一种Tray盘检测治具制造技术

本技术提供一种Tray盘检测治具，用于对芯片外观检测，包括Tray盘，所述Tray盘中间为检测放置台，两侧为斜面检测台；所述斜面检测台向外倾斜，其放置斜面和检测放置台之间夹角为45°；所述斜面检测台和检测放置台连接处预留让位槽，所述让位槽形状为弧形，且匹配所述芯片引脚。本新型的Tray盘检测治具，解决了现有检测设备产品平放于显微设备下，产品侧面的外观异常不容易被发现的问题，通过设置斜面检测台和让位槽，可以斜放产品，便于确认产品侧面外观状况，可以清晰看到产品侧面是否异常，并且不会造成产品引脚变形。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及检测治具，具体涉及一种tray盘检测治具。

技术介绍

1、tray盘是一种物料盘，用于承载芯片的装置，tray盘检测治具是一种芯片外观进行观察并将其不合格的次品筛选出来的装置。现有技术的检测方式是将产品平放于载物台上然后通过显微设备观察，这种方式视线垂直于引脚及芯片的平面，对产品侧面的外观异常不容易被发现，并且在移动的过程中，引脚会被划伤损坏，因此产品平放的检测载物台非常的不适用，因此，我们提出一种tray盘检测治具，来实现可以斜放产品，便于确认产品侧面外观状况，避免引脚变形。

技术实现思路

1、针对现有的技术方案存在的问题。本技术的目的在于提供一种tray盘检测治具。

2、为实现上述目的，本技术提供以下技术方案：

3、一种tray盘检测治具，用于对芯片外观检测，包括tray盘，所述tray盘中间为检测放置台，两侧为斜面检测台；所述斜面检测台向外倾斜，其放置斜面和检测放置台之间夹角为45°； 所述斜面检测台和检测放置台连接处预留让位槽，所述让位槽形状为弧形，且匹配所述芯片引脚。

4、作为本方案的进一步改进，斜面检测台的顶部为引脚放置面，所述引脚放置面为水平面。

5、作为本方案的进一步改进，所述检测放置台为方形。

6、作为本方案的进一步改进，检测放置台和斜面检测台为一体结构。

7、作为本方案的进一步改进，tray盘整体为不锈钢材质。

8、作为本方案的进一步改进，让位槽内部涂抹透明软胶。>

9、与现有技术相比，本技术的有益效果是：本新型的tray盘检测治具，解决了现有检测设备产品平放于显微设备下，产品侧面的外观异常不容易被发现的问题，通过设置斜面检测台和让位槽，可以斜放产品，便于确认产品侧面外观状况，可以清晰看到产品侧面是否异常，并且不会造成产品引脚变形。

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【技术保护点】

1.一种Tray盘检测治具，用于对芯片(100)外观检测，包括Tray盘(1)，其特征在于，所述Tray盘(1)中间为检测放置台(10)，两侧为斜面检测台(2)；所述斜面检测台(2)向外倾斜，其放置斜面(22)和检测放置台(10)之间夹角为45°；所述斜面检测台(2)和检测放置台(10)连接处预留让位槽(20)，所述让位槽(20)形状为弧形，且匹配所述芯片(100)引脚；让位槽(20)内部涂抹透明软胶。

2.根据权利要求1所述的一种Tray盘检测治具，其特征在于，斜面检测台(2)的顶部为引脚放置面(21)，所述引脚放置面(21)为水平面。

3.根据权利要求2所述的一种Tray盘检测治具，其特征在于，所述检测放置台(10)为方形。

4.根据权利要求1所述的一种Tray盘检测治具，其特征在于，检测放置台(10)和斜面检测台(2)为一体结构。

5.根据权利要求1所述的一种Tray盘检测治具，其特征在于，Tray盘(1)整体为不锈钢材质。

【技术特征摘要】

1.一种tray盘检测治具，用于对芯片(100)外观检测，包括tray盘(1)，其特征在于，所述tray盘(1)中间为检测放置台(10)，两侧为斜面检测台(2)；所述斜面检测台(2)向外倾斜，其放置斜面(22)和检测放置台(10)之间夹角为45°；所述斜面检测台(2)和检测放置台(10)连接处预留让位槽(20)，所述让位槽(20)形状为弧形，且匹配所述芯片(100)引脚；让位槽(20)内部涂抹透明软胶。

2.根据权利要求1所述的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁修胜，周勇，方磊，
申请(专利权)人：合肥六角形半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：