【技术实现步骤摘要】
技术介绍
1、目前，在采用流延工艺生产陶瓷生瓷片或陶瓷制品时，由于对陶瓷生瓷片的产品性能要求较高，当陶瓷生瓷片生产完成后需要进行外观检测，避免陶瓷生瓷片的表面出现凹凸不平、裂缝或者划痕等外观缺陷，影响陶瓷生瓷片的后续加工以及使用。现有技术中，一般采用人工对陶瓷生瓷片的外观进行检测，检测过程较为复杂，将陶瓷生瓷片放置在特定的检测工位上，通过肉眼对陶瓷生瓷片的表面进行观察，以此判断陶瓷生瓷片为良品或不良品，人工检测强度较大，容易出错，检测效率较低。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是：提供一种陶瓷生瓷片表面测量方法及测量系统，提高陶瓷生瓷片的外观检测效率，简化检测过程，降低工人劳动强度，提高生产效率。
2、为了实现上述目的，本专利技术提供了一种陶瓷生瓷片表面测量方法，包括以下步骤：
3、s1、光线对陶瓷生瓷片的表面进行照射；
4、s2、拍摄所述陶瓷生瓷片的表面实时图像，在所述实时图像上确定多个取点区域，在各个所述取点区域内选取检测点，测得各所述检测点的实时亮度值；
5、s3、将各所述检测点的实时亮度值与标准亮度阈值的取值范围进行对比，若各所述检测点的实时亮度值均落入所述标准亮度阈值的取值范围，所述陶瓷生瓷片为良品，反之，则为不良品。
6、本专利技术还提供一种基于上述陶瓷生瓷片表面测量方法的测量系统：包括发光装置以及图像采集模块；
7、所述发光装置用于发射所述光线，所述光线照射在所述陶瓷生瓷片的表面，所述光线与所
8、所述图像采集模块位于所述陶瓷生瓷片上方，用于拍摄所述陶瓷生瓷片的表面实时图像。
9、更进一步地，所述发光装置包括支架以及机架，所述机架沿长度方向间隔设置有用于发射光线的多个光源，所述机架的两端转动连接有所述支架，所述支架上开设有弧形限位槽，所述弧形限位槽内穿设有固定螺钉，所述固定螺钉和所述机架螺纹连接。
10、更进一步地，所述光线的入射角度为10°-90°。
11、更进一步地，所述光源采用led。
12、更进一步地，所述图像采集模块包括安装架和相机，所述相机固定在所述安装架上。
13、更进一步地，所述支架上开设有安装孔。
14、更进一步地，还包括除尘模块，所述除尘模块的出风口正对所述陶瓷生瓷片的表面设置。
15、本专利技术实施例一种陶瓷生瓷片表面测量方法以及测量系统与现有技术相比，其有益效果在于：通过光线对陶瓷生瓷片的表面进行照射，陶瓷生瓷片的表面出现缺陷的区域相比于正常区域的亮度发生变化，通过图像采集模块测得多个取点区域内检测点的实时亮度值，与标准亮度阈值的取值范围进行对比，可直接对陶瓷生瓷片进行良品与不良品的判断，提高陶瓷生瓷片的外观检测效率，简化检测过程，降低工人劳动强度，提高生产效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种陶瓷生瓷片表面测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.一种基于权利要求1所述的陶瓷生瓷片表面测量方法的测量系统，其特征在于：包括发光装置以及图像采集模块；
3.如权利要求2所述的陶瓷生瓷片表面测量系统，其特征在于：所述发光装置包括支架以及机架，所述机架沿长度方向间隔设置有用于发射光线的多个光源，所述机架的两端转动连接有所述支架，所述支架上开设有弧形限位槽，所述弧形限位槽内穿设有固定螺钉，所述固定螺钉和所述机架螺纹连接。
4.如权利要求2所述的陶瓷生瓷片表面测量系统，其特征在于：所述光线的入射角度为10°-90°。
5.如权利要求3所述的陶瓷生瓷片表面测量系统，其特征在于：所述光源采用LED。
6.如权利要求2所述的陶瓷生瓷片表面测量系统，其特征在于：所述图像采集模块包括安装架和相机，所述相机固定在所述安装架上。
7.如权利要求3所述的陶瓷生瓷片表面测量系统，其特征在于：所述支架上开设有安装孔。
8.如权利要求2所述的陶瓷生瓷片表面测量系统，其特征在于：还包括除尘模块，所述除尘模块的出风口
...【技术特征摘要】
1.一种陶瓷生瓷片表面测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.一种基于权利要求1所述的陶瓷生瓷片表面测量方法的测量系统，其特征在于：包括发光装置以及图像采集模块；
3.如权利要求2所述的陶瓷生瓷片表面测量系统，其特征在于：所述发光装置包括支架以及机架，所述机架沿长度方向间隔设置有用于发射光线的多个光源，所述机架的两端转动连接有所述支架，所述支架上开设有弧形限位槽，所述弧形限位槽内穿设有固定螺钉，所述固定螺钉和所述机架螺纹连接。
4.如权利要求2所述的陶瓷生瓷片表面测量系...
【专利技术属性】
技术研发人员：金士渊，周志敏，杨雪蛟，黄俊煜，陈世栋，余舒婷，
申请(专利权)人：广东先导元创精密科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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