一种微波器件测试设备制造技术

技术编号:42526725 阅读:7 留言:0更新日期:2024-08-27 19:36
本技术公开了一种微波器件测试设备,包括测试底座,所述测试底座的上端面开设有传动槽,所述测试底座的侧壁上固定安装有一号伺服电机,所述一号伺服电机的输出端固定连接有传动螺纹杆,所述传动螺纹杆上螺纹套接有移动块。通过设置放置盘、三号伺服电机、双向螺纹杆、夹持板、夹持槽,当需要将微波器件本体固定在放置盘上时,启动三号伺服电机,三号伺服电机带动双向螺纹杆转动,使两个夹持板沿着夹持槽的内壁相对运动,当两个夹持板的侧壁与微波器件本体两侧相接触时,此时完成了对微波器件本体在放置盘上的夹持固定,无需根据微波器件本体的尺寸更换不同大小的定位板,省时省力。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及微波器件测试设备,尤其涉及一种微波器件测试设备。


技术介绍

1、微波器件是指工作在微波波段(频率为300~300000兆赫)的器件。微波器件按其功能可分为微波振荡器(微波源)、功率放大器、混频器、检波器、微波天线、微波传输线等。

2、经检索,公告号为:cn206497138u公开了一种微波器件测试台,通过转动转动把手,使推拉杆在定位环内向下移动,进而使针板沿着滑杆向下移动,使得ict探针与被测器件的测试部位接触;电源通过低频连接器、电路转接板、ict探针使被测器件保持工作,被测器件的工作信号又通过ict探针、电路转接板分别通过低频连接器传送至程控万用表和通过射频连接器传送至示波器,实现两路信号的测量。但上述现有技术在对微波器件进行检测时需要根据器件的大小更换不同尺寸的定位板进行定位,费时费力,且底座上仅能够对微波器件进行电路测试,无法在底座上对微波器件进行流水线式检测,还需要将微波器件搬运到其他测试设备上再进行检测测试,不够实用。

3、为了解决上述问题,本技术提出一种微波器件测试设备。


技术实现思路

1、针对现有技术的不足,本技术提供了一种微波器件测试设备,以解决现有技术中“上述现有技术在对微波器件进行检测时需要根据器件的大小更换不同尺寸的定位板进行定位,费时费力,且底座上仅能够对微波器件进行电路测试,无法在底座上对微波器件进行流水线式检测,还需要将微波器件搬运到其他测试设备上再进行检测测试,不够实用”的技术问题。

2、为实现以上目的,本技术通过以下技术方案予以实现:

3、一种微波器件测试设备,包括测试底座,所述测试底座的上端面开设有传动槽,所述测试底座的侧壁上固定安装有一号伺服电机,所述一号伺服电机的输出端固定连接有传动螺纹杆,所述传动螺纹杆上螺纹套接有移动块,所述移动块的上端面开设有安装槽,所述安装槽内固定安装有二号伺服电机,所述二号伺服电机的输出端固定连接有放置盘,所述放置盘的上端面开设有夹持槽,所述夹持槽内固定安装有阻隔块,所述放置盘的侧壁上固定安装有三号伺服电机,所述三号伺服电机的输出端固定连接有双向螺纹杆,所述双向螺纹杆上对称螺纹套接有两个夹持板,所述测试底座的上端面固定安装有螺纹孔检测设备、电路测试设备,所述螺纹孔检测设备的检测端设置有检测头,所述测试底座的上端面固定安装有限位挡板,所述限位挡板上开设有两个通孔槽,所述放置盘上放置有微波器件本体。

4、作为本技术的优选技术方案,所述传动螺纹杆背离一号伺服电机的一端转动连接在传动槽的内壁上。

5、作为本技术的优选技术方案,所述移动块与传动槽的内壁滑动连接。

6、作为本技术的优选技术方案,所述双向螺纹杆背离三号伺服电机的一端与夹持槽的内壁转动连接。

7、作为本技术的优选技术方案,两个所述夹持板均与夹持槽的内壁、放置盘的上端面滑动连接。

8、作为本技术的优选技术方案,所述双向螺纹杆与阻隔块螺纹连接。

9、本技术提供了一种微波器件测试设备,具备以下有益效果:

10、1、通过设置放置盘、三号伺服电机、双向螺纹杆、夹持板、夹持槽,当需要将微波器件本体固定在放置盘上时,启动三号伺服电机,三号伺服电机带动双向螺纹杆转动,使两个夹持板沿着夹持槽的内壁相对运动,当两个夹持板的侧壁与微波器件本体两侧相接触时,此时完成了对微波器件本体在放置盘上的夹持固定,无需根据微波器件本体的尺寸更换不同大小的定位板,省时省力;

11、2、通过设置螺纹孔检测设备、电路测试设备、一号伺服电机、传动螺纹杆、移动块、传动槽、检测头,当需要对微波器件本体进行检测时,先将螺纹孔检测设备与电路测试设备安装在测试底座上,接着启动一号伺服电机,一号伺服电机带动传动螺纹杆转动,使移动块沿着传动槽向螺纹孔检测设备与电路测试设备的方向移动,当移动块移动到螺纹孔检测设备前方时,启动螺纹孔检测设备使螺纹孔检测设备检测端的检测头对微波器件本体进行孔洞检测,当螺纹孔检测设备对微波器件本体检测完毕后,再使移动块带动放置盘与微波器件本体沿着传动槽移动到电路测试设备的前方,接着启动电路测试设备对微波器件本体进行电路检测,当需要微波器件本体的其他部件进行检测测试时,只需提前在测试底座上安装好对应的测试设备,即可完成对微波器件本体进行流水线式测试,实用性高。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种微波器件测试设备,包括测试底座(1),其特征在于,所述测试底座(1)的上端面开设有传动槽(3),所述测试底座(1)的侧壁上固定安装有一号伺服电机(2),所述一号伺服电机(2)的输出端固定连接有传动螺纹杆(4),所述传动螺纹杆(4)上螺纹套接有移动块(8),所述移动块(8)的上端面开设有安装槽,所述安装槽内固定安装有二号伺服电机(9),所述二号伺服电机(9)的输出端固定连接有放置盘(10),所述放置盘(10)的上端面开设有夹持槽(12),所述夹持槽(12)内固定安装有阻隔块(14),所述放置盘(10)的侧壁上固定安装有三号伺服电机(11),所述三号伺服电机(11)的输出端固定连接有双向螺纹杆(13),所述双向螺纹杆(13)上对称螺纹套接有两个夹持板(15),所述测试底座(1)的上端面固定安装有螺纹孔检测设备(5)、电路测试设备(7),所述螺纹孔检测设备(5)的检测端设置有检测头(6),所述测试底座(1)的上端面固定安装有限位挡板(16),所述限位挡板(16)上开设有两个通孔槽(17),所述放置盘(10)上放置有微波器件本体(18)。

2.根据权利要求1所述的一种微波器件测试设备,其特征在于,所述传动螺纹杆(4)背离一号伺服电机(2)的一端转动连接在传动槽(3)的内壁上。

3.根据权利要求1所述的一种微波器件测试设备,其特征在于,所述移动块(8)与传动槽(3)的内壁滑动连接。

4.根据权利要求1所述的一种微波器件测试设备,其特征在于,所述双向螺纹杆(13)背离三号伺服电机(11)的一端与夹持槽(12)的内壁转动连接。

5.根据权利要求1所述的一种微波器件测试设备,其特征在于,两个所述夹持板(15)均与夹持槽(12)的内壁、放置盘(10)的上端面滑动连接。

6.根据权利要求1所述的一种微波器件测试设备,其特征在于,所述双向螺纹杆(13)与阻隔块(14)螺纹连接。

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【技术特征摘要】

1.一种微波器件测试设备,包括测试底座(1),其特征在于,所述测试底座(1)的上端面开设有传动槽(3),所述测试底座(1)的侧壁上固定安装有一号伺服电机(2),所述一号伺服电机(2)的输出端固定连接有传动螺纹杆(4),所述传动螺纹杆(4)上螺纹套接有移动块(8),所述移动块(8)的上端面开设有安装槽,所述安装槽内固定安装有二号伺服电机(9),所述二号伺服电机(9)的输出端固定连接有放置盘(10),所述放置盘(10)的上端面开设有夹持槽(12),所述夹持槽(12)内固定安装有阻隔块(14),所述放置盘(10)的侧壁上固定安装有三号伺服电机(11),所述三号伺服电机(11)的输出端固定连接有双向螺纹杆(13),所述双向螺纹杆(13)上对称螺纹套接有两个夹持板(15),所述测试底座(1)的上端面固定安装有螺纹孔检测设备(5)、电路测试设备(7),所述螺纹孔检测设备(5)的检测端设置有检测头(6),所述测试底座(1)的上端...

【专利技术属性】
技术研发人员:叶长顶
申请(专利权)人:江苏汉之顶科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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