【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
技术介绍
1、例如当样品用于诊断疾病或身体状况时，光检测通常用于表征样品(例如，生物样品)的组分。当样品被照射时，光可以被样品散射、可以被透射通过样品以及可以被样品发射(例如，通过荧光)。样品组分的变化(诸如形态、吸收率和荧光标记的存在)可能会导致被样品散射、透射或发射的光的变化。这些变化可用于表征并确认样品中组分的存在。为了量化这些变化，光被收集并引导到检测器的表面。
2、一种利用光检测来表征样品中组分的技术是流式细胞术。流式细胞仪包括由光学器件、光电检测器和电子器件组成的光电检测系统，所述光学器件、光电检测器和电子器件能够有效地检测光信号并将其转换为相应的电信号。对电子信号进行处理以获得用户可以用来执行所期望的分析的参数。流式细胞仪包括不同类型的检测光信号(诸如来自荧光、侧向散射光或前向散射光的光信号)的光电检测器。当光信号入射到光电检测器上时，在其输出端产生与入射光信号成比例的电信号。细胞仪还包括用于记录并分析测量数据的装置。例如，可以使用连接到检测电子器件的计算机来执行数据存储和分析。数据可以以表格形式进行存储，其中每行对应于针对一种粒子的数据，而列对应于测量参数中的每个测量参数。分析方法通常采用二维(2d)点图，以便于粒子群的可视化。
3、粒子分析仪的参数(诸如光电检测器信噪比和事件检测阈值)通常使用一组标准化合物(例如，荧光珠)进行校准。这些校准参数可用于设置光检测系统的阈值灵敏度以及用于确定针对经照射的样品的粒子的分选门。
技术实现思路
1、
2、在实践本主题方法时，对来自流动流中的样品的粒子的光进行检测，并且粒子的一个或多个图像(例如，经频率编码的图像)基于所检测到的光而生成。在一些实施例中，方法包括检测来自流动流中的样品的光吸收、光散射、光发射(例如，荧光)中的一者或多者。在一些情况下，样品中的一个或多个粒子的图像根据来自散射光检测器通道的数据信号(例如，前向散射图像数据、侧向散射图像数据)而生成。在又其它情况下，样品中的一个或多个粒子的图像根据来自一个或多个荧光检测器通道的数据信号(例如，荧光标志物图像数据)而生成。在其它情况下，样品中的一个或多个粒子的图像根据来自光损失检测器通道的数据信号而生成。在再一些其它情况下，样品中的一个或多个粒子的图像根据来自两个或更多个光散射检测器通道、荧光检测器通道和光损失检测器通道的数据信号的组合而生成。
3、在一些实施例中，方法包括调制图像的可视化参数。在一些情况下，针对图像的分析区对可视化参数进行调制。在一些情况下，在分析区中调制的可视化参数是针对图像中的粒子的可视化阈值。在某些情况下，方法包括在分析区中调制足以使图像中的粒子的边界可视化的可视化参数。在一些情况下，方法包括在分析区中调制足以使图像中的粒子的内部组分可视化的可视化参数。在一些情况下，方法包括在分析区中调制足以使图像中的细胞的亚细胞组分可视化的可视化参数。在一些实施例中，同时对两个或更多个粒子图像的可视化参数进行调制。
4、在一些情况下，经调制的可视化参数是像素强度阈值。在某些情况下，像素强度阈值针对一个或多个检测器通道进行调制，诸如，例如针对前向散射光检测器通道、侧向散射光检测器通道、荧光检测器通道和光损失检测器通道中的一者或多者进行调制。在某些情况下，像素强度阈值针对散射光检测器通道(例如，侧向散射或前向散射)和荧光检测器通道进行调制。在其它情况下，像素强度阈值针对散射光检测器通道和两个或更多个荧光检测器通道(诸如，三个或更多个，以及包括6个或更多个荧光检测器通道)进行调制。在某些情况下，检测参数是分析区中每个像素位置处的光强度的阈值。在一些情况下，在图形用户界面上对可视化参数进行调整。在某些情况下，调制可视化参数包括用图形用户界面上的滑动条调整阈值(例如，像素强度阈值)。在一些实施例中，方法包括通过调整图形用户界面上的滑动条来同时调制两个或更多个粒子图像的可视化参数。
5、在实施例中，方法包括响应于针对粒子图像的可视化参数的改变而自动调整粒子分析仪的数据采集参数。在一些实施例中，在检测来自流动流中的经照射的样品的光的同时，粒子分析仪的数据采集参数被自动调整。在一些情况下，针对一个或多个检测器通道(例如，侧向散射光、荧光)的光强度检测阈值响应于可视化参数的改变而被实时动态调整。在一些实施例中，方法包括将对数据采集参数的改变应用于在光检测系统的一个或多个非成像光电检测器通道中所生成的数据信号。
6、在一些实施例中，数据采集参数是用于生成图像的光强度检测阈值。在一些情况下，当在一个或多个检测通道(例如，侧向散射光检测通道)中检测到的光超过调整后的光强度检测阈值时，生成粒子的图像。在其它情况下，当在光检测通道中检测到的光不超过光强度阈值时，不生成粒子的图像。在一些情况下，针对粒子分析仪的分选参数响应于可视化参数的改变而被自动调整。在某些情况下，方法包括响应于针对粒子图像的可视化参数的改变而实时动态调整针对样品中的一个或多个粒子群的分选门。在某些情况下，可操作地耦合到粒子分析仪的集成电路器件(例如，现场可编程门阵列)的数字信号处理参数响应于经调制的可视化参数而被自动调整。
7、本公开的各方面还包括具有光检测系统的系统(例如，粒子分析仪)，该光检测系统包括成像光电检测器。在实施例中，光检测系统被配置为检测来自用光源(例如，激光器)照射的流动流中的样品的粒子的光，并且处理器具有可操作地耦合到处理器的存储器，其中存储器包括存储在其上的指令，该指令由处理器执行时使该处理器基于所检测到的光生成每个粒子的图像，调制针对流动流中的粒子的图像的可视化参数，并响应于经调制的可视化参数而自动调整该系统的数据采集参数。在一些实施例中，该系统是粒子分析仪。在某些情况下，粒子分析仪被并入流式细胞仪中，诸如以下情况：流式细胞仪被配置为使流动流中的一个或多个粒子可视化和分选。在某些情况下，该系统包括一个或多个集成电路，诸如fpga。
8、在一些实施例中，该系统包括存储器，该存储器具有用于基于来自光检测系统的数据信号生成粒子的图像(诸如粒子的一个或多个经频率编码的图像)的指令。在实施例中，该系统可以包括光散射光电检测器、荧光光电检测器和光损失光电检测器。在一些情况下，该系统被配置为基于来自散射光检测器通道的数据信号(例如，前向散射图像数据、侧向散射图像数据)生成粒子的图像。在其它情况下，该系统被配置为基于来自一个或多个荧光检测器通道的数据信号生成粒子的图像。在其它情况下，该系统被配置为基于来自一个或多个光损失检本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种粒子分析仪，其包括：
2.根据权利要求1所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括根据来自所述光检测系统的侧向散射光检测器通道的数据信号生成所述粒子的所述图像的指令。
3.根据权利要求1至2中任一项所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括根据来自所述光检测系统的一个或多个荧光检测器通道的数据信号生成所述粒子的所述图像的指令。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括根据来自所述光检测系统的前向散射光检测器通道的数据信号生成所述粒子的所述图像的指令。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括根据来自所述光检测系统的光损失检测器通道的数据信号生成所述粒子的所述图像的指令。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括调制针对所述图像的分析区的所述可视化参数的指令。
7.根据权利要求6所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括调制所述可视化参数以超过所述分析区中所述粒子的阈值可视化的指令。
8.根据权利要求7所述的粒子分析仪，其中所述存储
9.根据权利要求7至8中任一项所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括调制足以使所述图像中的所述粒子的内部组分可视化的所述可视化参数的指令。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的粒子分析仪，其中所述可视化参数是像素强度阈值。
11.根据权利要求10所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括调制针对所述分析区中一个或多个位置的所述像素强度阈值的指令。
12.根据权利要求11所述的粒子分析仪，其中所述粒子分析仪还包括显示器，所述显示器包括用于调制所述粒子图像的所述可视化参数的图形用户界面(GUI)。
13.根据权利要求1至12中任一项所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括响应于针对所述粒子图像的所述可视化参数的改变而自动调整针对所述粒子分析仪的所述检测器通道中的一个或多个检测器通道的光强度检测阈值的指令。
14.根据权利要求1至13中任一项所述的粒子分析仪，其还包括粒子分选机。
15.一种用于动态实时调整粒子分析仪的数据采集参数的方法，所述方法包括：
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种粒子分析仪，其包括：
2.根据权利要求1所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括根据来自所述光检测系统的侧向散射光检测器通道的数据信号生成所述粒子的所述图像的指令。
3.根据权利要求1至2中任一项所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括根据来自所述光检测系统的一个或多个荧光检测器通道的数据信号生成所述粒子的所述图像的指令。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括根据来自所述光检测系统的前向散射光检测器通道的数据信号生成所述粒子的所述图像的指令。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括根据来自所述光检测系统的光损失检测器通道的数据信号生成所述粒子的所述图像的指令。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括调制针对所述图像的分析区的所述可视化参数的指令。
7.根据权利要求6所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括调制所述可视化参数以超过所述分析区中所述粒子的阈值可视化的指令。
8.根据权利要求7所述的粒子分析仪，其中所述存储器包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：基根·奥斯利，克里斯多夫·J·沃尔夫，
申请(专利权)人：贝克顿·迪金森公司，
类型：发明
国别省市：
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