System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种用于SOC芯片的联合验证方法和装置制造方法及图纸_技高网

一种用于SOC芯片的联合验证方法和装置制造方法及图纸

技术编号:42500110 阅读:6 留言:0更新日期:2024-08-22 14:12
本发明专利技术涉及一种用于SOC芯片的联合验证方法和装置,其中,方法包括:将待测芯片的测试过程进行统一化;梳理芯片的全部待测用例,并按照子系统层次和全芯片层次梳理出共性处理流程,将共性处理流程封装成各类函数,形成芯片级函数库;采用芯片级函数库中的函数对统一化后的测试过程进行描述,得到用例描述文件;结合寄存器列表,利用工具链将用例描述文件转换为能够兼容模拟平台和仿真平台的测试用例;根据用户仿真参数在模拟平台或仿真平台上完成测试用例的模拟或仿真。本发明专利技术能屏蔽芯片细节,减少用例开发的时间,提高可读性,方便交叉验视。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片验证,特别是涉及一种用于soc芯片的联合验证方法和装置。


技术介绍

1、随着“摩尔定律的失效“,单颗服务器的性能已很难有质的飞跃,纯粹的eda验证技术也基本达到了顶峰。对于一颗由多核soc、高速外设及一系列较复杂的通信算法模块组成的大型芯片,涉及多模块的复杂通信场景对验证用例的构造、运行、及结果比对有较大的挑战。由于模拟运行的速度非常慢,本领域通常做法是把这种类型用例从芯片验证中剥离出来,交给软件团队在prototyping平台上去测试。但这样也带来了一些问题,首先软件团队相对芯片验证团队介入芯片的开发流程比较晚,因此软件人员对芯片及用例不太熟悉程度,导致验证进度变慢,可能会延迟芯片的to时间。其次当芯片规模较大时,映射到protoyping平台会变得相当困难,尤其是需要调试的时候,这个过程变得非常痛苦和漫长,很容易遗漏bug到下一个环节。


技术实现思路

1、本专利技术所要解决的技术问题是提供一种用于soc芯片的联合验证方法,能屏蔽芯片细节,减少用例开发的时间,提高可读性,方便交叉验视。

2、本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种用于soc芯片的联合验证方法,包括以下步骤:

3、将待测芯片的测试过程进行统一化;

4、梳理芯片的全部待测用例,并按照子系统层次和全芯片层次梳理出共性处理流程,将共性处理流程封装成各类函数,形成芯片级函数库;

5、采用芯片级函数库中的函数对统一化后的测试过程进行描述,得到用例描述文件;

6、结合寄存器列表,利用工具链将用例描述文件转换为能够兼容模拟平台和仿真平台的测试用例;

7、根据用户仿真参数在模拟平台或仿真平台上完成测试用例的模拟或仿真。

8、所述将待测芯片的测试过程进行统一化是指,将待测芯片的测试过程分为系统初始化流程、参数配置流程、激励配置流程和数据检查流程。

9、所述芯片级函数库中至少包括各子系统处理子步骤以及bit级读写函数和数据检查函数。

10、所述结合寄存器列表,利用工具链将用例描述文件转换为能够兼容模拟平台和仿真平台的测试用例,具体包括:根据用例描述文件填写用例描述表格,调用dozycat工具将用例描述表格生成c测试用例,根据用户仿真参数完成c测试用例emu或simu仿真;其中,dozycat工具用于将用例描述表格中的描述内容自动转换成c测试用例。

11、本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种用于soc芯片的联合验证装置,包括:

12、统一化模块,用于将待测芯片的测试过程进行统一化;

13、梳理模块,用于梳理芯片的全部待测用例,并按照子系统层次和全芯片层次梳理出共性处理流程,将共性处理流程封装成各类函数,形成芯片级函数库;

14、描述模块,用于采用芯片级函数库中的函数对统一化后的测试过程进行描述,得到用例描述文件;

15、转换模块,用于结合寄存器列表,利用工具链将用例描述文件转换为能够兼容模拟平台和仿真平台的测试用例;

16、测试模块,用于根据用户仿真参数在模拟平台或仿真平台上完成测试用例的模拟或仿真。

17、所述统一化模块将待测芯片的测试过程进行统一化是指,将待测芯片的测试过程分为系统初始化流程、参数配置流程、激励配置流程和数据检查流程。

18、所述芯片级函数库中至少包括各子系统处理子步骤以及bit级读写函数和数据检查函数。

19、所述转换模块包括:填写单元,用于根据用例描述文件填写用例描述表格;调用单元,用于调用dozycat工具将用例描述表格生成c测试用例;仿真单元,用于根据用户仿真参数完成c测试用例emu或simu仿真;其中,所述dozycat工具用于将用例描述表格中的描述内容自动转换成c测试用例。

20、有益效果

21、由于采用了上述的技术方案,本专利技术与现有技术相比,具有以下的优点和积极效果:本专利技术利用工具链能够根据用例描述生成兼容模拟平台和仿真平台的测试用例,其能屏蔽芯片细节,减少用例开发的时间,提高可读性,方便交叉验视。该方法使模拟平台和仿真平台实现了归一化,验证人员不需要太关心用例是在哪个平台上运行,同时也实现了人员的统一化。由于模拟平台对运行时间短的用例效率很高,因此运行时间短的测试用例可以选择用模拟平台,在模拟平台上运行时间长的测试用例则可以选择仿真平台,这样能大幅度加快验证进度、更有效的保证了验证质量。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于SOC芯片的联合验证方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的用于SOC芯片的联合验证方法,其特征在于,所述将待测芯片的测试过程进行统一化是指,将待测芯片的测试过程分为系统初始化流程、参数配置流程、激励配置流程和数据检查流程。

3.根据权利要求1所述的用于SOC芯片的联合验证方法,其特征在于,所述芯片级函数库中至少包括各子系统处理子步骤以及BIT级读写函数和数据检查函数。

4.根据权利要求1所述的用于SOC芯片的联合验证方法,其特征在于,所述结合寄存器列表,利用工具链将用例描述文件转换为能够兼容模拟平台和仿真平台的测试用例,具体包括:根据用例描述文件填写用例描述表格,调用Dozycat工具将用例描述表格生成C测试用例,根据用户仿真参数完成C测试用例EMU或SIMU仿真;其中,Dozycat工具用于将用例描述表格中的描述内容自动转换成C测试用例。

5.一种用于SOC芯片的联合验证装置,其特征在于,包括:

6.根据权利要求5所述的用于SOC芯片的联合验证装置,其特征在于,所述统一化模块将待测芯片的测试过程进行统一化是指,将待测芯片的测试过程分为系统初始化流程、参数配置流程、激励配置流程和数据检查流程。

7.根据权利要求5所述的用于SOC芯片的联合验证装置,其特征在于,所述芯片级函数库中至少包括各子系统处理子步骤以及BIT级读写函数和数据检查函数。

8.根据权利要求5所述的用于SOC芯片的联合验证装置,其特征在于,所述转换模块包括:填写单元,用于根据用例描述文件填写用例描述表格;调用单元,用于调用Dozycat工具将用例描述表格生成C测试用例;仿真单元,用于根据用户仿真参数完成C测试用例EMU或SIMU仿真;其中,所述Dozycat工具用于将用例描述表格中的描述内容自动转换成C测试用例。

...

【技术特征摘要】

1.一种用于soc芯片的联合验证方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的用于soc芯片的联合验证方法,其特征在于,所述将待测芯片的测试过程进行统一化是指,将待测芯片的测试过程分为系统初始化流程、参数配置流程、激励配置流程和数据检查流程。

3.根据权利要求1所述的用于soc芯片的联合验证方法,其特征在于,所述芯片级函数库中至少包括各子系统处理子步骤以及bit级读写函数和数据检查函数。

4.根据权利要求1所述的用于soc芯片的联合验证方法,其特征在于,所述结合寄存器列表,利用工具链将用例描述文件转换为能够兼容模拟平台和仿真平台的测试用例,具体包括:根据用例描述文件填写用例描述表格,调用dozycat工具将用例描述表格生成c测试用例,根据用户仿真参数完成c测试用例emu或simu仿真;其中,dozycat工具用于将用例描述表格中的描述内容自动转换成c测...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘平吉
申请(专利权)人:白盒子上海微电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1