【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种耐压试验装置。
技术介绍
1、以往，例如日本技术公开公报实开昭48-084275号公开，已知一种耐压试验装置，其用于对电气制品、电气零件、半导体零件等，确认对使用电压是否具有足够的绝缘耐力、即是否绝缘击穿，或测量绝缘电阻。耐压试验装置具有产生高电压(例如1kv以上的高电压)的电源部以及将电源部和试验体互相连接的布线，并且能够对试验体施加高电压。
2、在耐压试验装置中，连接于试验体的布线等导电体被施加高电压，因此，导电体的保护件(绝缘体)有可能劣化。如果布线等导电体的保护件(绝缘体)发生绝缘劣化，则会影响耐压试验的测量值，因此，期望能够检测出绝缘体的劣化。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供能够检测出设置在向试验体施加高电压的导电体上的绝缘体的劣化的耐压试验装置。
2、本专利技术一个方面涉及的耐压试验装置包括：导电体，将电源部和试验体互相电气连接，能够使所述电源部向所述试验体施加电压；绝缘部，由绝缘体形成，并且以覆盖所述导电体的方式被配置；屏蔽件，以覆盖所述绝缘部的至少一部分的方式被配置；以及电流监视部，监视所述屏蔽件中的电流。
3、根据本专利技术，能够检测出设置在向试验体施加高电压的导电体上的绝缘体的劣化。
【技术保护点】
1.一种耐压试验装置，其特征在于包括：
2.根据权利要求1所述的耐压试验装置，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的耐压试验装置，其特征在于还包括：
4.根据权利要求1所述的耐压试验装置，其特征在于，
5.根据权利要求1所述的耐压试验装置，其特征在于还包括：
【技术特征摘要】
1.一种耐压试验装置，其特征在于包括：
2.根据权利要求1所述的耐压试验装置，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的耐压试验装置，...
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