本发明专利技术涉及光头及具有其的装置，其中光头具有：光射出元件，其射出光束；第１偏光分支元件，其使由光射出元件射出的光束中的第１偏光方向的光束透过，使垂直于第１偏光方向的第２偏光方向的光束向与第１偏光方向的光束的光轴不同的方向反射；第２偏光分支元件，其使透过第１偏光分支元件的第１偏光方向的光束透过或反射；聚光元件，其用于使经第２偏光分支元件透过或反射的光束聚光于信息记录介质；反射元件，其对由信息记录介质反射并经第２偏光分支元件反射或透过的第１反射光束进行反射；和检测元件，其对由反射元件反射并经第２偏光分支元件透过或反射的第２反射光束进行检测。能够实现对由多个信息层构成的光盘进行稳定再现或记录。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及在由多个信息层构成的光学的信息记录介质的再现或 记录中使用的光头和具有其的装置。
技术介绍
近年，作为光学的信息记录介质，使用蓝色的半导体激光的蓝光(Blu-my)或HDDVD等光盘已成品化。特别是，蓝光的一个信息层 可以实现25GB的大容量。然而，由于受光的衍射界限限制，增大每 一层的信息层的容量不容易。由于这样，今后有利用多个信息层实现 大容量化的趋势。作为关联的技术，在专利文献l、 2中说明了具有多个信息层的信 息记录介质的记录再现技术。:日本专利特开平8-185640号公报(第8项，图l) :日本专利特开2006-344344号公报(第29项，图 29， 33)
技术实现思路
作为光学的信息记录介质，光盘最为普及。由于这样，以下，将 光学的信息记录介质称为光盘，将光学的信息记录介质处理装置称为 光盘装置。另外，在具有多个信息层的光盘中，在再现规定的信息层 的情况下，利用检测元件(以下称为检测器)检测从该信息层发出的 反射光束。这时，从与该信息层不同的信息层也产生反射光束。以下， 将该反射光束称为无用反射光束。无用反射光束向通常的检测器行进， 成为由检测器等到的检测信号的外部干扰。在专利文献1、 2中说明了分离该无用反射光束的无用反射光束分 离装置。在专利文献1中说明利用微小的针孔的装置，在专利文献2 中说明利用偏光的装置，在这些文献中由于利用从光盘反射的反射光 束和无用反射光束的聚光和发散状态的不同，必需在利用检测器检测前， 一次聚光反射光束。在专利文献1中，由于一次聚光反射光束。 将检测透镜配置在其目的地，因此有光学系统大型的问题。在专利文献2中，通过将反射元件(以下称为反射板)配备在一 次聚光的位置上，解决专利文献1的问题，达到小型化。但是，由于 配置反射板，产生新的问题。它是必需配备使在射出装置(以下称为 光源)中射出的光束行进至聚光装置(以下称为物镜)的光路1和从 反射板至检测器行进的光路2分支的分支元件(以下称为偏光棱镜) 的原因。当在该位置上配备偏光棱镜时，产生从光源射出的光束的一部分 经过偏光棱镜，，直接向检测器行进的光路，在该光路中行进的光束成 为从检测器得到的检测信号的外部干扰。以下将在该光路中行进的光 束称为无用光束。如以上那样，在专利文献1中，有光学系统大型的问题。在专利 文献2的构成中因为小型化，无用光束成为检测信号的外部干扰，因 此，稳定的再现信号或伺服信号的检测成为问题。本专利技术是考虑上述问题提出的，其目的是要提供可以实现具有多 个信息层的光盘的稳定的再现动作或记录动作的小型的光头和光盘装 置。上述目的可利用权利要求书所述的专利技术达到。 以下简单地说明本申请所示的专利技术中的代表性的专利技术的概要。 艮口，为了达到上述目的，本专利技术的光头具有光射出元件，其射 出光束；第1偏光分支元件，其使由上述光射出元件射出的光束中的 第1偏光方向的光束透过，使垂直于上述第1偏光方向的第2偏光方 向的光束向与上述第1偏光方向的光束的光轴不同的方向反射；第2 偏光分支元件，其使透过上述第1偏光分支元件的上述第1偏光方向 的光束透过或反射；聚光元件，其用于使经上述第2偏光分支元件透 过或反射的光束聚光于信息记录介质；反射元件，其对由上述信息记 录介质反射并经上述第2偏光分支元件反射或透过的第1反射光束进 行反射；和检测元件，其对由上述反射元件反射并经上述第2偏光分 支元件透过或反射的第2反射光束进行检测。根据本专利技术，可以实现抑制或减少无用光束对具有多个信息层的 光盘的影响的，稳定的信息再现或记录。本专利技术的这些和其他的特点，目的和优点从以下结合附图的说明 中将更清楚。附图说明图1为说明实施例1的光头101的大致构成的图； 图2为说明无用光束的图3为说明实施例2的光头130的大致构成的图4为说明实施例3的光头140的大致构成的图； 图5为说明实施例4的光头150的大致构成的图； 图6为说明实施例4的检测器152的图； 图7为说明实施例5的光头170的图8为说明实施例5的分区域衍射光栅170和检测器173的图； 图9为表示实施例6的光头190的大致构成的图； 图10为说明实施例1的无用反射光束的发生原理和反射板109的 无用反射光束的分离原理的图11为表示实施例7的光盘装置101的大致回路构成的方框图的图12为表示实施例8的光头250的大致构成图。 具体实施例方式在以下的本专利技术的各实施例中，以对应于由多个信息层构成的光 盘的记录或再现的光盘装置，和搭载在该光盘装置上的光头为例进行 说明，但本专利技术不受这些实施例限制。(实施例O利用附图，详细说明本专利技术的实施例1。这里，说明与由多个信息 层构成的光盘对应的光头。图1为表示光头101的光学部件构成的图。将从光源102行进至 物镜108的光束的光路称为去路，将从物镜108行进至检测器111的 光束的光路称为回路。92008首先，说明去路。在图中X方向振动的直线偏光(P偏光)的光 束，作为发散光从光源102射出。图中，从光源102向准直透镜108 行进的实线表示光束的光路，虚线表示光束的外侧的行进路径。从光源102射出的光束向偏光棱镜103、 104行进。这些偏光棱镜 为使P偏光的光束透过，反射图中Z方向的S偏光的光束的偏光分支 元件。另外，在一般的光盘装置中使用的光源为半导体激光器。实用化 的半导体激光器的射出的光束的偏光比(P偏光和S偏光的比率)为 100 200程度之多。因此，当从光源102射出的光束的偏光比为100时，入射到偏光 棱镜103的光束中，大约99%的光束(P偏光)透过，向偏光棱镜104 行进。剩余的1%的光束(S偏光)由偏光棱镜103反射。如图所示，当设置遮光壁112时，在偏光棱镜103中反射的光束 不向检测器111行进。由于向偏光棱镜104行进的光束全部为P偏光，可透过偏光棱镜， 向准直透镜105行进。准直透镜105具有将入射的光束换算为大致平 行光的功能。图中没有示出，通过具有能够在光轴方向上驱动准直透 镜105的机构，可以改变在光盘上聚光的光束的球面像差量。这是因 为将聚光在由多个信息层构成的光盘的每个信息层上的光束修正为最 优的球面像差量。经准直透镜105射出的光束，利用竖起反射镜106向图中Z方向 反射，由1/4波长板107从直线偏光变换为圆偏光。变换为圆偏光的光 束，利用搭载在致动器(图中没有示出)上的物镜108聚光在光盘(图 中没有示出)上。接着，对回路进行说明。由光盘的规定的信息层反射的光束再次 由物镜108变换为大致平行的光束，向1/4波长板107行进。利用1/4 波长板107，再次由圆偏光变换为直线偏光，并变换为与在去路中入射 到1/4波长板107上的直线偏光垂直的直线偏光。通过1/4波长板107的光束经过竖起反射镜106，准直透镜105向 偏光棱镜104行进。由于入射到偏光棱镜104的光束变换为与去路垂 直的直线偏光(S偏光)，由偏光棱镜104反射，向反射板109行进。10反射板109同时具有1/4波长板、反射元件、和无用反射光束分离 这三个功能。反射板109首先利用1/4波长板的功能，将入射的光束从 直线偏光(S偏光)变换为圆偏光。其次，将不要反射光束，与来自规 定信息层的反射光束分离。另外，在光本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光头，其特征在于，具有： 光射出元件，其射出光束； 第１偏光分支元件，其使由所述光射出元件射出的光束中的第１偏光方向的光束透过，使垂直于所述第１偏光方向的第２偏光方向的光束向与所述第１偏光方向的光束的光轴不同的方向反射； 第２偏光分支元件，其使透过所述第１偏光分支元件的所述第１偏光方向的光束透过或反射； 聚光元件，其用于使经所述第２偏光分支元件透过或反射的光束聚光于信息记录介质； 反射元件，其对由所述信息记录介质反射并经所述第２偏光分支元件反 射或透过的第１反射光束进行反射；和 检测元件，其对由所述反射元件反射并经所述第２偏光分支元件透过或反射的第２反射光束进行检测。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：川村友人，小笠原浩，
申请(专利权)人：日立视听媒介电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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