基于共享存储器的芯片联合仿真系统技术方案

技术编号：42557501 阅读：15 留言：0更新日期：2024-08-29 00:28

本发明专利技术涉及芯片技术领域，尤其涉及一种基于共享存储器的芯片联合仿真系统，包括：测试平台、待测芯片设计、芯片参考模型、第一存储器和第二存储器，其中，测试平台分别与第二存储器、待测芯片设计和芯片参考模型相连接，待测芯片设计分别与第一存储器和第二存储器相连接，芯片参考模型与第二存储器相连接；第一存储器基于硬件描述语言生成，第二存储器基于SystemVerilog语言生成，芯片参考模型基于预设的高级语言生成；第二存储器包括第一存储区域、第二存储区域和第三存储区域，第一存储区域用于存储联合仿真激励数据，所述第二存储区域和第三存储区域均为所述第一存储器的映射区域。本发明专利技术提高了芯片联合仿真效率。

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【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片，尤其涉及一种基于共享存储器的芯片联合仿真系统。

技术介绍

1、在芯片开发过程中，需要基于软件语言开发芯片参考模型，基于硬件语言构建芯片设计，当芯片参考模型确定好之后，基于芯片参考模型和芯片设计进行联合仿真，来验证芯片设计。现有技术在在联合仿真的过程中，需要将芯片参考模型输出的数据存储至芯片参考模型对应的存储器中，将芯片设计输出的数据存储至对应的存储器中，还将需芯片参考模型对应的存储器以及芯片设计对应的存储器的数据逐一转换一致之后进行对比，联合仿真效率低，由此可知，如何提高芯片联合仿真效率成为亟待解决的技术问题。

技术实现思路

1、本专利技术目的在于，提供一种基于共享存储器的芯片联合仿真系统，提高了芯片联合仿真效率。

2、根据本专利技术第一方面，提供了一种基于共享存储器的芯片联合仿真系统，包括：测试平台、待测芯片设计、芯片参考模型、第一存储器和第二存储器，其中，

3、所述测试平台分别与第二存储器、待测芯片设计和芯片参考模型相连接，所述待测芯片设计分别与第一存储器和第二存储器相连接，所述芯片参考模型与第二存储器相连接；

4、所述第一存储器基于硬件描述语言生成，所述第二存储器基于systemverilog语言生成，所述芯片参考模型基于预设的高级语言生成；

5、所述第二存储器包括第一存储区域、第二存储区域和第三存储区域，所述第一存储区域用于存储联合仿真激励数据，所述第二存储区域和第三存储区域均为所述第一存储器的映射区域；</p>

6、所述待测芯片设计用于将输出数据直接存储至所述第一存储器，并将输出数据转换为对应的systemverilog数据之后存储至所述第二存储区域；

7、所述芯片参考模型用于将输出数据转换为对应的systemverilog数据之后存储至所述第三存储区域。

8、本专利技术与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。借由上述技术方案，本专利技术提供的一种基于共享存储器的芯片联合仿真系统可达到相当的技术进步性及实用性，并具有产业上的广泛利用价值，其至少具有以下有益效果：

9、本专利技术所述系统通过在第二存储器中，设置与第一存储器映射的第二存储区域和第三存储区域，并将待测芯片设计输出的数据转换为对应的systemverilog数据之后存储至第二存储区域，将芯片参考模型输出的数据转换为对应的systemverilog数据之后存储至所述第三存储区域，使得在仿真过程中，即将待测芯片设计输出的数据和芯片参考模型输出的数据均转换为systemverilog数据，且存储在同一个存储器中，便于后续的调试和比对，提高了芯片联合仿真效率。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于共享存储器的芯片联合仿真系统，其特征在于，

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，

4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，

6.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，

7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，

8.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，

【技术特征摘要】

1.一种基于共享存储器的芯片联合仿真系统，其特征在于，

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，

4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，<...

【专利技术属性】
技术研发人员：王定，请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：沐曦集成电路上海有限公司，
类型：发明
国别省市：

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