【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种轴承测量装置，具体涉及一种用于大型薄壁轴承多几何量的非接触测量装置，属于轴承测量。
技术介绍
1、大型薄壁轴承外圈和内圈加工后的几何量是制定磨削参数和装配参数的重要依据，其直接影响其整体性能和寿命。通过测量轴承套圈尺寸参数和形位误差，可以有效地评估轴承座的制造质量和装配精度，以确保轴承的正常运行和机械设备的可靠性，所以对大型薄壁轴承几何参数的精密测量具有重要的实际意义。需要检测的轴承几何尺寸包括：外径、内径、高度、沟底直径，需要检测的轴承形位误差包括：圆度、圆跳动、平行度和圆柱度。目前对轴承参数的测量方式主要为接触式测量，但其存在众多问题，比如大型薄壁轴承尺寸大，常用的测量装置测量范围不够，并且壁比较薄，接触测量过程中容易造成被测量件变形而影响测量精度；其测头多为硬质合金，无可避免的在测量过程中可能会对被测量件表面产生划伤而影响产品表面质量；不同的参数需要采用不同的测量工装进行独立手动测量，测量工装数量多、操作繁琐、精度差等。传统的接触式测量方法已不能满足实际测量需要，因此，迫切需要一种集成度高、无损伤并且精度高的新装置。
技术实现思路
1、针对大型薄壁轴承现有测量方法存在的测量仪器数量多、测量指标单一、接触式测量引起变形造成测量精度低、测量效率低、缺少数字化等问题，本专利技术要设计一种大型薄壁轴承多几何量的非接触测量装置，可对轴承套圈的几何参数和形位误差进行集成式测量，且具有无损、集成度高和精度高的优点。
2、为了实现上述目的，本专利技术的技术方案如
3、一种大型薄壁轴承多几何量的非接触测量装置，包括工作台、纵向运动单元、横向运动单元、测量单元、回转运动单元和夹持单元；
4、所述纵向运动单元安装在工作台上，所述横向运动单元安装在纵向运动单元上、沿纵向运动单元垂直移动，所述测量单元安装在横向运动单元上、沿横向运动单元横向移动；所述回转运动单元安装在工作台上；所述夹持单元安装在回转单元上；
5、所述工作台包括机箱、大理石台和支座，所述机箱通过支座安装在地面上，所述大理石台固定在机箱上部；
6、所述纵向运动单元包括立柱、纵向电机、纵向丝杠和纵向螺母，所述纵向丝杠和纵向螺母构成纵向运动副，所述立柱固定在大理石台上，所述纵向运动副安装在立柱上，所述纵向电机固定在立柱上部、并与纵向丝杠连接；
7、所述横向运动单元包括横臂、横向电机、横向丝杠、横向螺母、横向滑块、横向导轨、光栅尺、光栅尺读数头和读数头支架，所述横向丝杠和横向螺母构成横向运动副；所述横臂固定在纵向螺母上，所述横向运动副安装在横臂上；所述横向导轨安装在横向滑块上，所述横向滑块与横向螺母固定连接、并与横向导轨滑动连接；所述光栅尺固定在横向导轨上；所述读数头支架固定在横向滑块的侧面；所述光栅尺读数头固定在读数头支架上。所述光栅尺和读数头通过电缆进行连接。所述光栅尺读数头接收到的信号经电缆传送到控制系统或显示器上进行处理和显示。
8、所述测量单元包括转向臂、滑动杆、转动支架、固定座和激光位移传感器，所述转向臂的上端与横向导轨的左端固定连接；所述转向臂的下端与滑动杆滑动连接、并通过螺钉锁紧；所述滑动杆的左端与转动支架连接；所述激光位移传感器通过固定座安装在转动支架上；所述转动支架用于调节激光位移传感器的测量方向；
9、所述回转单元包括调平调心台、气浮主轴、主轴电机和编码器，所述调平调心台通过气浮主轴与主轴电机连接，所述主轴电机固定安装在工作台内；所述主轴电机上设有编码器；
10、所述夹持单元包括工装支架和轴承套圈，所述轴承套圈安装在工装支架上，所述工装支架固定在调平调心台上；所述夹持单元用于放置和固定轴承；
11、所述工装支架包括底座、夹紧组件和定位圆盘，所述底座固定在调平调心台上，所述定位圆盘固定安装在底座的中心，所述夹紧组件有三组、沿定位圆盘周向均布、呈放射状固定在在底座上；
12、所述夹紧组件包括夹紧导轨、导轨垫板、导轨滑块、导轨限位块、拖动拨片、垫高块、限位销、锁紧把手、数显标尺和标尺读数头，所述夹紧导轨沿定位圆盘径向固定在底座上，所述导轨滑块与夹紧导轨滑动连接、沿夹紧导轨移动，所述导轨限位块固定在导轨滑块上；所述导轨垫板固定在导轨限位块和导轨滑块上，所述垫高块固定在导轨垫板上，所述限位销安装在垫高块上；所述锁紧把手安装在在导轨限位块上。
13、所述数显标尺固定在底座上、位于夹紧导轨的一侧、且与夹紧导轨平行，所述标尺读数头安装在数显标尺上，与数显标尺滑动连接。
14、所述拖动拨片呈l型，一面固定在导轨垫板上、位于导轨滑块的一侧，另一面固定在标尺读数头上、位于标尺读数头的下侧。
15、所述限位销用于限制工件的位置，垫高块使激光传感器测到工件的下边缘，数显标尺使工件进行初步定位，锁紧把手锁紧使工件固定。
16、进一步地，所述工作台上设置操作面板。
17、进一步地，所述夹持单元位于检测单元的下方。
18、与现有技术相比，本专利技术的有益效果如下：
19、1、本专利技术采用光学式非接触测量装置对轴承套圈进行测量，具有量程大、无损伤、精度高等优点。
20、2、本专利技术所述的工装支架测量范围大，装夹力小，不易使工件变形，并且可以实现在一次轴承套圈装夹过程中，完成内径、外径、高度、沟径、圆度、圆柱度和平行度等轴承全尺寸测量。
21、3、本专利技术除了测量大型薄壁轴承之外，还能测量其他大型薄壁环形件的几何尺寸和形位误差，适用性强。
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1.一种大型薄壁轴承多几何量的非接触测量装置，其特征在于：包括工作台、纵向运动单元、横向运动单元、测量单元、回转运动单元和夹持单元；
2.根据权利要求1所述一种大型薄壁轴承多几何量的非接触测量装置，其特征在于：所述工作台上设置操作面板。
3.根据权利要求1所述一种大型薄壁轴承多几何量的非接触测量装置，其特征在于：所述夹持单元位于检测单元的下方。
【技术特征摘要】
1.一种大型薄壁轴承多几何量的非接触测量装置，其特征在于：包括工作台、纵向运动单元、横向运动单元、测量单元、回转运动单元和夹持单元；
2.根据权利要求1所述一种大型薄壁轴承多...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱祥龙，康仁科，贾乐平，李景阳，陈彬，
申请(专利权)人：大连理工大学，
类型：发明
国别省市：
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