System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 光存储系统和用于改善光存储系统可靠性的方法技术方案_技高网

光存储系统和用于改善光存储系统可靠性的方法技术方案

技术编号:42585859 阅读:16 留言:0更新日期:2024-09-03 18:03
本发明专利技术提供光存储系统和用于改善光存储系统可靠性的方法,涉及光存储系统技术领域,本发明专利技术通过集成数据采集模块、指数生成模块和模型构建模块,在时间移位测量的基础上,引入误差数据集采集、环境因素和物理特性数据进行综合分析处理;能够实时监测光存储系统在实际使用环境中遇到的各种干扰因素,及时生成位移量评价指数、误差评价指数及环境影响指数和物理影响指数,并通过相关性分析生成影响系数ρ;依托这些指数和系数,阈值微调模型能够精确地对预定阈值进行动态调整,显著提高光存储系统在复杂环境下的数据读写可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光存储系统,具体为光存储系统和用于改善光存储系统可靠性的方法


技术介绍

1、光存储技术,作为信息
的一大里程碑,自从上世纪80年代初商用光盘问世以来,已经经历了从cd到dvd,再到蓝光光盘的多次技术迭代,这种利用激光技术读写数据的方法,以其高密度存储能力和稳定的数据保存性能,成为大容量数据存储和传输的重要手段;随着信息技术的飞速发展,光存储系统不断优化升级,尤其是在数据存取速度、存储容量和数据保护机制上取得了显著进步;然而,随着存储需求的日益增长和应用环境的日趋复杂化,传统光存储系统在数据可靠性和存取效率方面的挑战也日渐凸显;

2、如公告号为cn101268518a的中国专利,其公开了一种用于改善在光存储系统中的可靠性的方法和系统;在所述光存储系统向诸如cd、dvd、或者蓝光盘的光存储介质的写操作过程中执行在两个信息流之间的时间移位测量;当该时间移位测量比预定的级别大时中断该光存储系统的写操作,用于在所述写操作过程中检测例如由光存储介质的切向震动、振动、偏心或者失去平衡而导致的不规则;因此导致有缺陷的写操作的不规则由测量装置检测,光存储系统很快被检测以便一有震动、振动等就通过中断记录而浪费盘;

3、现有技术的不足:

4、尽管现有的光存储系统已具备较高的数据存储和检索效率,但在面对环境震动、温湿度变化等因素时,系统的数据读写可靠性仍存在显著不足;特别是在高精度应用场景中,如数据中心、科学研究等领域,微小的震动或环境变化都可能导致激光头与光盘的相对位置偏移,进而产生聚焦误差、径向误差和跟踪误差,严重影响数据的准确读写;此外,现有技术在处理这些误差时,单一的通过时间移位测量往往缺乏动态调整机制,无法根据实时环境和物理特性变化进行有效的阈值微调,导致系统的适应性和可靠性不足;

5、在所述
技术介绍
部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供光存储系统和用于改善光存储系统可靠性的方法,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。

2、为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:

3、一种光存储系统,所述该系统包括执行时间移位测量的过程,该过程在向光存储介质写入数据时进行,并涉及两个信息流之间的操作,具体包括:

4、数据采集模块:用于采集由于震动或振动而引起的光盘和激光头在彼此间相对位置上的时间移位测量数据,并采集与时间移位测量数据相关的可量化参数,以及聚焦误差、径向误差和跟踪误差数据构成的误差数据集,并采集盘系统在写操作被中断时的预定阈值,该预定阈值用于与时间移位测量值进行对比,并采集该盘和激光头进行读写数据过程周边的环境因素数据,以及采集光存储介质与环境因素数据相关的物理特性数据;

5、指数生成模块:用于获取可量化参数后进行分析处理,生成位移量评价指数,位移量评价指数用于对位移程度进行判断;

6、获取误差数据集进行分析处理,生成误差评价指数,误差评价指数用于对激光头的误差程度进行判断;

7、获取环境因素数据与物料特性数据进行分析处理,分别生成环境影响指数和物理影响指数;并对环境影响指数和物理影响指数进行相关性分析,生成影响系数ρ,影响系数ρ用于对环境影响指数和物理影响指数之间的相关程度进行划分;

8、模型构建模块:用于获取位移量评价指数、误差评价指数和影响系数ρ后进行分析处理,构建阈值微调模型,阈值微调模型用于对预定阈值进行微调。

9、一种改善光存储系统可靠性的方法,所述方法用于执行所述的光存储系统,具体步骤包括:

10、步骤s1、采集由于震动或振动而引起的光盘和激光头在彼此间相对位置上的时间移位测量数据,并采集与时间移位测量数据相关的可量化参数,以及聚焦误差、径向误差和跟踪误差数据构成的误差数据集,并采集盘系统在写操作被中断时的预定阈值,该预定阈值用于与时间移位测量值进行对比,并采集该盘和激光头进行读写数据过程周边的环境因素数据,以及采集光存储介质与环境因素数据相关的物理特性数据;

11、步骤s2、获取可量化参数后进行分析处理,生成位移量评价指数,位移量评价指数用于对位移程度进行判断;

12、获取误差数据集进行分析处理,生成误差评价指数,误差评价指数用于对激光头的误差程度进行判断;

13、获取环境因素数据与物料特性数据进行分析处理,分别生成环境影响指数和物理影响指数;并对环境影响指数和物理影响指数进行相关性分析,生成影响系数ρ,影响系数ρ用于对环境影响指数和物理影响指数之间的相关程度进行划分;

14、步骤s3、获取位移量评价指数、误差评价指数和影响系数ρ后进行分析处理,构建阈值微调模型,阈值微调模型用于对预定阈值进行微调。

15、与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:通过集成数据采集模块、指数生成模块和模型构建模块,在时间移位测量的基础上,引入误差数据集采集、环境因素和物理特性数据进行综合分析处理;能够实时监测光存储系统在实际使用环境中遇到的各种干扰因素,及时生成位移量评价指数、误差评价指数及环境影响指数和物理影响指数,并通过相关性分析生成影响系数ρ;依托这些指数和系数,阈值微调模型能够精确地对预定阈值进行动态调整,显著提高光存储系统在复杂环境下的数据读写可靠性。

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【技术保护点】

1.一种光存储系统,所述该系统包括执行时间移位测量的过程,该过程在向光存储介质写入数据时进行,并涉及两个信息流之间的操作,其特征在于,具体包括:

2.根据权利要求1所述的一种光存储系统,其特征在于:所述时间移位测量数据由光盘系统中光拾取单元检测得出,所述可量化参数包括振动频率参数、振动幅度参数、时间戳差异值、相对速度变化量和轨道偏离度,并对振动频率参数、振动幅度参数、时间戳差异值、相对速度变化量和轨道偏离度依次进行标定,形成振动频率参数f、振动幅度参数A、时间戳差异值、相对速度变化量和轨道偏离度D;

3.根据权利要求2所述的一种光存储系统,其特征在于:所述获取可量化参数后进行分析处理,生成位移量评价指数,位移量评价指数用于对位移程度进行判断,具体包括以下内容;

4.根据权利要求2所述的一种光存储系统,其特征在于:所述获取误差数据集进行分析处理,生成误差评价指数,误差评价指数用于对激光头的误差程度进行判断,具体包括以下内容;

5.根据权利要求2所述的一种光存储系统,其特征在于:所述获取环境因素数据与物料特性数据进行分析处理,分别生成环境影响指数和物理影响指数,具体包括以下内容;

6.根据权利要求3或4或5所述的一种光存储系统,其特征在于:所述获取位移量评价指数、误差评价指数和影响系数ρ后进行分析处理,构建阈值微调模型,阈值微调模型用于对预定阈值进行微调,具体包括以下内容;

7.一种改善光存储系统可靠性的方法,其特征在于:所述方法用于执行权利要求1-6任意一项所述的光存储系统,具体步骤包括:

...

【技术特征摘要】

1.一种光存储系统,所述该系统包括执行时间移位测量的过程,该过程在向光存储介质写入数据时进行,并涉及两个信息流之间的操作,其特征在于,具体包括:

2.根据权利要求1所述的一种光存储系统,其特征在于:所述时间移位测量数据由光盘系统中光拾取单元检测得出,所述可量化参数包括振动频率参数、振动幅度参数、时间戳差异值、相对速度变化量和轨道偏离度,并对振动频率参数、振动幅度参数、时间戳差异值、相对速度变化量和轨道偏离度依次进行标定,形成振动频率参数f、振动幅度参数a、时间戳差异值、相对速度变化量和轨道偏离度d;

3.根据权利要求2所述的一种光存储系统,其特征在于:所述获取可量化参数后进行分析处理,生成位移量评价指数,位移量评价指数用于对位移程度进行判断,具体包括以下内容...

【专利技术属性】
技术研发人员:姚卫国李乾坤王刚于海波赵德广
申请(专利权)人:吉林科尔物流涂装设备有限公司
类型:发明
国别省市:

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