【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种存储，尤其涉及一种存储器管理方法、存储器存储装置及存储器控制器。
技术介绍
1、现有的磨损平衡(wear leveling,wl)机制，当存储器存储设备的抹除次数(erasecount)大于预设的抹除次数阈值(erase count threshold)时，随即开启基于磨损平衡机制的数据整并操作。然而，此种方式仅考虑实体抹除单元的抹除次数作为是否开启数据整并操作的唯一标准，若是所设置的抹除次数阈值过于严苛，则会导致数据整并操作的执行效率过低，导致写入放大因子(writeamplification factor,waf)增加，进而影响存储器存储设备的使用寿命。
技术实现思路
1、本专利技术的实施例提供一种存储器管理方法、存储器存储装置及存储器控制器，可优化基于磨损平衡机制的数据整并操作，在存储器模块的使用寿命期间，动态地调整抹除次数阈值，能够减少在使用寿命前期时的不必要的搬移操作的发生、提升数据整并操作的效率，从而降低写入放大因子，提高存储器存储设备的使用寿命。
2、本专利技术的实施例提供一种存储器管理方法，其中，用于存储器模块。存储器模块被划分为存储区及闲置区。存储器管理方法包括：确定多个平均抹除次数等级；确定多个平均抹除次数等级对应的多个不同的抹除次数阈值；获取存储器模块的当前平均抹除次数；判断当前平均抹除次数所对应的平均抹除次数等级，并判断当前平均抹除次数是否大于与平均抹除次数等级对应的抹除次数阈值；以及响应于当前平均抹除次数大于抹除次数阈值，从存
3、在本专利技术的一范例实施例中，从存储区中选择来源实体抹除单元的步骤包括：在本专利技术的一范例实施例中，当待存储数据按照自主机系统接收到对应的写入指令的顺序的方式被写入时，选择排布于存储区中最后x个实体抹除单元之外的其余实体抹除单元作为多个待选实体抹除单元，其中x为大于1的正整数，其中最后x个实体抹除单元具有有效数据；获取多个待选实体抹除单元的多个抹除次数及多个有效数据计数值；以及根据多个抹除次数及多个有效数据计数值选择来源实体抹除单元。
4、在本专利技术的一范例实施例中，根据多个抹除次数及多个有效数据计数值选择来源实体抹除单元的步骤包括：确定多个抹除次数等级；判断各抹除次数所对应的抹除次数等级；以及响应于至少一抹除次数对应至相同的抹除次数等级，选择至少一抹除次数所对应的至少一有效实体抹除单元中具有最小的有效数据计数值的有效实体抹除单元作为来源实体抹除单元。
5、在本专利技术的一范例实施例中，存储器管理方法还包括：响应于至少一抹除次数对应至不同的抹除次数等级，根据至少一抹除次数及其对应的至少一有效数据计数值计算至少一平衡磨损因素综合值，并根据至少一平衡磨损因素综合值选择来源实体抹除单元。
6、在本专利技术的一范例实施例中，存储器管理方法还包括：获取曲线对照表，其中曲线对照表中记载有平均抹除次数和抹除次数阈值的映射关系，其中，一平均抹除次数对应一抹除次数阈值；根据当前平均抹除次数，从曲线对照表中根据映射关系获取动态抹除次数阈值；其中，曲线对照表包括如下的获取步骤：确定当前的存储器模块的模型标识信息；根据模型标识信息创建对应的曲线对照原始表；根据预设定的时间间隔，在不同测试时间下获取当前测试的平均抹除次数和原默认的平均抹除次数，并比较大小；若当前测试的平均抹除次数小于原默认的平均抹除次数，以原默认的平均抹除次数对应的原抹除次数阈值为最小值生成待测试抹除次数阈值，且在测试过程中出现数据整并操作的效率从低到高，再从高到低变化时，将变化的拐点作为动态抹除次数阈值；若当前测试的平均抹除次数不小于原默认的平均抹除次数，以原默认的平均抹除次数对应的原抹除次数阈值为最大值生成待测试抹除次数阈值，且在测试过程中出现数据整并操作的效率从低到高，再从高到低变化时，将变化的拐点作为动态抹除次数阈值；在曲线对照原始表中存储动态抹除次数阈值和对应的当前测试的平均抹除次数的映射关系，得到曲线对照表。
7、在本专利技术的一范例实施例中，存储器管理方法还包括：获取地址转换信息，其中，地址转换信息包括数据逻辑地址；根据数据逻辑地址获取对应数据在一预设时间段内的更新次数；当更新次数大于更新次数阈值，获取数据当前对应的数据物理地址；判断数据当前对应的数据物理地址对应的实体抹除单元的有效数值占比；若当前数据对应的数据物理地址所对应的实体抹除单元的有效数值占比大于占比阈值，确定当前数据对应的数据物理地址所对应的实体抹除单元为待排除的来源实体抹除单元；接收来源实体抹除单元获取指令，将待排除的来源实体抹除单元除去，并在剩余的来源实体抹除单元中获取来源实体抹除单元。
8、本专利技术的实施例另提供一种存储器存储装置，其包括连接接口、存储器模块及存储器控制器。存储器模块被划分为存储区及闲置区。存储器控制器连接连接接口与存储器模块。存储器控制器用以确定多个平均抹除次数等级。存储器控制器还用以确定与多个平均抹除次数等级对应的多个不同的抹除次数阈值。存储器控制器还用以获取存储器模块的当前平均抹除次数。存储器控制器还用以判断当前平均抹除次数所对应的平均抹除次数等级，并判断当前平均抹除次数是否大于与平均抹除次数等级对应的抹除次数阈值。响应于当前平均抹除次数大于抹除次数阈值，存储器控制器还用以从存储区中选择来源实体抹除单元，并将来源实体抹除单元释放至闲置区。
9、在本专利技术的一范例实施例中，当待存储数据按照自主机系统接收到对应的写入指令的顺序的方式被写入时，存储器控制器还用以选择排布于存储区中最后x个实体抹除单元之外的其余实体抹除单元作为多个待选实体抹除单元，其中x为大于1的正整数，其中最后x个实体抹除单元具有有效数据。存储器控制器还用以获取多个待选实体抹除单元的多个抹除次数及多个有效数据计数值。存储器控制器还用以根据多个抹除次数及多个有效数据计数值选择来源实体抹除单元。
10、在本专利技术的一范例实施例中，存储器控制器还用以确定多个抹除次数等级。存储器控制器还用以判断各抹除次数所对应的所述抹除次数等级。响应于至少一抹除次数对应至相同的抹除次数等级，存储器控制器还用以选择至少一抹除次数所对应的至少一有效实体抹除单元中具有最小的有效数据计数值的有效实体抹除单元作为来源实体抹除单元。
11、在本专利技术的一范例实施例中，响应于至少一抹除次数对应至不同的抹除次数等级，存储器控制器还用以根据至少一抹除次数及其对应的至少一有效数据计数值计算至少一平衡磨损因素综合值，并根据至少一平衡磨损因素综合值选择来源实体抹除单元。
12、在本专利技术的一范例实施例中，存储器控制器还用以获取曲线对照表，其中曲线对照表中记载有平均抹除次数和抹除次数阈值的映射关系，其中，一平均抹除次数对应一抹除次数阈值。存储器控制器还用以根据当前平均抹除次数，从曲线对照表中根据映射关系获取动态抹除次数阈值。其中，存储器控制器用以获取所述曲线对本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种存储器管理方法，其特征在于，用于存储器模块，所述存储器模块被划分为存储区及闲置区，包括：
2.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中多个所述平均抹除次数等级与多个所述抹除次数阈值呈负相关。
3.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中从所述存储区中选择所述来源实体抹除单元的步骤包括：
4.根据权利要求3所述的存储器管理方法，其中根据所述多个抹除次数及所述多个有效数据计数值选择所述来源实体抹除单元的步骤包括：
5.根据权利要求4所述的存储器管理方法，还包括：
6.根据权利要求1所述的存储器管理方法，还包括：
7.根据权利要求1-6任一项所述的存储器管理方法，还包括：
8.一种存储器存储装置，其特征在于，包括：
9.根据权利要求8所述的存储器存储装置，其中所述多个平均抹除次数等级与所述多个所述抹除次数阈值呈负相关。
10.根据权利要求8所述的存储器存储装置，其中
11.根据权利要求10所述的存储器存储装置，其中
12.根据权利要求11所述的存储
13.根据权利要求8所述的存储器存储装置，其中
14.根据权利要求8-13任一项所述的存储器存储装置，其中
...【技术特征摘要】
1.一种存储器管理方法，其特征在于，用于存储器模块，所述存储器模块被划分为存储区及闲置区，包括：
2.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中多个所述平均抹除次数等级与多个所述抹除次数阈值呈负相关。
3.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中从所述存储区中选择所述来源实体抹除单元的步骤包括：
4.根据权利要求3所述的存储器管理方法，其中根据所述多个抹除次数及所述多个有效数据计数值选择所述来源实体抹除单元的步骤包括：
5.根据权利要求4所述的存储器管理方法，还包括：
6.根据权利要求1所述的存储器管理方法，...
【专利技术属性】
技术研发人员：廖金月，张玉，朱凯迪，王志，吴宗霖，朱启傲，
申请(专利权)人：合肥开梦科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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