【技术实现步骤摘要】
所属的技术人员知道，本专利技术可以实现为系统、方法或计算机程序产品，因此，本公开可以具体实现为以下形式，即：可以是完全的硬件、也可以是完全的软件(包括固件、驻留软件、微代码等)，还可以是硬件和软件结合的形式，本文一般称为“电路”、“模块”或“系统”。此外，在一些实施例中，本专利技术还可以实现为在一个或多个计算机可读介质中的计算机程序产品的形式，该计算机可读介质中包含计算机可读的程序代码。可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是一一但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(ram)，只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本申请中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。尽管上面已经示出和描述了本专利技术的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本专利技术的限制，本领域的普通技术人员在本专利技术的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
技术介绍
1、目前，对于测试用例(测试结果数据)集的覆盖度而言，很难对其进行精准检测，无法及时确定测试用例集的覆盖度
2、因此，亟需提供一种技术方案解决上述问题。
技术实现思路
1、为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种测试覆盖度检测方法、系统、电子设备和存储介质。
2、第一方面，本专利技术提供一种测试覆盖度检测方法，该方法的技术方案如下：
3、获取待检测参数的测试数据集；
4、基于所述测试数据集与待检测参数的预设数据集之间的占比关系，确定所述待检测参数的测试覆盖度。
5、本专利技术的一种测试覆盖度检测方法的有益效果如下：
6、本专利技术的方法能够对测试覆盖度进行精准检测，从而及时确定测试用例集的覆盖度是否符合要求。
7、在上述方案的基础上，本专利技术的一种测试覆盖度检测方法还可以做如下改进。
8、在一种可选的方式中，基于所述测试数据集与待检测参数的预设数据集之间的占比关系，确定所述待检测参数的测试覆盖度的步骤，包括：
9、根据所述测试数据集的最大值与最小值之间的差值，确定所述测试数据集的第一数据跨度，并根据所述待检测参数的预设数据集的最大值与最小值之间的差值，确定所述预设数据集的第二数据跨度；
10、根据所述第一数据跨度与所述第二数据跨度之间的比值，确定所述待检测参数的所述测试覆盖度。
11、在一种可选的方式中，基于所述测试数据集与待检测参数的预设数据集之间的占比关系，确定所述待检测参数的测试覆盖度的步骤，包括：
12、对所述待检测参数的预设数据集进行数据聚类，得到所述预设数据集的多个目标分组；其中，每个目标分组分别对应一个目标数据跨度；
13、根据所述测试数据集中的数据存在于目标数据跨度的数量与目标数据跨度的总数量之间的占比，确定所述待检测参数的测试覆盖度。
14、在一种可选的方式中，还包括：
15、判断所述待检测参数的测试覆盖度是否大于阈值，得到判断结果；
16、当所述判断结果为是时，判定所述待检测参数的覆盖度符合要求。
17、第二方面，本专利技术提供一种测试覆盖度检测系统，该系统的技术方案如下：
18、包括：采集模块和检测模块；
19、所述采集模块用于：获取待检测参数的测试数据集；
20、所述检测模块用于：基于所述测试数据集与待检测参数的预设数据集之间的占比关系，确定所述待检测参数的测试覆盖度。
21、本专利技术的一种测试覆盖度检测系统的有益效果如下：
22、本专利技术的系统能够对测试覆盖度进行精准检测，从而及时确定测试用例集的覆盖度是否符合要求。
23、在上述方案的基础上，本专利技术的一种测试覆盖度检测系统还可以做如下改进。
24、在一种可选的方式中，所述检测模块具体用于：
25、根据所述测试数据集的最大值与最小值之间的差值，确定所述测试数据集的第一数据跨度，并根据所述待检测参数的预设数据集的最大值与最小值之间的差值，确定所述预设数据集的第二数据跨度；
26、根据所述第一数据跨度与所述第二数据跨度之间的比值，确定所述待检测参数的所述测试覆盖度。
27、在一种可选的方式中，所述检测模块具体用于：
28、对所述待检测参数的预设数据集进行数据聚类，得到所述预设数据集的多个目标分组；其中，每个目标分组分别对应一个目标数据跨度；
29、根据所述测试数据集中的数据存在于目标数据跨度的数量与目标数据跨度的总数量之间的占比，确定所述待检测参数的测试覆盖度。
30、在一种可选的方式中，还包括：判定模块；所述判定模块用于：
31、判断所述待检测参数的测试覆盖度是否大于阈值，得到判断结果；
32、当所述判断结果为是时，判定所述待检测参数的覆盖度符合要求。
33、第三方面，本专利技术的一种电子设备的技术方案如下：
34、包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并在所述处理器上运行的程序，所述处理器执行所述程序时实现如本专利技术的测试覆盖度检测方法的步骤。
35、第四方面，本专利技术提供的一种计算机可读存储介质的技术方案如下：
36、计算机可读存储介质中存储有指令，当计算机可读存储介质读取所述指令时，使所述计算机可读存储介质执行如本专利技术的测试覆盖度检测方法的步骤。
37、上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。
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1.一种测试覆盖度检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试覆盖度检测方法，其特征在于，基于所述测试数据集与待检测参数的预设数据集之间的占比关系，确定所述待检测参数的测试覆盖度的步骤，包括：
3.根据权利要求1所述的测试覆盖度检测方法，其特征在于，基于所述测试数据集与待检测参数的预设数据集之间的占比关系，确定所述待检测参数的测试覆盖度的步骤，包括：
4.根据权利要求1至3任一项所述的测试覆盖度检测方法，其特征在于，还包括：
5.一种测试覆盖度检测系统，其特征在于，包括：采集模块和检测模块；
6.根据权利要求5所述的测试覆盖度检测系统，其特征在于，所述检测模块具体用于：
7.根据权利要求5所述的测试覆盖度检测系统，其特征在于，所述检测模块具体用于：
8.根据权利要求5至7任一项所述的测试覆盖度检测系统，其特征在于，还包括：判定模块；所述判定模块用于：
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器，所述处理器与存储器耦合，所述存储器中存储有至少一条计算机程序，所述至
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有至少一条计算机程序，所述至少一条计算机程序由处理器加载并执行，以使计算机可读存储介质实现如权利要求1至4任一项所述的测试覆盖度检测方法。
...【技术特征摘要】
1.一种测试覆盖度检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试覆盖度检测方法，其特征在于，基于所述测试数据集与待检测参数的预设数据集之间的占比关系，确定所述待检测参数的测试覆盖度的步骤，包括：
3.根据权利要求1所述的测试覆盖度检测方法，其特征在于，基于所述测试数据集与待检测参数的预设数据集之间的占比关系，确定所述待检测参数的测试覆盖度的步骤，包括：
4.根据权利要求1至3任一项所述的测试覆盖度检测方法，其特征在于，还包括：
5.一种测试覆盖度检测系统，其特征在于，包括：采集模块和检测模块；
6.根据权利要求5所述的测试覆盖度检测系统，其特征在于，所述检测模块具体用于：
【专利技术属性】
技术研发人员：黄全能，辛实，张晓敏，马振中，刘钊，肖桂林，吕斌，
申请(专利权)人：青木数字技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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