【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于自动化，尤其涉及一种覆晶薄膜反折长度的检测装置。
技术介绍
1、cof(chip on flex, or, chip on film,覆晶薄膜)，是将驱动ic固定于柔性线路板上晶粒软膜构装技术，是运用软质附加电路板作封装芯片载体将芯片与软性基板电路接合的技术。
2、覆晶薄膜的反折长度影响着产品良率与后续工艺的执行，检测反折长度也能反映出加工设备的稳定性，目前cof反折长度主要以人工检测为主，存在检测效率低等问题。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供一种覆晶薄膜反折长度的检测装置，包括：图像采集模块和数据处理模块；
2、所述图像采集模块，用于对置于样品平台上电子屏幕表面涂覆的覆晶薄膜的侧边采集图像，并将采集到的侧边图像传输到所述数据处理模块；
3、所述数据处理模块，用于利用视觉算法分别从所述侧边图像中确定所述覆晶薄膜的侧边区域，并在所述侧边区域确定反折边线的中点和反折极点，以及利用所述反折边线的中点和所述反折极点计算所述覆晶薄膜的反折长度。
4、进一步地，所述数据处理模块，用于对所述侧边区域中所述覆晶薄膜厚度方向的长度进行测量得到所述反折边线的中点。
5、进一步地，所述数据处理模块，用于对所述侧边区域的图像进行二值化后分割前景和背景，并进行连通区域检测得到blob块中的反折极点。
6、进一步地，所述数据处理模块，用于通过所述侧边区域中的灰度变化以及预设的卡尺属性拟合基准面板水平线，计算所述反折边
7、进一步地，所述图像采集模块包括：第一aoi相机、第一aoi镜头、第一同轴光源和第一水平棱镜；
8、所述第一aoi相机、第一aoi镜头和所述第一水平棱镜沿同一垂直轴依次放置，所述第一同轴光源与所述第一水平棱镜相邻并正对于表面涂覆有覆晶薄膜的电子屏幕的第一侧边。
9、进一步地，所述图像采集模块包括：第二aoi相机、第二aoi镜头、第二同轴光源和第二水平棱镜；
10、所述第二aoi相机、第二aoi镜头和所述第二水平棱镜沿同一垂直轴依次放置，所述第二同轴光源与所述第二水平棱镜相邻并正对于表面涂覆有覆晶薄膜的电子屏幕的第二侧边。
11、进一步地，所述第一同轴光源与所述第二同轴光源相对。
12、进一步地，还包括：载台，用于放置表面涂覆有覆晶薄膜的电子屏幕。
13、进一步地，所述第一aoi相机第二aoi相机在同一水平线。
14、进一步地，所述载台为真空吸附。
15、本专利技术实施例的提供了一种覆晶薄膜反折长度的检测装置，其中，图像采集模块，用于对置于样品平台上电子屏幕表面涂覆的覆晶薄膜的侧边采集图像，并将采集到的侧边图像传输到数据处理模块；数据处理模块，用于利用视觉算法分别从所述侧边图像中确定覆晶薄膜的侧边区域，并在侧边区域确定反折边线的中点和反折极点，以及利用反折边线的中点和反折极点计算所述覆晶薄膜的反折长度。上述检测装置通过自动化检测极大的提高了效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种覆晶薄膜反折长度的检测装置，其特征在于，包括：图像采集模块和数据处理模块；
2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，
4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，
5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，
6.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于，
7.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，所述第一同轴光源与所述第二同轴光源相对。
8.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于，还包括：载台，用于放置表面涂覆有覆晶薄膜的电子屏幕。
9.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，所述第一AOI相机和第二AOI相机在同一水平线。
10.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于，所述载台为真空吸附。
【技术特征摘要】
1.一种覆晶薄膜反折长度的检测装置，其特征在于，包括：图像采集模块和数据处理模块；
2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，
4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，
5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，
6.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于，
<...【专利技术属性】
技术研发人员：林风杰，叶瑞龙，赖伟鑫，
申请(专利权)人：深圳市元硕自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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