System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置制造方法及图纸_技高网

一种薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置制造方法及图纸

技术编号:42500409 阅读:3 留言:0更新日期:2024-08-22 14:13
本发明专利技术公开了一种适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,包括:隔热有机透明玻璃试验舱;框架结构,用于吊装薄膜材料试件;吊篮配重物,用于为薄膜材料试件提供加载力;支撑平台,用于支撑多个吊篮配重物;同步升降机构,用于带动支撑平台保持水平升降,完成多个薄膜材料试件的同步加载;散斑贴膜,设置在薄膜材料试件的膜面中间区域;图像采集模块,用于采集薄膜材料试件经徐变后的膜面图像数据;计算机终端模块,用于对膜面图像数据进行处理,以未加载前的初始图片作为标定图片,识别图像中的散斑特征点,并通过比较图像数据中的散斑特征点在变形前后的位置,计算膜面处的应变。本发明专利技术可保证测试精度的同时提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于薄膜材料力学性能的测试,具体是涉及了一种薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置


技术介绍

1、薄膜材料凭借其良好的物理特性及力学性能,在新型建筑、能源等领域中已经被广泛应用。在建筑结构领域的实际工程应用中,膜面需要时刻保持一定的预张力,用以获取结构整体刚度和承受面外荷载的能力,故薄膜材料在长期使用过程中会产生明显的徐变,从而影响膜结构的形状和承载能力。

2、针对薄膜材料的单轴拉伸徐变试验,目前所采用的试验装置几乎都是电子万能拉伸试验机,依次对薄膜材料试件进行单轴拉伸徐变试验,可以得到准确的试验数据,但还存在以下问题:(1)薄膜材料的徐变试验通常需要长期加载周期以及考虑多加载应力工况,长期占用电子万能拉伸试验机进行薄膜材料的徐变试验,只能单个试件依次进行,时间成本巨大,而且效率低下。(2)在进行薄膜材料的徐变试验的过程中,环境温度随时间变化较大,稳定控制环境温度难以实现,难以排除在徐变过程中环境温度的变化对薄膜材料的单轴拉伸徐变特性的影响。(3)少量能实现多试件徐变试验的装置无法实现对试件同时加载,无法精确得到在徐变试验加载初期时徐变所对应的时间。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,以稳定控制试验过程中的温度,并实现对薄膜材料试件的阵列加载,可调整任意数量的试件同时进行单轴拉伸徐变试验;以及通过数字图像相关技术实时记录和非接触式测量薄膜材料试件的膜面应变,可在徐变试验全过程中精确得到薄膜材料试件的徐变及其对应的时间。

2、实现本专利技术目的的技术解决方案为:

3、一种适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,包括:

4、隔热有机透明玻璃试验舱,以控制徐变试验中所需的温度;

5、框架结构,设置在隔热有机透明玻璃试验舱内,用于吊装薄膜材料试件;

6、吊篮配重物,用于为薄膜材料试件提供加载力;

7、支撑平台,用于支撑多个吊篮配重物,实现多个吊篮配重物的同时支撑功能;

8、同步升降机构,用于带动支撑平台保持水平升降,使得吊篮配重物始终位于同一水平线上,能够同时解除对吊篮配重物的支撑,完成多个薄膜材料试件的同步加载;

9、散斑贴膜,设置在薄膜材料试件的膜面中间区域;

10、图像采集模块,用于采集薄膜材料试件经徐变后的膜面图像数据;

11、计算机终端模块,用于对膜面图像数据进行处理,以未加载前的初始图片作为标定图片,识别图像中的散斑特征点,并通过比较图像数据中的散斑特征点在变形前后的位置,计算膜面处的应变。

12、本专利技术与现有技术相比,其显著优点是:

13、本专利技术可同时实现徐变试验中多工况、高低温和长周期的需求,保证测试精度的同时能提高测试效率,并实现高低温环境和阵列加载的多薄膜材料试件的徐变性能的研究,显著降低了时间成本,并且可以通过数字图像相关技术实时记录和观察薄膜材料试件膜面应变的变化,荷载稳定性、同步性和试验可操作性等方面性能优异。

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【技术保护点】

1.一种适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,其特征在于,

4.根据权利要求1所述的适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,其特征在于,

6.根据权利要求1所述的适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,其特征在于,

7.根据权利要求1所述的适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,其特征在于,

8.根据权利要求1-7任一项所述的适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,其特征在于,试验方法如下:

【技术特征摘要】

1.一种适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,其特征在于,

4.根据权利要求1所述的适用于薄膜材料单轴拉伸徐变试验高低温阵列加载及测试装置,其特征在于,

5.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈建稳刘祥伟赵兵陈务军胡宇航卢超钰
申请(专利权)人:南京理工大学
类型:发明
国别省市:

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