【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体，尤其涉及一种深度图校正方法、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、在现实的检测中，为了尽可能减少图像中由于元器件的遮挡而引起的盲区，aoi机器一般采用一个顶部垂直相机与一个侧面光机的布局。但是这样的布局会带来两个问题。
2、第一个问题是光机从侧面打光打到元器件上时，其背光面一侧会在pcb板上形成阴影。相机在采图的时候阴影区域的条纹图信息就会被扭曲，甚至直接消失。这一片阴影区域反映到最终还原出来的深度图上是一片横截面如同指数函数图像一般的斜坡，而并非其原本应该的pcb板面形状。
3、第二个问题是光机从侧面打光打到元器件上时，其迎光面一侧会在元器件与pcb板交界处形成一小段异常亮的区域。这是因为照射到元器件壁上的光经过漫反射亦或者次级反射照射到了附件的板面上。这一片高亮区域反映到最终还原出来的深度图上是一片横截面如同前面提到的对数函数图像一般的斜坡，而并非其原本应该的pcb板面形状。
4、当前行业内对这类问题的解决方案主要有两种。第一种是改变打光方案，用同轴相机替代原本的ccd工业相机，然后将光机在顶部垂直安装。这样做可以让光机的光轴与相机的光轴平行，并尽可能地接近。这样就可以避免阴影区域和高亮区域的出现。但是这样做的缺点是在相同价位下，同轴相机的无论是光学畸变程度、采图帧数还是成像质量都远远不及ccd。这就是为什么很多厂家不会把这种方案应用在其高端机型上。
5、第二种方案是在原本的打光方案的基础上，在多个角度布置额外的光机。通过多角度的打光，后续再通过数据融合算法
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术实施例提供一种深度图校正方法、电子设备及存储介质，该方法能够快速准确地检测出展开相位图中相位值异常的异常像素点，以校正深度图，从而能够在减少复数光机使用的同时，改善产品结构三维还原的准确性。
2、为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供以下技术方案：
3、第一方面，本专利技术实施例提供一种深度图校正方法，所述方法包括：
4、获取光线投射于待检测物品表面所产生的目标图像；
5、基于所述目标图像获取展开相位图和深度图；
6、统计所述展开相位图中像素点的相位值以获得相位值信息，基于所述相位值信息，确定所述展开相位图中的异常像素点；
7、剔除所述深度图中与所述异常像素点对应的像素点，以校正所述深度图。
8、在一些实施例中，所述相位值信息包括若干种相位值以及若干种相位值对应的像素个数，所述基于所述相位值信息，确定所述展开相位图中的异常像素点，包括：
9、基于第一相位值对应的像素个数与像素数众数，得到目标阈值，所述第一相位值包括所述若干种相位值中的任意一种相位值，所述像素数众数为若干种相位值对应的像素个数的众数；
10、若所述目标阈值大于预设阈值，确定所述第一相位值为目标相位值；
11、将所述展开相位图中各像素点的相位值与所述目标相位值进行比较，确定所述展开相位图中的异常像素点，其中，如果某一像素点的相位值与所述目标相位值相等，则确定该像素点为异常像素点。
12、在一些实施例中，所述基于第一相位值对应的像素个数与像素数众数，得到目标阈值，包括：
13、将所述第一相位值对应的像素个数与所述像素数众数相除，得到所述目标阈值。
14、在一些实施例中，所述相位值信息包括若干种相位值以及若干种相位值对应的像素个数，所述基于所述相位值信息，确定所述展开相位图中的异常像素点，还包括：
15、根据相位值大小，将所述若干种相位值进行排序以获得排序序列；
16、基于第二相位值和第三相位值对应的像素个数，确定所述展开相位图中的异常像素点，所述第二相位值和所述第三相位值为所述排序序列的若干种相位值中相邻的任意两种相位值，并且所述第三相位值为所述第二相位值的下一种相位值。
17、在一些实施例中，所述基于第二相位值和第三相位值对应的像素个数，确定所述展开相位图中的异常像素点，包括：
18、如果所述排序序列为升序排序序列，并且所述第二相位值的像素个数等于零以及所述第三相位值的像素个数大于零，则确定所述第三相位值为目标相位值；
19、将所述展开相位图中各像素点的相位值与所述目标相位值进行比较，确定所述展开相位图中的异常像素点，其中，如果某一像素点的相位值与所述目标相位值相等，则确定该像素点为异常像素点；
20、或者，
21、如果所述排序序列为降序排序序列，并且所述第二相位值的像素个数大于零以及所述第三相位值的像素个数等于零，则确定所述第二相位值为目标相位值；
22、将所述展开相位图中各像素点的相位值与所述目标相位值进行比较，确定所述展开相位图中的异常像素点，其中，如果某一像素点的相位值与所述目标相位值相等，则确定该像素点为异常像素点。
23、在一些实施例中，所述剔除所述深度图中与所述异常像素点对应的像素点，以校正所述深度图之前，所述方法还包括：
24、对所述异常像素点进行标记，获得像素标记掩膜，所述像素标记掩膜包括所述异常像素点的坐标位置和校正标记，所述校正标记用于对所述深度图中与所述异常像素点对应的像素点进行校正。
25、在一些实施例中，所述剔除所述深度图中与所述异常像素点对应的像素点，以校正所述深度图，包括：
26、基于所述像素标记掩膜获取所述异常像素点的坐标位置和校正标记；
27、基于所述异常像素点的坐标位置，确定所述深度图中与所述坐标位置对应的目标像素点；
28、基于所述异常像素点的校正标记，校正所述深度图，获得校正后深度图，其中，所述校正标记为1时，剔除所述深度图中与所述异常像素点对应的目标像素点。
29、在一些实施例中，所述统计所述展开相位图中像素点的相位值以获得相位值信息之前，所述方法还包括：
30、将所述展开相位图中的各个像素点的相位值进行归一化处理，获得第一展开相位图；
31、对所述第一展开相位图中的各个像素点的相位值进行四舍五入处理，获得第二展开相位图；
32、所述统计所述展开相位图中像素点的相位值以获得相位值信息，包括：
33、对所述第二展开相位图中像素点的相位值进行统计，以获得所述像素点的相位值信息。
34、第二方面，本专利技术实施例提供一种电子设备，包括：
35、处理器，以及与所述处理器通信连接的存储器；
36、所述存本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种深度图校正方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述相位值信息包括若干种相位值以及若干种相位值对应的像素个数，所述基于所述相位值信息，确定所述展开相位图中的异常像素点，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于第一相位值对应的像素个数与像素数众数，得到目标阈值，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述相位值信息包括若干种相位值以及若干种相位值对应的像素个数，所述基于所述相位值信息，确定所述展开相位图中的异常像素点，还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于第二相位值和第三相位值对应的像素个数，确定所述展开相位图中的异常像素点，包括：
6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述剔除所述深度图中与所述异常像素点对应的像素点，以校正所述深度图之前，所述方法还包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述剔除所述深度图中与所述异常像素点对应的像素点，以校正所述深度图，包括：
8.根据权利要求
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有处理器可执行的计算机程序指令，所述计算机程序指令在被所述处理器调用时，以使所述处理器执行权利要求1-8任一项所述的深度图校正方法。
...【技术特征摘要】
1.一种深度图校正方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述相位值信息包括若干种相位值以及若干种相位值对应的像素个数，所述基于所述相位值信息，确定所述展开相位图中的异常像素点，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于第一相位值对应的像素个数与像素数众数，得到目标阈值，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述相位值信息包括若干种相位值以及若干种相位值对应的像素个数，所述基于所述相位值信息，确定所述展开相位图中的异常像素点，还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于第二相位值和第三相位值对应的像素个数，确定所述展开相位图中的异常像素点，包括：<...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢文翰，冀运景，刘鹏飞，
申请(专利权)人：深圳明锐理想科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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