【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及芯片，尤其涉及一种标准单元老化分析方法、装置、电子设备和存储介质。
技术介绍
1、标准单元包括组合逻辑单元、时序逻辑单元、物理单元等，在进行集成电路设计时，可以根据电路要求调用所需的标准单元进行逻辑综合和自动布局布线。通过评估标准单元的老化情况，可以将老化引起的延迟增加考虑到集成电路设计的综合、时序分析等流程中，以实现跨层次的可靠性协同设计，进而准确评估集成电路在不同场景下的老化情况。
2、目前，通过集成电路重点模拟程序(simulation program with integratedcircuit emphasis，spice)对标准单元进行老化分析。
3、然而，由于集成电路的输入组合情况复杂，在对标准单元进行老化分析时需要分析标准单元在不同输入状态组合下的老化延迟，而通过spice分析标准单元在单一输入状态组合下的老化延迟就需要耗费较长时间，所以对标准单元进行老化分析的效率较低。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请实施例提供一种标准单元老化分析方法、装置、电子设备和存储介质，以至少部分解决上述问题。
2、根据本申请实施例的第一方面，提供了一种标准单元老化分析方法，包括：获取标准单元的结构信息和老化条件信息；将所述结构信息转换为图结构数据；将所述老化条件信息转换为所述图结构数据中节点的节点特征；将所述图结构数据和所述节点特征输入图神经网络模型，获得所述图神经网络模型输出的老化延迟，所述老化延迟用于指示所述标准单元的老化后延迟
3、根据本申请实施例的第二方面，提供了一种标准单元老化分析装置，包括：获取单元，用于获取标准单元的结构信息和老化条件信息；第一转换单元，用于将所述结构信息转换为图结构数据；第二转换单元，用于将所述老化条件信息转换为所述图结构数据中节点的节点特征；计算单元，用于将所述图结构数据和所述节点特征输入图神经网络模型，获得所述图神经网络模型输出的老化延迟，所述老化延迟用于指示所述标准单元的老化后延迟。
4、根据本申请实施例的第三方面，提供了一种电子设备，包括：处理器、存储器、通信接口和通信总线，处理器、存储器和通信接口通过通信总线完成相互间的通信；存储器用于存放至少一可执行指令，可执行指令使处理器执行上述第一方面所述方法对应的操作。
5、根据本申请实施例的第四方面，提供了一种计算机存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述第一方面所述的方法。
6、根据本申请实施例的第五方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机指令，所述计算机指令指示计算设备执行上述第一方面所述的方法。
7、由上述技术方案可知，将标准单元的结构信息转换为图结构数据后，将老化条件信息转换为图结构数据中节点的节点特征，进而将图结构数据和节点特征输入图神经网络模型，通过图神经网络模型对标准单元进行老化仿真和老化后延迟检测，进而获得图神经网络模型输出的可以指示标准单元的老化后延迟的老化延迟。通过图神经网络模型对标准单元进行老化分析，相对于通过spice对标准单元进行老化分析可以缩短老化分析的耗时，从而提高对标准单元进行老化分析的效率。
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1.一种标准单元老化分析方法，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述将所述结构信息转换为图结构数据，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述图神经网络模型包括关系图卷积网络和图注意力网络；
4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述关系图卷积网络包括2个关系图卷积层和1个批归一化层，和/或，所述图注意力网络包括1个图注意力层和1个批归一化层。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述老化条件信息包括所述标准单元的输入状态组合、加速老化测试条件、及老化后性能测试条件中的至少一个。
6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述加速老化测试条件和所述老化后性能测试条件均包括电源端电压值、上升沿时间、下降沿时间、状态翻转概率、状态保持时间、温度、及负载电容中的至少一个，且所述加速老化测试条件和所述老化后性能测试条件所包括各项中的至少一项的值不同。
7.根据权利要求1-6中任一所述的方法，其中，所述将老化条件信息转换为所述图结构数据中节点的节点特征，包括：
8.根据权利要求7所述的方法，其中，所
9.一种标准单元老化分析装置，包括：
10.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储器、通信接口和通信总线，处理器、存储器和通信接口通过通信总线完成相互间的通信；
11.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-8中任一项的方法。
12.一种计算机程序产品，其特征在于，包括计算机指令，所述计算机指令指示计算设备执行如权利要求1-8中任一项的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种标准单元老化分析方法，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述将所述结构信息转换为图结构数据，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述图神经网络模型包括关系图卷积网络和图注意力网络；
4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述关系图卷积网络包括2个关系图卷积层和1个批归一化层，和/或，所述图注意力网络包括1个图注意力层和1个批归一化层。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述老化条件信息包括所述标准单元的输入状态组合、加速老化测试条件、及老化后性能测试条件中的至少一个。
6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述加速老化测试条件和所述老化后性能测试条件均包括电源端电压值、上升沿时间、下降沿时间、状态翻转概率、状态保持时间、温度、及负载电容中的至少一个，且所述加速老化测试条件和所述老化后性能测试条件所包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨超，任鹏鹏，蔡泽鉴，叶锦锋，纪志罡，
申请(专利权)人：平头哥上海半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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