【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及量子计算，尤其是涉及一种测控实验结果的处理方法及装置、量子计算机。
技术介绍
1、量子计算与量子信息是一门基于量子力学的原理来实现计算与信息处理任务的交叉学科，与量子物理、计算机科学、信息学等学科有着十分紧密的联系。在最近二十年有着快速的发展。因数分解、无结构搜索等场景的基于量子计算机的量子算法展现出了远超越现有基于经典计算机的算法的表现，也使这一方向被寄予了超越现有计算能力的期望。由于量子计算在解决特定问题上具有远超经典计算机性能的发展潜力，而为了实现量子计算机，需要获得一块包含有足够数量与足够质量量子比特的量子芯片，并且能够对量子比特进行极高保真度的量子逻辑门操作与读取。
2、量子芯片之于量子计算机就相当于cpu之于传统计算机，量子芯片是量子计算机的核心部件。随着量子计算相关技术的不断研究推进，量子芯片上的量子比特位数也在逐年增加，可以预见的是，后续会出现更大规模的量子芯片，届时量子芯片中的量子比特位数将会更多，量子计算机中也会搭载更大规模的量子芯片。我们在对量子芯片进行测试或者实际应用时，需要在量子芯片上执行相应的测控实验，例如ramsey实验、rabi实验等，现有技术中每次进行测控实验都需要研发人员参与到对实验结果的处理中，效率低下。
3、因此，需要提出一种可以提高量子计算机执行效率的方案。
4、需要说明的是，公开于本申请
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部分的信息仅仅旨在加深对本申请一般
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的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种测控实验结果的处理方法及装置、量子计算机，用于解决现有技术中测控实验结果的处理效率低下的问题。
2、为了解决以上技术问题，本专利技术提出一种测控实验结果的处理方法，包括：
3、对当前的测控实验的原始实验数据进行数据预处理，获取待分析的数据，其中，所述测控实验为对量子芯片中量子比特进行控制和测量的实验；
4、对所述待分析的数据进行曲线拟合处理，获取拟合参数；
5、从所述拟合参数中获取所述测控实验的结果。
6、可选地，所述数据预处理包括对所述原始实验数据进行平滑处理。
7、可选地，所述数据预处理还包括：
8、设置当前所述测控实验期望分析的结果对象，所述结果对象包括退相干时间或腔频或ac调制谱。
9、可选地，所述曲线拟合处理包括利用拟合模型对所述待分析的数据进行拟合处理。
10、可选地，所述曲线拟合处理包括利用最小二乘法对所述待分析的数据进行拟合处理。
11、可选地，所述处理方法还包括：
12、对所述曲线拟合处理后的结果，进行质量评估，所述质量评估用于反映所述测控实验的实验结果是否符合要求。
13、可选地，利用拟合优度进行所述质量评估。
14、可选地，所述处理方法还包括：
15、对所述测控实验的结果进行可视化展示。
16、可选地，所述数据预处理还包括初始化画布，所述画布用于对所述测控实验的结果进行可视化展示。
17、基于同一专利技术构思，本专利技术还提出一种测控实验结果的处理装置，包括：
18、数据预处理模块，其被配置为对当前的测控实验的原始实验数据进行数据预处理，获取待分析的数据，其中，所述测控实验为对量子芯片中量子比特进行控制和测量的实验；
19、曲线拟合处理模块，其被配置为对所述待分析的数据进行曲线拟合处理，获取拟合参数；
20、结果获取模块，其被配置为从所述拟合参数中获取所述测控实验的结果。
21、基于同一专利技术构思，本专利技术还提出一种量子计算机，利用上述特征描述中任一项所述的测控实验结果的处理方法，或包括上述特征描述中所述的测控实验结果的处理装置。
22、基于同一专利技术构思，本专利技术还提出一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被一处理器执行时能实现上述特征描述中任一项所述的测控实验结果的处理方法。
23、与现有技术相比，本专利技术具有以下有益效果：
24、本专利技术提出的测控实验结果的处理方法，首先对当前的测控实验的原始实验数据进行数据预处理，获取待分析的数据，其中，所述测控实验为对量子芯片中量子比特进行控制和测量的实验；然后对所述待分析的数据进行曲线拟合处理，获取拟合参数；最后从所述拟合参数中获取所述测控实验的结果。利用本申请提出的方案，可以在执行完测控实验后根据设定好的实验结果分析流程对测控实验结果进行处理，有效提高了测控实验结果的处理效率，在一定程度上提高了量子计算机的执行效率。
25、本专利技术提出的测控实验结果的处理装置、量子计算机以及可读存储介质，与所述测控实验结果的处理方法属于同一专利技术构思，因此具有相同的有益效果，在此不做赘述。
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1.一种测控实验结果的处理方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述数据预处理包括对所述原始实验数据进行平滑处理。
3.如权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述数据预处理还包括：
4.如权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述曲线拟合处理包括利用拟合模型对所述待分析的数据进行拟合处理。
5.如权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述曲线拟合处理包括利用最小二乘法对所述待分析的数据进行拟合处理。
6.如权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述处理方法还包括：
7.如权利要求6所述的处理方法，其特征在于，利用拟合优度进行所述质量评估。
8.如权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述处理方法还包括：
9.如权利要求8所述的处理方法，其特征在于，所述数据预处理还包括初始化画布，所述画布用于对所述测控实验的结果进行可视化展示。
10.一种测控实验结果的处理装置，其特征在于，包括：
11.一种量子计算机，其特征在于，利用权利要求1
12.一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被一处理器执行时能实现1-9中任一项所述的测控实验结果的处理方法。
...【技术特征摘要】
1.一种测控实验结果的处理方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述数据预处理包括对所述原始实验数据进行平滑处理。
3.如权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述数据预处理还包括：
4.如权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述曲线拟合处理包括利用拟合模型对所述待分析的数据进行拟合处理。
5.如权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述曲线拟合处理包括利用最小二乘法对所述待分析的数据进行拟合处理。
6.如权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述处理方法还包括：
7.如权利要求6所述的处理方法，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：孔伟成，请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：本源量子计算科技合肥股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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