产品的修理支持系统、产品的制造系统及产品的制造方法技术方案

本发明专利技术提供一种产品的修理支持系统、产品的制造系统及产品的制造方法，该产品的修理支持系统支持根据规定的检查基准进行检查的结果为不合格的产品的修理，其特征在于，具有：将针对被修理的所述产品的所述检查的结果作为修理信息存储的修理信息存储单元；存储与所述产品相关的参考信息的参考信息存储单元；以及修理条件适当化单元，根据所述修理信息判断修理条件或所述修理条件的选择的适当与否，在判断为不适当时，根据所述修理信息和所述参考信息中的至少任意一方来进行所述修理条件的数据或所述选择的适当化。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及。
技术介绍
存储在产品制造过程中产生的检查不合格品(不良品)的数据， 并将其利用于产品的修理的产品数据存储单元是已知的。并且，进行了如下的运用根据存储在该存储单元中的数据和修理负责人的经 验，来判断修理产品的哪个部分为好。但是，存在的问题是，由于修理的判断最终受修理负责人的经验 的影响，故对于没有修理经验的人员来说难以进行修理的判断，从而 很难进行有效的检查不合格品的修理。因此，人们提出了支持修理的判断的技术，使得即使没有修理经 验的人员也能够进行有效的修理(参考专利文献l)。这里，在专利文献l公开的技术中，在进行了修理的产品的检查 结果为合格时，将该数据存储到数据库中。但是，在检查结果为不合 格时，没有考虑到不是将该数据存储到数据库中、而是根据该数据来 使修理条件的内容或修理条件的选择适当化。其结果，在修理条件的内容或选择不适当时，无法抑制不合格品 的产生，另外，有可能重复进行即使修理也无法成为合格品(良品) 的无效修理作业。专利文献1:日本特开2005 - 1卯026号〃>报
技术实现思路
根据本专利技术的一个方式，提供一种产品的修理支持系统，支持根 据规定的检查基准进行检查的结果为不合格的产品的修理，其特征在于，具有将针对被修理的所述产品的所述检查的结果作为修理信息 存储的修理信息存储单元；存储与所述产品相关的参考信息的参考信 息存储单元；以及修理条件适当化单元，根据所述修理信息判断^"理 条件或所述修理条件的选择的适当与否，在判断为不适当时，根据所 述修理信息和所述参考信息中的至少任意一方来进行所述修理条件 的数据或所述选择的适当化。另外，根据本专利技术的另一个方式，提供一种产品的修理支持系统， 支持根据规定的检查基准进行检查的结果为不合格的产品的修理，其 特征在于，具有将针对被修理的所述产品的检查的结果作为与零部 件相关的修理信息按每个零部件存储的修理信息存储单元；存储与所 述产品相关的参考信息的参考信息存储单元；以及修理条件适当化单 元，根据所述与零部件相关的修理信息判断修理条件或所述修理条件 的选择的适当与否，在判断为不适当时，根据所述与零部件相关的修 理信息和所述参考信息中的至少任意一方来进行所述修理条件的数 据或所述选择的适当化。另外，根据本专利技术的另一个方式，提供一种产品的制造系统，进 行物品的装配，在所述装配后根据规定的检查基准进行检查，并能够 进行在所述检查中不合格的产品的修理，其特征在于，具有上述的 产品的修理支持系统；以及进行通过所述产品的所述检查不合格的部 分的除去的除去单元。另外，根据本专利技术的另一个方式，提供一种产品的制造方法，进 行物品的装配，在所述装配后根据规定的检查基准进行检查，并能够 进行在所述检查中不合格的产品的修理，其特征在于，对进行了所述 修理的所述产品进行所述检查，并将其结果作为修理信息进行存储； 根据所述修理信息来判断修理条件或所述修理条件的选择的适当与 否，在判断为不适当时，根据所述修理信息和与所述产品相关的参考 信息中的至少任意一方来进行所述修理条件的数据或所述选择的适当化；择，进行所述产品的修理。另外，根据本专利技术的另一个方式，提供一种产品的制造方法，进 行物品的装配，在所述装配后根据规定的检查基准进行检查，并能够 进行在所述检查中不合格的产品的修理，其特征在于，对进行了所述 修理的所述产品进行所述检查，并将其结果作为与零部件相关的修理 信息按每个零部件进行存储；根据所述与零部件相关的修理信息判断 修理条件或所述修理条件的选择的适当与否，在判断为不适当时，根 据所述与零部件相关的修理信息和与所述产品相关的参考信息中的 至少任意一方来进行所述修理条件的数据或所述选择的适当化；根据 所述适当化后的所述修理条件的数据或所述修理条件的选择，进行所 述产品的修理。附图说明图1是用于说明本专利技术的实施方式的产品的修理支持系统的概 略构成的框图。图2是用于说明制造系统的概略构成的框图。图3:图3(a)是用于说明修理条件的适当与否的判断方法的模 式图，图3 (b)是示出第(N + l)次检查中的检查结果的模式图。图4:图4U)是用于说明提高修理条件的适当与否判断的精度 的方法的模式图，其中，将第(N + l)次检查中的不合格内容的明细 用此时的错误代码进行分析。图4(b)将第(N+l)次检查中的不 合格内容用第N次修理内容的代码进行分析。图5:图5(a)是用于说明修理条件的适当与否的其它判断方法 的模式图，图5 (b)是示出第(N + l)次检查中的检查结果的模式 图。图6:图6(a)是用于说明提高修理条件的适当与否判断的精度 的方法的模式图，其中，将第(N+l)次检查中的不合格内容的明细 用此时的错误代码进行分析。图6 (b)将第(N + l)次检查中的不合格内容用第N次修理内容的代码进行分析。图7是用于说明具有零部件修理信息抽出单元的产品的修理支 持系统的概略构成的框图。图8是用于说明修理信息等的抽出和编辑的模式图。具体实施方式下面， 一边参考附图， 一边说明本专利技术的实施方式。 图1是用于说明本专利技术的实施方式的产品的修理支持系统的概 略构成的框图。如图l所示，修理支持系统l中设置了参考信息存储单元2、修 理信息存储单元3、以及修理条件适当化单元4。修理条件适当化单元4根据来自后述的修理信息存储单元3的修 理信息来判断修理条件或其选择的适当与否，在判断为不适当时，根 据修理信息和后述的参考信息，来进行修理条件的数据或修理条件的 选择的适当化。参考信息存储单元2与修理条件适当化单元4相连接，并将参考 信息的数据提供到修理条件适当化单元4。作为参考信息，例如可以 例举出构成产品的零部件或装置等的数据(例如，到货检查时或制造 商的检查数据、制造商名、批号、制造时期、制造规格等)、类似零 部件或类似装置等的修理履历等。另外，修理信息存储单元3也与修理条件适当化单元4相连接， 并将修理信息的数据提供到修理条件适当化单元4。作为修理信息， 例如可以例举出对象产品的修理履历数据(例如，本次修理的部位或 修理方法、过去修理的部位或修理方法等)、对象产品的检查履历数 据等。接着，说明具有修理支持系统l的制造系统IOO。 另外，为了便于说明，对装配包含多个零部件或装置等的产品的 情况进行说明。图2是用于说明制造系统100的概略构成的框图。另外，图中的实线箭头表示数据的流，虚线箭头表示零部件等的 流或用于分解、除去的动作。产品的制造系统100具有制造线110、除去线120、除去单元105、 修理条件存储单元130、修理条件选择单元140、修理支持系统l。制 造线110具有第1装配检查工序101、第2装配检查工序102、第3 装配检查工序103、产品检查工序104。在第1装配检查工序101中， 将零部件A装配到零部件B上，并进行其检查II。第2装配检查工 序102中，将零部件C装配到包括零部件A和零部件B的装置D上， 并进行其检查12。第3装配检查工序103中，将零部件E装配到包括 装置D和零部件C的装置F上，并进行其检查I3。在产品检查工序 104中，对包括装置F和零部件E的产品进行各种检查14-16。在产 品检查工序104的检查16中合格的产品作为检查合格品而出货本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种产品的修理支持系统，支持根据规定的检查基准进行检查的结果为不合格的产品的修理，其特征在于，具有：　　　　将针对被修理的所述产品的所述检查的结果作为修理信息存储的修理信息存储单元；　　　　存储与所述产品相关的参考信息的参考信息存储单元；以及　　　　修理条件适当化单元，根据所述修理信息判断修理条件或所述修理条件的选择的适当与否，在判断为不适当时，根据所述修理信息和所述参考信息中的至少任意一方来进行所述修理条件的数据或所述选择的适当化。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：曾我朗，
申请(专利权)人：株式会社东芝，
类型：发明
国别省市：JP[日本]