通过转接板与所述待测件的各个通道连;
2.根据权利要求1所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,所述上位机包括用例管理模块和编译模块;
3.根据权利要求2所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,所述上位机,还用于通过UI界面接收测试触发信号,根据测试触发信号生成测试任务,所述测试任务中指定待测件和待测件上运行的SDK,根据待测件和待测件上运行的SDK,从所用的测试用例中选择对应的测试用例,形成测试用例集,生成单独的可执行二进制文件。
4.根据权利要求3所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,所述上位机还包括运行模块和报表生成模块;
5.根据权利要求1所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,所述上位机包括测试初始化模块,用于为每一个测试用例创建一个测试用例类实例,所述测试用例类实例中包括多个类函数;
6.根据权利要求4所述
7.根据权利要求6所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,针对待测件的不同功能模块,所述串口通信协议对向所述硬件配试平台传送的指令数据帧中的参数类型和参数值进行约定,所述指令数据帧包括帧头部、帧数据和校验码,帧头部包括帧首、帧长度、帧序号、协议版本、节点号和接口类型,所述帧数据包括通道号、测试模式、测试参数和数据,所述校验码为求和校验。
8.根据权利要求7所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,所述
9.根据权利要求1所述的SoC自动化测试系统,其特征在于,所述硬件配试平台为商用开发板。
10.一种基于配试平台的SoC自动化测试方法,应用于权利要求1所述的基于配试平台的SoC自动化测试系统,其特征在于,所述方法包括:
...【技术特征摘要】
1.一种基于配试平台的soc自动化测试系统,其特征在于,包括上位机、硬件配试平台和待测件,所述待测件为soc开发板,所述上位机通过串口分别与所述硬件配试平台和所述待测件通信连接,所述硬件配试平台的各个通道通过转接板与所述待测件的各个通道连;
2.根据权利要求1所述的soc自动化测试系统,其特征在于,所述上位机包括用例管理模块和编译模块;
3.根据权利要求2所述的soc自动化测试系统,其特征在于,所述上位机,还用于通过ui界面接收测试触发信号,根据测试触发信号生成测试任务,所述测试任务中指定待测件和待测件上运行的sdk,根据待测件和待测件上运行的sdk,从所用的测试用例中选择对应的测试用例,形成测试用例集,生成单独的可执行二进制文件。
4.根据权利要求3所述的soc自动化测试系统,其特征在于,所述上位机还包括运行模块和报表生成模块;
5.根据权利要求1所述的soc自动化测试系统,其特征在于,所述上位机包括测试初始化模块,用于为每一个测试用例创建一个测试用例类实例,所述测试用例类实例中包...
【专利技术属性】
技术研发人员:李懿琪,王坤,张哲,吕顺远,高凡,黄治华,
申请(专利权)人:武汉凌久微电子有限公司,
类型:发明
国别省市:
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