【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体检测辅具，具体为一种半导体光学检测设备支撑装置。
技术介绍
1、半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件在对半导体进行检测时，常常需要光学检测设备，而当光学检测设备使用时，需要搭配支撑装置用于支撑检测设备，目前大多支撑装置的高度为一体化设计，这就导致了当不同身高的用户使用时较为不便。
2、经检索授权公告号cn217684016u公开了一种半导体光学检测设备支撑结构，包括支撑底座，所述支撑底座顶部的边角处均固定安装有固定块，所述固定块的顶部焊接有底部调节杆，所述底部调节杆顶端的外部设有螺纹转筒，所述螺纹转筒的上方设有设备安装座，所述设备安装座底端的边角处均焊接有顶部调节杆。通过设有设备安装座方便对半导体光学检测设备进行安装，底部的支撑底座对整体进行支撑保障整体稳定性，通过转动调节螺纹转筒，使顶部调节杆和底部调节杆与反向连接螺纹转动，方便同时在螺纹转筒的内部转动收纳或者打开，从而方便调节设备的使用高度。
3、本专利技术人在实施上述技术时发现上述技术存在着以下问题：1、上述装置虽然能够调节支撑装置的高度，但是需要对每个螺纹转筒进行调节，才能调节整个支撑装置的高度，较为麻烦；2、上述装置将光学检测设备完全暴露在空气中，空气中的灰尘粘附在半导体光学检测设备的外侧，容易影响半导体光学检测设备的使用精度。
技术实现思路
1、针对现有
2、为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种半导体光学检测设备支撑装置，包括调节组件，所述调节组件用于调节光学检测设备的高度，所述调节组件的上方通过支撑组件活动安装有水平的承载板，所述承载板上设置有用于固定光学检测设备的固定组件，且所述承载板上活动安装有用于隔绝灰尘的折叠盖。
3、优选的，所述调节组件包括顶部开口的调节盒，所述调节盒的顶部开口处设置有限位框，所述调节盒的内部沿着所述调节盒长度方向设置有水平的调节丝杠，所述调节丝杠的一端通过轴承座固定在所述调节盒的内端，所述调节丝杠的另一端连接有驱动电机，所述调节丝杠两端的调节螺纹相反，所述调节丝杠的两端分别配合安装有两个丝杠螺母，所述丝杠螺母上设置有贯穿所述限位框的限位块；如此设置，在使用时，通过驱动电机带动调节丝杠旋转，同时限位框通过限位块对丝杠螺母进行限位导向，利用调节丝杠上两段相反的螺纹，使丝杠螺母能够带动限位块同时相向或者相背移动，方便同时调节两个限位块的位置。
4、优选的，所述支撑组件包括两个支撑杆，所述支撑杆的两端通过活动轴承组件分别与所述承载板的底部以及所述限位块活动连接，作为优选的实施例，本说明书中提到的活动轴承组件为现有技术中的常见技术，支撑杆能够以活动轴承组件为中心进行旋转，其具体结构以及工作原理在此不做一一详解，进一步地，所述支撑杆的顶端活动固定在底板的中心位置，支撑杆的底端活动固定在限位块的顶部，如此设置，使承载板能够尽可能的贴近调节组件，方便装置的收拢。
5、优选的，所述承载板包括底板和顶板，所述底板与所述顶板之间设置有减震层，所述减震层为橡胶材质，所述顶板上表面的一端开设有t型的滑槽，通过在承载板中间设置橡胶材质的减震层，能够有效的阻断振动的传递，避免支撑装置受到撞击或者地震产生的振动影响到光学检测设备的精度。
6、优选的，所述固定组件包括对称设置的固定件和活动件，所述固定件和所述活动件为“7”字型结构，所述活动件的底部设置有与所述滑槽滑动配合的滑块，且所述滑块上设置有定位销，所述固定件固定在所述顶板的上表面；如此设置，将固定件和活动件设置为“7”字状结构，方便将半导体光学检测设备的底座板夹持固定在承载板上，同时利用滑槽、滑块和定位销的配合，能够灵活的控制活动件的位置，方便对半导体光学检测设备进行拆装固定。
7、优选的，所述调节组件与所述承载板之间设置有多个伸缩杆，所述伸缩杆位于所述调节组件与所述承载板的边缘位置，所述伸缩杆包括与所述调节组件固定连接的外管以及与所述承载板固定连接的内杆，所述内杆伸入所述外管内，且与该外管滑动配合；作为优选的实施例，调节组件的底部通过螺栓固定在工作台表面，而外管的底部位于调节盒上表面的两端，内杆的顶部与承载板的底板的下表面固定连接，通过内杆和外管之间的配合，能够对承载板进行限位固定，使承载板能够保持水平的状态下进行竖直升降。
8、优选的，所述调节组件与所述承载板之间设置有折叠筒，所述折叠筒的上、下两端开口，且与所述折叠盖的材料一致，且所述折叠筒将所述伸缩杆和所述支撑组件密封在调节组件与承载板之间；作为优选的实施例，折叠筒为不规则的筒状结构，所述折叠筒的顶部紧贴所述承载板的外表面，而折叠筒的下表面紧贴调节组件的外表面，通过折叠筒将调节组件与承载板之间进行密封隔绝，避免灰尘污染。
9、优选的，所述折叠盖由若干根均匀分布的半圆状铁丝圈组成，多个铁丝之间覆盖有折叠布，由此组成一个可折叠的空心半圆球结构，且所述折叠盖的一端与所述承载板的表面固定连接，另一端为活动端，且该活动端对应所述承载板的位置设置有磁铁；如此设置，使折叠盖的活动端能够以折叠盖为中心进行翻转，方便将半导体光学检测设备罩在折叠盖内，避免灰尘影响检测设备的精度，同时设置磁铁，利用磁铁能够吸附折叠盖中的铁丝圈，便于对折叠盖的活动端进行吸附固定。
10、本技术提供了一种半导体光学检测设备支撑装置，具备以下
11、有益效果：
12、1、本技术通过调节组件与支撑组件的配合，能够方便的调节承载板的高度，进而调节半导体光学检测设备的高度，只需控制驱动电机的开闭即可调节，操作方便快捷，节约时间；
13、2、本技术通过折叠盖和折叠筒分别对半导体光学检测设备以及调节组件和支撑组件进行覆盖密封，避免灰尘粘附在半导体光学检测设备上而影响到设备的检测精度。
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1.一种半导体光学检测设备支撑装置，其特征在于：包括调节组件(1)，所述调节组件(1)用于调节光学检测设备的高度，所述调节组件(1)的上方通过支撑组件(3)活动安装有水平的承载板(5)，所述承载板(5)上设置有用于固定光学检测设备的固定组件(6)，且所述承载板(5)上活动安装有用于隔绝灰尘的折叠盖(7)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体光学检测设备支撑装置，其特征在于：所述调节组件(1)包括顶部开口的调节盒(101)，所述调节盒(101)的顶部开口处设置有限位框(106)，所述调节盒(101)的内部沿着所述调节盒(101)长度方向设置有水平的调节丝杠(102)，所述调节丝杠(102)的一端通过轴承座固定在所述调节盒(101)的内端，所述调节丝杠(102)的另一端连接有驱动电机(104)，所述调节丝杠(102)两端的调节螺纹相反，所述调节丝杠(102)的两端分别配合安装有两个丝杠螺母(103)，所述丝杠螺母(103)上设置有贯穿所述限位框(106)的限位块(105)。
3.根据权利要求2所述的一种半导体光学检测设备支撑装置，其特征在于：所述支撑组件(3)
4.根据权利要求1所述的一种半导体光学检测设备支撑装置，其特征在于：所述承载板(5)包括底板(501)和顶板(503)，所述底板(501)与所述顶板(503)之间设置有减震层(502)，所述减震层(502)为橡胶材质，所述顶板(503)上表面的一端开设有T型的滑槽(5031)。
5.根据权利要求4所述的一种半导体光学检测设备支撑装置，其特征在于：所述固定组件(6)包括对称设置的固定件(601)和活动件(602)，所述固定件(601)和所述活动件(602)为“7”字型结构，所述活动件(602)的底部设置有与所述滑槽(5031)滑动配合的滑块(603)，且所述滑块(603)上设置有定位销(604)，所述固定件(601)固定在所述顶板(503)的上表面。
6.根据权利要求1所述的一种半导体光学检测设备支撑装置，其特征在于：所述调节组件(1)与所述承载板(5)之间设置有多个伸缩杆(2)，所述伸缩杆(2)位于所述调节组件(1)与所述承载板(5)的边缘位置，所述伸缩杆(2)包括与所述调节组件(1)固定连接的外管以及与所述承载板(5)固定连接的内杆，所述内杆伸入所述外管内，且与该外管滑动配合。
7.根据权利要求6所述的一种半导体光学检测设备支撑装置，其特征在于：所述调节组件(1)与所述承载板(5)之间设置有折叠筒(4)，所述折叠筒(4)的上、下两端开口，且与所述折叠盖(7)的材料一致，且所述折叠筒(4)将所述伸缩杆(2)和所述支撑组件(3)密封在调节组件(1)与承载板(5)之间。
8.根据权利要求1所述的一种半导体光学检测设备支撑装置，其特征在于：所述折叠盖(7)由若干根均匀分布的半圆状铁丝圈组成，多个铁丝之间覆盖有折叠布，由此组成一个可折叠的空心半圆球结构，且所述折叠盖(7)的一端与所述承载板(5)的表面固定连接，另一端为活动端，且该活动端对应所述承载板(5)的位置设置有磁铁块。
...【技术特征摘要】
1.一种半导体光学检测设备支撑装置，其特征在于：包括调节组件(1)，所述调节组件(1)用于调节光学检测设备的高度，所述调节组件(1)的上方通过支撑组件(3)活动安装有水平的承载板(5)，所述承载板(5)上设置有用于固定光学检测设备的固定组件(6)，且所述承载板(5)上活动安装有用于隔绝灰尘的折叠盖(7)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体光学检测设备支撑装置，其特征在于：所述调节组件(1)包括顶部开口的调节盒(101)，所述调节盒(101)的顶部开口处设置有限位框(106)，所述调节盒(101)的内部沿着所述调节盒(101)长度方向设置有水平的调节丝杠(102)，所述调节丝杠(102)的一端通过轴承座固定在所述调节盒(101)的内端，所述调节丝杠(102)的另一端连接有驱动电机(104)，所述调节丝杠(102)两端的调节螺纹相反，所述调节丝杠(102)的两端分别配合安装有两个丝杠螺母(103)，所述丝杠螺母(103)上设置有贯穿所述限位框(106)的限位块(105)。
3.根据权利要求2所述的一种半导体光学检测设备支撑装置，其特征在于：所述支撑组件(3)包括两个支撑杆(301)，所述支撑杆(301)的两端通过活动轴承组件(302)分别与所述承载板(5)的底部以及所述限位块(105)活动连接。
4.根据权利要求1所述的一种半导体光学检测设备支撑装置，其特征在于：所述承载板(5)包括底板(501)和顶板(503)，所述底板(501)与所述顶板(503)之间设置有减震层(502)，所述减震层(502)为橡胶材质，所述顶板(503)上表面的一端...
【专利技术属性】
技术研发人员：王建安，徐兆存，
申请(专利权)人：江苏大摩半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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