【技术实现步骤摘要】
本申请涉及辐射监测，特别涉及一种测量方法和探测器。
技术介绍
1、相关技术中，放射源发出放射性射线，通过采用探测器，可以对放射源的发射率进行测量。
2、对于探测器探测到的放射性射线，其中一部分是由放射源发出的放射性射线直射至探测器的探测装置处，以由探测装置接收。另一部分则是由放射源发出的放射性射线打在探测器中的真空腔的侧壁上的反射区，导致部分放射性射线经反射区反射至探测装置处，进而由探测装置接收。
3、然而，相关技术中，以探测装置接收到的直射以及反射的放射性射线结果确定发射率，会导致得到的放射源的发射率偏大。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请实施例的主要目的在于提供一种能够降低放射源发射率的测量误差的测量方法和探测器。
2、为达到上述目的，本申请实施例的技术方案是这样实现的：
3、本申请实施例第一方面提供了一种测量方法，用于测量探测器，所述探测器用于对放射源的发射率进行测量。所述探测器包括探测装置、限束光阑和具有真空腔的壳体，所述探测装置和所述限束光阑设置在所述真空腔内，所述探测器用于对放入所述真空腔内的放射源进行探测，所述真空腔的侧壁具有反射区，所述限束光阑具有供所述放射源发出的放射性射线穿过的第一通孔，所述反射区用于反射所述放射性射线，以使所述放射性射线穿过所述第一通孔射入所述探测装置中，所述测量方法包括如下步骤：
4、获取第一长度、放射源半径、限束光阑半径和真空腔半径；其中，所述第一长度为所述放射源与所述限束光阑之
5、根据所述第一长度、所述放射源半径、所述限束光阑半径和所述真空腔半径，确定所述反射区。
6、一种实施方式中，根据所述第一长度、放射源半径、限束光阑半径和真空腔半径，确定所述反射区，具体包括：
7、根据所述第一长度、所述放射源半径、所述限束光阑半径和所述真空腔半径，确定间隔形成所述反射区的上极限点和下极限点。
8、一种实施方式中，所述上极限点和所述下极限点由所述放射源的第一发射点发出的所述放射性射线确定，所述第一发射点为所述放射源靠近所述反射区的目标区域的近点；或，
9、所述上极限点和所述下极限点由所述放射源的第二发射点发出的所述放射性射线确定，所述第二发射点为所述放射源远离所述反射区的目标区域的远点。
10、一种实施方式中，所述上极限点由所述放射源的第二发射点发出的所述放射性射线确定，所述下极限点由所述放射源的第一发射点发出的所述放射性射线确定；其中，所述第一发射点为所述放射源靠近所述反射区的目标区域的近点，所述第二发射点为所述放射源远离所述反射区的目标区域的远点。
11、一种实施方式中，根据所述第一长度、所述放射源半径、所述限束光阑半径和所述真空腔半径，确定第一间距，以确定所述上极限点；其中，所述第一间距为所述放射源和所述限束光阑的中心线与所述上极限点之间的间距。
12、一种实施方式中，根据第一计算公式确定所述第一间距；其中所述第一计算公式为：
13、
14、其中，δzl+为所述第一间距，h为所述第一长度，r为所述限束光阑半径，r为所述放射源半径，rin为所述真空腔半径。
15、一种实施方式中，根据所述第一长度、所述放射源半径、所述限束光阑半径和所述真空腔半径，确定第二间距，以确定所述下极限点；其中，所述第二间距为所述放射源和所述限束光阑的中心线与所述下极限点之间的间距。
16、一种实施方式中，根据第二计算公式确定所述第二间距；其中所述第二计算公式为：
17、
18、其中，δzr-为所述第二间距，h为所述第一长度，r为所述限束光阑半径，r为所述放射源半径，rin为所述真空腔半径。
19、本申请实施例第二方面提供了一种探测器，所述探测器为上述任意所述的探测器，所述探测器包括探测装置、限束光阑和具有真空腔的壳体，所述探测装置和所述限束光阑设置在所述真空腔内，所述探测器用于对放入所述真空腔内的放射源进行探测，所述真空腔的侧壁具有反射区，所述限束光阑具有供所述放射源发出的放射性射线穿过的第一通孔，所述反射区用于反射所述放射性射线，以使所述放射性射线穿过所述第一通孔射入所述探测装置中。
20、一种实施方式中，所述探测器还包括阻挡环，所述阻挡环放置于所述真空腔内，且位于所述限束光阑和所述放射源之间，所述阻挡环具有第二通孔，所述第一通孔和所述第二通孔连通，以供所述放射性射线直射至所述探测装置处，所述第二通孔的侧壁位于所述放射源的外缘与所述第一通孔的侧壁的连线上。
21、本申请实施例提供了一种测量方法和探测器,测量方法包括如下步骤：获取第一长度、放射源半径、限束光阑半径和真空腔半径；根据第一长度、放射源半径、限束光阑半径和真空腔半径，确定反射区。通过本申请实施例的测量方法，依据第一长度、放射源半径、限束光阑半径和真空腔半径确定探测器中真空腔的侧壁反射区的范围。由此，可以通过反射区范围与真空腔半径之间的对应关系，优化真空腔半径尺寸，从而缩小反射区范围，减小探测器壁散射的效应，进而提升放射源发射率的测量精度。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种测量方法，用于测量探测器，所述探测器用于对放射源的发射率进行测量，其特征在于，所述探测器包括探测装置、限束光阑和具有真空腔的壳体，所述探测装置和所述限束光阑设置在所述真空腔内，所述探测器用于对放入所述真空腔内的放射源进行探测，所述真空腔的侧壁具有反射区，所述限束光阑具有供所述放射源发出的放射性射线穿过的第一通孔，所述反射区用于反射所述放射性射线，以使所述放射性射线穿过所述第一通孔射入所述探测装置中，所述测量方法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述测量方法，其特征在于，根据所述第一长度、放射源半径、限束光阑半径和真空腔半径，确定所述反射区，具体包括：
3.根据权利要求2所述测量方法，其特征在于，所述上极限点和所述下极限点由所述放射源的第一发射点发出的所述放射性射线确定，所述第一发射点为所述放射源靠近所述反射区的目标区域的近点；或，
4.根据权利要求2所述测量方法，其特征在于，所述上极限点由所述放射源的第二发射点发出的所述放射性射线确定，所述下极限点由所述放射源的第一发射点发出的所述放射性射线确定；其中，所述第一发射点为所述放射源靠近所述
5.根据权利要求4所述测量方法，其特征在于，根据所述第一长度、所述放射源半径、所述限束光阑半径和所述真空腔半径，确定第一间距，以确定所述上极限点；其中，所述第一间距为所述放射源和所述限束光阑的中心线与所述上极限点之间的间距。
6.根据权利要求5所述测量方法，其特征在于，根据第一计算公式确定所述第一间距；其中所述第一计算公式为：
7.根据权利要求4-6任意一项所述测量方法，其特征在于，根据所述第一长度、所述放射源半径、所述限束光阑半径和所述真空腔半径，确定第二间距，以确定所述下极限点；其中，所述第二间距为所述放射源和所述限束光阑的中心线与所述下极限点之间的间距。
8.根据权利要求7所述测量方法，其特征在于，根据第二计算公式确定所述第二间距；其中所述第二计算公式为：
9.一种探测器，其特征在于，所述探测器为权利要求1-8中任意一项所述的探测器，所述探测器包括探测装置、限束光阑和具有真空腔的壳体，所述探测装置和所述限束光阑设置在所述真空腔内，所述探测器用于对放入所述真空腔内的放射源进行探测，所述真空腔的侧壁具有反射区，所述限束光阑具有供所述放射源发出的放射性射线穿过的第一通孔，所述反射区用于反射所述放射性射线，以使所述放射性射线穿过所述第一通孔射入所述探测装置中。
10.根据权利要求9所述探测器，其特征在于，所述探测器还包括阻挡环，所述阻挡环放置于所述真空腔内，且位于所述限束光阑和所述放射源之间，所述阻挡环具有第二通孔，所述第一通孔和所述第二通孔连通，以供所述放射性射线直射至所述探测装置处，所述第二通孔的侧壁位于所述放射源的外缘与所述第一通孔的侧壁的连线上。
...【技术特征摘要】
1.一种测量方法，用于测量探测器，所述探测器用于对放射源的发射率进行测量，其特征在于，所述探测器包括探测装置、限束光阑和具有真空腔的壳体，所述探测装置和所述限束光阑设置在所述真空腔内，所述探测器用于对放入所述真空腔内的放射源进行探测，所述真空腔的侧壁具有反射区，所述限束光阑具有供所述放射源发出的放射性射线穿过的第一通孔，所述反射区用于反射所述放射性射线，以使所述放射性射线穿过所述第一通孔射入所述探测装置中，所述测量方法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述测量方法，其特征在于，根据所述第一长度、放射源半径、限束光阑半径和真空腔半径，确定所述反射区，具体包括：
3.根据权利要求2所述测量方法，其特征在于，所述上极限点和所述下极限点由所述放射源的第一发射点发出的所述放射性射线确定，所述第一发射点为所述放射源靠近所述反射区的目标区域的近点；或，
4.根据权利要求2所述测量方法，其特征在于，所述上极限点由所述放射源的第二发射点发出的所述放射性射线确定，所述下极限点由所述放射源的第一发射点发出的所述放射性射线确定；其中，所述第一发射点为所述放射源靠近所述反射区的目标区域的近点，所述第二发射点为所述放射源远离所述反射区的目标区域的远点。
5.根据权利要求4所述测量方法，其特征在于，根据所述第一长度、所述放射源半径、所述限束光阑半径和所述真空腔半径，确定第一间距，以确定所述上极限点；其中，所述第一间距为所述放...
【专利技术属性】
技术研发人员：李立华，徐新宇，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。