【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示模组，尤其涉及一种模组银浆接地阻值的监控方法。
技术介绍
1、在液晶显示模组中，需要进行点银浆工序以实现静电释放。在点银浆工序完成以后，通常采用人工抽检的方式来测试银浆的接地效果是否满足设计要求，在测试过程中需要检测人员拿万用表去测量银浆的接地阻值，这种方式存在以下缺陷：采用手工测量的形式，受限于测试手法，容易存在较大的检测误差；采用抽检的形式，无法全检全部产品，存在不合格品流程问题。
2、因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是克服现有技术的不足，提供一种模组银浆接地阻值的监控方法。
2、本专利技术的技术方案如下：本专利技术提供一种模组银浆接地阻值的监控方法，包括以下步骤：
3、步骤1：提供一监控系统，所述监控系统包括承载治具，将待测显示模组放置在所述承载治具上，所述监控系统电性连接待测显示模组的两侧银浆点、中间的cf层裸露区和接地端；
4、步骤2：所述监控系统对分别对待测显示模组的两侧银浆点和中间的cf层裸露区施加电压，并记录三路电路的电流值，获得三路电路的阻值；
5、步骤3：将步骤2得到的三路电路的阻值减去显示模组的绑定阻值，得到测显示模组的两侧银浆点和中间的cf层的接地阻值，并将得到的接地阻值结果与预定值对比，若三路电路的接地阻值均小于等于预定值，则判断银浆接地阻值合格，否则则判断银浆接地阻值不合格。
6、进一步地，所述步骤3中，当判断判断银浆接地阻值不
7、进一步地，在所述步骤1中，在将待测显示模组放置在所述承载治具之前，需要根据每款待测显示模组的pol与cf层的位置、银浆点的位置制定承载治具。
8、进一步地，所述监控系统还包括显示模块，所述显示模块用于显示测试参数和测试结果。
9、进一步地，所述监控系统中预存待测显示模组的型号和对应的接地阻值的预定值，在进行测试时操作人员通过选择待测显示模组的型号，可以控制所述监控系统调用对应的接地阻值的预定值进行对比。
10、采用上述方案，本专利技术的有益效果在于：可以对银浆接地阻值的100％监控和检测，避免出现不合格品流入下游的问题，并且检测效率和准确度较高，可以避免人工检测出现的误差大、万用表探针损伤显示模组等问题。
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1.一种模组银浆接地阻值的监控方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的模组银浆接地阻值的监控方法，其特征在于，所述步骤3中，当判断判断银浆接地阻值不合格时，则进行一次复测。
3.根据权利要求1或2所述的模组银浆接地阻值的监控方法，其特征在于，在所述步骤1中，在将待测显示模组放置在所述承载治具之前，需要根据每款待测显示模组的POL与CF层的位置、银浆点的位置制定承载治具。
4.根据权利要求1或2所述的模组银浆接地阻值的监控方法，其特征在于，所述监控系统还包括显示模块，所述显示模块用于显示测试参数和测试结果。
5.根据权利要求1或2所述的银浆接地阻值的监控方法，其特征在于，所述监控系统中预存待测显示模组的型号和对应的接地阻值的预定值，在进行测试时操作人员通过选择待测显示模组的型号，可以控制所述监控系统调用对应的接地阻值的预定值进行对比。
【技术特征摘要】
1.一种模组银浆接地阻值的监控方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的模组银浆接地阻值的监控方法，其特征在于，所述步骤3中，当判断判断银浆接地阻值不合格时，则进行一次复测。
3.根据权利要求1或2所述的模组银浆接地阻值的监控方法，其特征在于，在所述步骤1中，在将待测显示模组放置在所述承载治具之前，需要根据每款待测显示模组的pol与cf层的位置、银浆点的位置制定...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄平洋，田野，张丽霞，曾小马，
申请(专利权)人：深圳同兴达科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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